三维地质建模方法技术

本申请涉及三维建模技术领域，公开了一种三维地质建模方法

【技术实现步骤摘要】
三维地质建模方法、模型渲染方法、设备及存储介质


[0001]本申请涉及三维建模
，特别涉及一种三维地质建模方法
、
模型渲染方法
、
设备及存储介质
。

技术介绍

[0002]当前，通过建立地质模型直观清晰地了解地下布局对于矿山勘探等领域具有重要作用，然而，目前通常使用的二维平面地质模型存在表达抽象的问题，并且通过不同勘探手段获取的不同地点的数据是相互独立的，二维平面地质建模技术无法将这些相互独立的数据有效融合，导致构建出的地质模型的精准度较低，无法满足矿山勘探的需求
。
[0003]目前，随着三维建模技术的发展，如何利用三维建模技术构建出更加真实立体的三维地质模型是当前矿产行业急需解决的问题
。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本申请提供一种三维地质建模方法
、
模型渲染方法
、
设备及存储介质
。
[0005]第一方面，本申请提供一种三维地质建模方法，应用于电子设备，方法包括：获取地层采样点数据，其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种三维地质建模方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：获取地层采样点数据，所述地层包括断层结构和非断层结构；基于所述地层采样点数据，确定所述断层结构在所述地层的底板和顶板上的第一特征点和所述非断层结构的第二特征点；基于所述第一特征点和所述第二特征点，确定所述地层的特征点；基于所述地层的特征点，构建所述地层的三维地质模型
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述地层采样点数据，确定所述断层结构在所述地层的底板和顶板上的第一特征点和所述非断层结构的第二特征点，包括：基于所述断层结构的采样点数据，获取所述断层结构在所述地层的底板和顶板上的上盘线特征点和下盘线特征点；基于所述地层采样点数据，获取所述非断层结构的底板特征点和顶板特征点
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述断层结构的采样点数据，获取所述断层结构在所述地层的底板和顶板上的上盘线特征点和下盘线特征点，包括：获取所述断层结构的断层走向线的特征点数据；基于所述断层走向线的特征点数据，获取所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点的坐标相对于所述断层走向线的特征点坐标的第一改变值，以及所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点的坐标相对于所述断层走向线的特征点坐标的第二改变值；基于所述断层走向线的特征点数据和所述第一改变值，获取所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点数据；基于所述断层走向线的特征点数据和所述第二改变值，获取所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点数据；基于所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点数据和所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点数据，获取所述断层结构在所述地层的顶板的上盘线特征点数据和所述断层结构在所述地层的顶板的下盘线特征点数据
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点数据和所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点数据，获取所述断层结构在所述地层的顶板的上盘线特征点数据和所述断层结构在所述地层的顶板的下盘线特征点数据，包括：获取地层厚度采样点数据，所述地层厚度采样点数据为所述地层的底板采样点与所述地层的顶板之间的距离；基于所述地层厚度采样点数据和所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点数据，获取所述断层结构在所述地层的顶板的上盘线特征点的坐标相对于所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点坐标的第三改变值；基于所述地层厚度采样点数据和所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点数据，获取所述断层结构在所述地层的顶板的下盘线特征点的坐标相对于所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点坐标的第四改变值；基于所述断层结构在所述地层的底板的上盘线特征点数据和所述第三改变值，获取所述断层结构在所述地层的顶板的上盘线特征点数据；
基于所述断层结构在所述地层的底板的下盘线特征点数据和所述第四改变值，获取所述断层结构在所述地层的顶板的下盘线特征点数据
。5.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述断层结构的断层走向线的特征点数据，包括：将所述断层走向线的均匀间隔采样点作为所述断层走向线的特征点数据
。6.
根据权利要求3‑5中任一项所述的方法，其特征在于，所述断层走向线的特征点数据包括特征点坐标，以及断距
、
倾角
、
倾向中的一种或多种断层属性数据
。7.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述地层采样点数据，获取所述非断层结构的底板特征点和顶板特征点，包括：获取所述地层的底板采样点数据和所述断层结构的断层走向线；若所述地层的底板采样点数据与所述断层走向线具有不同的区域特征，则确定所述地层的底板采样点数据为所述非断层结构的底板采样点数据；基于所述非断层结构的底板采样点数据特征，生成所述非断层结构的底板特征点；基于所述非断层结构的底板特征点，获取所述非断层结构的顶板特征点
。8.
根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于所述非断层结构的底板特征点，获取所述非断层结构的顶板特征点，包括：获取地层厚度采样点数据，所述地层厚度采样点数据为所述地层的底板采样点与所述地层的顶板之间的距离；基于所述地层厚度采样点数据，获取所述非断层结构的底板特征点的地层厚度；基于所述非断层结构的底板特征点的坐标和所述非断层结构的底板特征点的地层厚度，获取所述非断层结构的顶板特征点
。9.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征点和所述第二特征点，确定所述地层的特征点，包括：基于所述断层结构在所述地层的底板上的特征点和所述非断层结构的底板特征点，获取所述地层的底板特征点；基于所述断层结构在所述地层的顶板上的特征点和所述非断层结构的顶板特征点，获取所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张倩宁，李飞，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：