一种电子控制模块发火性能测试方法技术

本发明专利技术提供了一种电子控制模块发火性能测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种电子控制模块发火性能测试方法、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及电子雷管
，具体为一种电子控制模块发火性能测试方法
、
设备和存储介质
。

技术介绍

[0002]随着工程爆破技术的发展，爆破工程要求越来越高，电子雷管在爆破过程中的应用也越来越普遍，电子雷管主要由电子控制模块
、
点火药
、
基础雷管及脚线组成，其中电子控制模块作为雷管关键元器件，对雷管的发火可靠性影响至关重要，尤其发火电阻的发火性能，会影响点火药的点火可靠性
。
然而目前文献资料上只有电雷管桥丝相关发火温度研究，对于电子雷管上发火电阻发火性能的测试方法研究较少，且只能依靠在客户端做带药实验才可获得可靠性适配结果，也就是说电子雷管的新型发火电阻
、
新型发火电容等关键发火元器件过于依赖在客户端做药剂匹配试验来验证产品适配性，会存在验证周期长
、
效率低
、
投入成本高
、
客户反感等问题
。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供了一种电子控制模块发火性能测试方法
、
设备和存储介质，其可有效评估电子控制模块与引火药适配情况，无需到客户端做带药适配实验，既高效又安全
。
[0004]本专利技术采用如下技术方案，一种电子控制模块发火性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
[0005]步骤一
、
选定具备模拟不同电容值
、
不同电压值的发火测试盒，通过发火测试盒对发火元件进行不同发火电压调节；
[0006]步骤二
、
通过红外测温仪进行测温，获得相应发火电压下发火元件的发火温度；
[0007]步骤三
、
判定发火温度是否满足引火药剂的发火温度点或最大不发火温度点，若是，进行步骤四，若否，则返回所述步骤一；
[0008]步骤四
、
判定发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压是否满足设定阈值，若是，进行步骤五，若否，则返回所述步骤一；
[0009]步骤五
、
对发火元件进行放电，获取发火性能参数；
[0010]步骤六
、
基于步骤五中获得的发火性能参数，判定发火性能参数是否都符合技术阈值，若是，则判定发火元件与引火药剂适配，否则不适配
。
[0011]进一步地，若发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压满足设定阈值时，还包括以下步骤：
[0012]S4.1、
选取若干不同发火电压，在对应发火电压下分别测取发火温度；
[0013]S4.2、
若每个发火电压下测取的温度平均值均满足设定阈值，则进行所述步骤五，若不满足设定阈值，则判定发火元件与引火药剂不适配；
[0014]进一步地，在所述步骤五中，获取的发火性能参数包括发火元件发火瞬间桥丝火
花喷射速度
、
桥丝质量
、
发火高度
、
发火温度持续时间；
[0015]并根据公式获得发火元件的发火冲量
I
，
[0016]其中，
m
为桥丝质量，
V
D
为桥丝喷射速度；
[0017]进一步地，所述发火测试盒为箱体结构，所述发火测试盒内包括相连接的供电电池和主控板，所述主控板上布置有用于发火电压调节的调压模块
、
用于对发火元件进行充放电的发火电路模块；
[0018]进一步地，所述步骤三中，若发火温度满足引火药剂的发火温度点，则该发火温度下的电压就是发火元件搭配引火药剂的最小发火电压；如果该发火温度满足引火药剂的最大不发火温度点，则该发火温度下的电压就是发火元件搭配引火药剂的最大不发火电压
。
[0019]本专利技术还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤
。
[0020]本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤
。
[0021]本专利技术的有益效果是，其通过可模拟不同电容值
、
不同电压值的发火测试盒，可输出不同发火电压，其次，通过判定红外测温仪测得的温度是否满足引火药剂的发火温度点或最大不发火温度点，以确定发火元件搭配引火药剂的可靠发火电压和安全电压，接着根据发火元件发火瞬间获得的发火参数，可判定该种电子控制模块是否适配客户端引火药剂，从而可实现对电子雷管的电子控制模块发火原件发火性能做有效评估测试，无需到客户端做带药适配实验，既高效又安全，具有较好的经济使用价值
。
附图说明
[0022]图1是本专利技术的流程示意图；
[0023]图2是本专利技术中发火测试盒内部连接示意图
。
具体实施方式
[0024]如图
1、
图2所示，本专利技术一种电子控制模块发火性能测试方法，包括以下步骤：
[0025]步骤一
、
选定具备模拟不同电容值
、
不同电压值的发火测试盒，通过发火测试盒对发火元件进行不同发火电压调节；该发火元件为发火电容和发火电阻的组合元件，测试时，发火测试盒对组合元件进行发火电压调节；
[0026]步骤二
、
通过红外测温仪进行测温，获得相应发火电压下发火元件的发火温度；
[0027]步骤三
、
判定发火温度是否满足引火药剂的发火温度点或最大不发火温度点，若是，也就是说若发火温度满足引火药剂的发火温度点，则该发火温度下的电压就是发火元件搭配引火药剂的最小可靠发火电压；如果发火温度满足引火药剂的最大不发火温度点，则该发火温度下的电压就是发火元件搭配引火药剂的最大不发火电压
(
也就是安全电压
)
，进行步骤四，若否，即发火温度不满足引火药剂的发火温度点或最大不发火温度点，则返回所述步骤一，重新调节发火电压，通过增加或减小发火电压，直至找出引火药剂最小可靠发火和最大不发火温度点对应的电压；
[0028]其中，发火电压是指要求可靠最小发火电压，安全电压是指要求可靠最大不发火
电压；
[0029]步骤四
、
判定发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压是否满足设定阈值，若是，进行步骤五，若否，则返回所述步骤一；
[0030]进一步地，若发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压满足设定阈值时，还包括以下步骤：
[0031]S4.1、
选取若干不同发火电压，在对应发火电压下分别测取发火温度；
[0032]S4.2、
若每个发火电压下测取的温度平均值均满足设定阈值，则进行所述步骤五，若不满足本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电子控制模块发火性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一
、
选定具备模拟不同电容值
、
不同电压值的发火测试盒，通过发火测试盒对发火元件进行不同发火电压调节；步骤二
、
通过红外测温仪进行测温，获得相应发火电压下发火元件的发火温度；步骤三
、
判定发火温度是否满足引火药剂的发火温度点或最大不发火温度点，若是，进行步骤四，若否，则返回所述步骤一；步骤四
、
判定发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压是否满足设定阈值，若是，进行步骤五，若否，则返回所述步骤一；步骤五
、
对发火元件进行放电，获取发火性能参数；步骤六
、
基于步骤五中获得的发火性能参数，判定发火性能参数是否都符合技术阈值，若是，则判定发火元件与引火药剂适配，否则不适配
。2.
根据权利要求1所述的一种电子控制模块发火性能测试方法，其特征在于，若发火温度下的最小发火电压和最大不发火电压满足设定阈值时，还包括以下步骤：
S4.1、
选取若干不同发火电压，在对应发火电压下分别测取发火温度；
S4.2、
若每个发火电压下测取的温度平均值均满足设定阈值，则进行所述步骤五，若不满足设定阈值，则判定发火元件与引火药剂不适配
。3.
根据权利要求1所述的一种电子控制模块发火性能测试方法，其特征在于，在所述步骤五中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘艳红，孙翼，方则盛，卢少宝，
申请(专利权)人：无锡盛景微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：