检查用连接器制造技术

本发明专利技术的目的在于提供能够适当地与连接器连接的检查用连接器。支承部件具有朝向上方的第一对位平面。探测器从支承部件向下方突出。凸缘将支承部件支承为支承部件向上下方向以及正交方向移动。滑动部件被凸缘支承为能够相对于凸缘向上下方向移动，且具有朝向下方的第二对位平面。在支承部件位于支承部件相对于凸缘的可动范围的下端时，第一对位平面经由缝隙与第二对位平面相对。在第一对位平面与第二对位平面接触时，探测器向上下方向延伸。探测器向上下方向延伸。探测器向上下方向延伸。

【技术实现步骤摘要】
检查用连接器


[0001]本专利技术涉及用于高频信号的测定的检查用连接器。

技术介绍

[0002]作为以往的检查用连接器相关的专利技术，例如已知有专利文献1所记载的检查用探测器装置。这样的检查用探测器装置从连接器的正上方与连接器连接。
[0003]专利文献1：国际公开第2022/014435号公报
[0004]然而，专利文献1所记载的检查用探测器装置有从自连接器的正上方向前后方向或者左右方向稍微偏移的位置与连接器连接的情况。在这样的情况下，有检查用探测器不能够与连接器适当地连接的可能性。

技术实现思路

[0005]因此，本专利技术的目的在于提供能够适当地与连接器连接的检查用连接器。
[0006]本专利技术的一方式的检查用连接器具备：
[0007]支承部件，具有朝向上方的第一对位平面；
[0008]探测器，被上述支承部件支承，并且从上述支承部件向下方突出；
[0009]凸缘，将上述支承部件支承为上述支承部件向上下方向以及与上下方向正交的正交方向移动；
[0010]第一斥力产生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查用连接器，其中，具备：支承部件，具有朝向上方的第一对位平面；探测器，被上述支承部件支承，并且从上述支承部件向下方突出；凸缘，将上