一种散热调控策略的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种散热调控策略的测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种散热调控策略的测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及调控策略测试领域，特别是涉及一种散热调控策略的测试方法，本专利技术还涉及一种散热调控策略的测试装置
、
设备及计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]为了防止高温影响相关设备的工作效率以及设备安全，很多设备中都设置了散热装置，并且为了兼顾能源消耗量与散热效果，需要设计可靠的散热调控策略，以便根据温度传感器采集的温度值对散热装置的运行参数进行调控，在设备研发阶段，需要对散热调控策略进行测试，然而相关技术中缺少一种成熟的散热调控策略的测试方法，通常需要较高的测试成本，而且测试效率较差
。
[0003]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种散热调控策略的测试方法，本专利技术通过预先设置温度模拟策略，便可以快速调节散热调控策略的输入，并实现对于散热调控策略的测试，测试成本较低且测试效率较高；本专利技术的另一目的是提供一种散热调控策略的测试装置
、
设备及计算机可读存储介质，本专利技术通过预先设置温度模拟策略，便可以快速调节散热调控策略的输入，并实现对于散热调控策略的测试，测试成本较低且测试效率较高
。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种散热调控策略的测试方法，包括：
[0006]禁用目标设备中的目标温度传感器，并确定所述目标温度传感器对应的预设温度模拟策略；
[0007]根据所述预设温度模拟策略依次得到多个模拟温度值；
[0008]将所述模拟温度值依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控；
[0009]实时获取所述散热装置的运行参数，以便根据所述模拟温度值及其对应的所述运行参数，对所述散热调控策略进行测试
。
[0010]另一方面，所述预设温度模拟策略包括：
[0011]所述模拟温度值的初始值
、
所述模拟温度值的温度范围以及温度变化模式；
[0012]其中，所述温度变化模式包括线性模式
、
阶梯模式以及随机模式中的至少一种；基于所述线性模式生成的模拟温度值呈线性关系，基于所述阶梯模式生成的模拟温度值呈阶梯关系，基于所述随机模式生成的模拟温度值具备随机性
。
[0013]另一方面，所述温度变化模式还包括温度失效模式；
[0014]所述温度失效模式下得到的所述模拟温度值始终为预设失效值
。
[0015]另一方面，所述预设温度模拟策略还包括噪声预设值；
[0016]所述将所述模拟温度值依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设
备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控包括：
[0017]将所述模拟温度值叠加所述噪声预设值后，依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控
。
[0018]另一方面，所述线性模式下的所述模拟温度值的生成关系式为：
[0019]T
＝
K*t+init val
；
[0020]其中，
T
为所述模拟温度值，
K
为预设斜率
、t
为时间
、init val
为所述模拟温度值的初始值；
[0021]所述阶梯模式下的所述模拟温度值的生成关系式为：
[0022]T
＝
if(Ti*(n
－
1)≤t≤Ti*n,S*n+init val)
；
[0023]其中，
Ti
为变化周期
、n
为阶梯阶级
、S
为梯度值
、if()
为条件函数；
[0024]所述随机模式下的所述模拟温度值的生成关系式为：
[0025]T
＝
init val
±
random
；
[0026]其中，
random
为随机函数
。
[0027]另一方面，所述实时获取所述散热装置的运行参数之后，该散热调控策略的测试方法还包括：
[0028]将所述模拟温度值及其对应的所述运行参数进行推送，以便根据所述模拟温度值及其对应的所述运行参数，对所述散热调控策略进行测试
。
[0029]另一方面，所述禁用目标设备中的目标温度传感器，并确定所述目标温度传感器对应的预设温度模拟策略包括：
[0030]响应于进入测试模式的指令，禁用目标设备中的目标温度传感器；
[0031]从接收到的测试用例中，确定所述目标温度传感器对应的预设温度模拟策略；
[0032]该散热调控策略的测试方法还包括：
[0033]响应于退出测试模式的指令，启用所述目标设备中的目标温度传感器
。
[0034]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种散热调控策略的测试装置，包括：
[0035]预备模块，用于禁用目标设备中的目标温度传感器，并确定所述目标温度传感器对应的预设温度模拟策略；
[0036]生成模块，用于根据所述预设温度模拟策略依次得到多个模拟温度值；
[0037]赋值模块，用于将所述模拟温度值依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控；
[0038]获取模块，用于实时获取所述散热装置的运行参数，以便根据所述模拟温度值及其对应的所述运行参数，对所述散热调控策略进行测试
。
[0039]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种散热调控策略的测试设备，包括：
[0040]存储器，用于存储计算机程序；
[0041]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述散热调控策略的测试方法的步骤
。
[0042]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可
读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述散热调控策略的测试方法的步骤
。
[0043]有益效果：本专利技术提供了一种散热调控策略的测试方法，考虑到直接替换温度传感器的输出值便相当于快速调节了散热调控策略的输入，因此本专利技术中可以在测试时禁用设备中的目标温度传感器，然后根据目标温度传感器对应的预设温度模拟策略依次得到多个模拟温度值，并将模拟温度值依次作为目标温度传感器的输出值，即可快速调节散热调控策略的输入，再通过实时对散热装置的运行参数的获取，便可以根据模拟温度值及其对应的运行参数，对散热调控策略展开测试，本专利技术通过预本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种散热调控策略的测试方法，其特征在于，包括：禁用目标设备中的目标温度传感器，并确定所述目标温度传感器对应的预设温度模拟策略；根据所述预设温度模拟策略依次得到多个模拟温度值；将所述模拟温度值依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控；实时获取所述散热装置的运行参数，以便根据所述模拟温度值及其对应的所述运行参数，对所述散热调控策略进行测试
。2.
根据权利要求1所述的散热调控策略的测试方法，其特征在于，所述预设温度模拟策略包括：所述模拟温度值的初始值
、
所述模拟温度值的温度范围以及温度变化模式；其中，所述温度变化模式包括线性模式
、
阶梯模式以及随机模式中的至少一种；基于所述线性模式生成的模拟温度值呈线性关系，基于所述阶梯模式生成的模拟温度值呈阶梯关系，基于所述随机模式生成的模拟温度值具备随机性
。3.
根据权利要求2所述的散热调控策略的测试方法，其特征在于，所述温度变化模式还包括温度失效模式；所述温度失效模式下得到的所述模拟温度值始终为预设失效值
。4.
根据权利要求3所述的散热调控策略的测试方法，其特征在于，所述预设温度模拟策略还包括噪声预设值；所述将所述模拟温度值依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控包括：将所述模拟温度值叠加所述噪声预设值后，依次作为所述目标温度传感器的输出值，以便所述目标设备中散热装置的散热调控策略基于所述模拟温度值对所述散热装置的运行参数进行调控
。5.
根据权利要求2所述的散热调控策略的测试方法，其特征在于，所述线性模式下的所述模拟温度值的生成关系式为：
T
＝
K*t+init val
；其中，
T
为所述模拟温度值，
K
为预设斜率
、t
为时间
、init val
为所述模拟温度值的初始值；所述阶梯模式下的所述模拟温度值的生成关系式为：
T
＝
if(Ti*(n
－
1)≤t≤Ti*n,...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亚洲，陈翔，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：