采样点位置的仿真方法技术

本申请提供一种采样点位置的仿真方法

【技术实现步骤摘要】
采样点位置的仿真方法、装置及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及数据处理领域，尤其涉及采样点位置的仿真方法
、
装置及计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]在一些仿真应用中，需要在椭圆区域内仿真多个采样点，现有的方法是获取椭圆区域内当前采样点的数量；在当前采样点的数量小于预设采样点数量的情况下，在包括椭圆区域的规则区域内生成候选采样点；候选采样点的数量为预设采样点数量与当前采样点的数量之差；重复执行上述步骤，直至当前采样点的数量与预设采样点数量相同
。
[0003]图1为本申请提供的一种现有的仿真采样点的仿真结果示意图，如图1所示，该方案经过多次迭代，能够得到图1所示的仿真结果
(
为便于显示，图1所示的采样点的数量较少
)。
然而，通常情况下，由于预设采样点的数量级一般在千万级别左右，因而方案需要迭代的次数较多，仿真采样点时所需的时间长，导致仿真采样点的效率较低
。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种采样点位置的仿真方法
、
装置及计算机可读存储介质，能够减少仿真采样点时所需的时间，提高仿真采样点的效率
。
[0005]为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：
[0006]第一方面，提供了一种采样点位置的仿真方法，该方法可以由采样点位置的仿真装置执行，该方法包括：获取多个第一采样点的数量，其中，多个第一采样点为需要在预设椭圆内仿真生成的采样点；生成多个仿真参数；多个仿真参数的数量与多个第一采样点的数量相同，每个仿真参数包括随机仿真系数和随机仿真角度；随机仿真系数为大于0且小于预设椭圆半焦距的长度值的系数；根据每个仿真参数，以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的位置，得到多个第一采样点的位置；基于多个第一采样点的位置，在预设椭圆内进行仿真，得到预设椭圆内采样点的数据
。
[0007]为便于描述，后续将采样点位置的仿真方法简称为仿真方法，采样点位置的仿真装置简称为仿真装置，在此统一说明，后续不再赘述
。
[0008]基于该方案，通过根据多个仿真参数中的每个仿真参数，以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的位置，得到多个第一采样点的位置，以便在预设椭圆内进行仿真
。
由于生成的多个仿真参数的数量与多个第一采样点的数量相同，因而进行一次处理流程就能确定多个第一采样点的位置，进而进行仿真，相较于现有技术，无需进行多次迭代，减少了仿真采样点时所需的时间，提高了仿真采样点的效率
。
[0009]结合第一方面，在第一方面的某些实施方式中，第一采样点的位置包括横坐标和纵坐标，第一采样点的横坐标为第一采样点在二维坐标系中与二维坐标系的
x
轴对应的坐标，第一采样点的纵坐标为第一采样点在二维坐标系中与二维坐标系的
y
轴对应的坐标，二维坐标系的原点为预设椭圆的中心，二维坐标系的
x
轴对应于长半轴，二维坐标系的
y
轴对
应于短半轴；根据每个仿真参数，以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的位置，得到多个第一采样点的位置，包括：基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的横坐标；第一仿真参数为多个仿真参数中的任意一个；基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的纵坐标
。
[0010]基于该方案，在第一采样点的位置包括横坐标和纵坐标的情况下，能够基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的横坐标，以及基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的纵坐标
。
[0011]结合第一方面，在第一方面的某些实施方式中，基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的横坐标，包括：确定第一仿真参数的随机仿真系数与预设椭圆的离心率的比值为第一值；基于第一值与第一仿真参数的随机仿真角度，确定第一采样点的横坐标
。
[0012]基于该方案，能够基于第一仿真参数的随机仿真系数
、
预设椭圆的离心率以及第一仿真参数的随机仿真角度，确定第一采样点的横坐标
。
[0013]结合第一方面，在第一方面的某些实施方式中，第一采样点的横坐标满足公式一：
[0014]X
＝
M
×
cos
α
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
公式一
[0015]其中，
α
为第一仿真参数的随机仿真角度，
M
为第一乘积，
X
为第一采样点的横坐标
。
[0016]基于该方案，提供了一种具体确定第一采样点的横坐标的方案
。
[0017]结合第一方面，在第一方面的某些实施方式中，基于第一仿真参数以及预设椭圆的离心率，确定第一采样点的纵坐标，包括：基于第一仿真参数的随机仿真系数和预设椭圆的离心率确定第二值，第二值满足公式二：
[0018][0019]其中，
N
为第二值，
F
为第一仿真参数的随机仿真系数，
e
为预设椭圆的离心率；基于第二值与第一仿真参数的随机仿真角度，确定第一采样点的纵坐标
。
[0020]基于该方案，能够基于第一仿真参数的随机仿真系数
、
预设椭圆的离心率以及第一仿真参数的随机仿真角度，确定第一采样点的纵坐标
。
[0021]结合第一方面，在第一方面的某些实施方式中，第一采样点的纵坐标满足公式三：
[0022]Y
＝
N*sin
α
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
公式三
[0023]其中，
α
为第一仿真参数的随机仿真角度，
N
为第二值，
Y
第一采样点的纵坐标
。
[0024]基于该方案，提供了一种具体确定第一采样点的纵坐标的方案
。
[0025]第二方面，提供了一种仿真装置用于实现上述第一方面的仿真方法
。
该仿真装置包括实现上述方法相应的模块
、
单元
、
或手段
(means)
，该模块
、
单元
、
或
means
可以通过硬件实现，软件实现，或者通过硬件执行相应的软件实现
。
该硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块或单元
。
[0026]结合第二方面，在第二方面的某些实施方式中，仿真装置包括：获取模块和处理模块；获取模块，用于获取多个第一采样点的数量，其中，多个第一采样点为需要在预设椭圆内仿真生成的采样点；处理模块，用于生成多个仿真参数；多个仿真参数的数量与多个第一采样点的数量相同，每个仿真参数包括随机仿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种采样点位置的仿真方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个第一采样点的数量，其中，所述多个第一采样点为需要在预设椭圆内仿真生成的采样点；生成多个仿真参数；所述多个仿真参数的数量与所述多个第一采样点的数量相同，每个仿真参数包括随机仿真系数和随机仿真角度；所述随机仿真系数为大于0且小于所述预设椭圆半焦距的长度值的系数；根据所述每个仿真参数，以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的位置，得到所述多个第一采样点的位置；基于所述多个第一采样点的位置，在所述预设椭圆内进行仿真，得到所述预设椭圆内采样点的数据
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一采样点的位置包括横坐标和纵坐标，所述第一采样点的横坐标为所述第一采样点在二维坐标系中与所述二维坐标系的
x
轴对应的坐标，所述第一采样点的纵坐标为所述第一采样点在所述二维坐标系中与所述二维坐标系的
y
轴对应的坐标，所述二维坐标系的原点为所述预设椭圆的中心，所述二维坐标系的
x
轴对应于长半轴，所述二维坐标系的
y
轴对应于短半轴；所述根据所述每个仿真参数，以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的位置，得到所述多个第一采样点的位置，包括：基于第一仿真参数以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的横坐标；所述第一仿真参数为所述多个仿真参数中的任意一个；基于所述第一仿真参数以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的纵坐标
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一仿真参数以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的横坐标，包括：确定所述第一仿真参数的所述随机仿真系数与所述预设椭圆的离心率的比值为第一值；基于所述第一值与所述第一仿真参数的所述随机仿真角度，确定所述第一采样点的横坐标
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一采样点的横坐标满足公式一：
X
＝
M
×
cos
α
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
公式一其中，
α
为所述第一仿真参数的所述随机仿真角度，
M
为所述第一值，
X
为所述第一采样点的横坐标
。5.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一仿真参数以及所述预设椭圆的离心率，确定所述第一采样点的纵坐标，包括：基于所述第一仿真参数的所述随机仿真系数和所述预设椭圆的离心率确定第二值，所述第二值满足公式二：其中，
N
为所述第二值，
F
为所述第一仿真参数的所述随机仿真系数，
e
为所述预设椭圆的离心率；基于所述第二值与所述第一仿真参数的所述随机仿真角度，确定所述第一采样点的纵
坐标
。6.
根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一采样点的纵坐标满足公式三：
Y
＝
N*sin
α
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
公式三其中，
α
为所述第一仿真参数的所述随机仿真角度，
N
为所述第二值，
Y
第一采样点的纵坐标
。7.
一种采样点位置的仿真装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块和处理模块；所述获取模块，用于获取多个第一采样点的数量，其中，所述多个第一采样点为需要在预设椭圆内仿真生成的采样点；所述处理模块，用于生成多个仿真参数；所述多个仿真参数的数量与所述多个第一采样点的数量相同，每个仿真参数包括随机仿真系...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘吉凤，周瑶，
申请(专利权)人：中国联合网络通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：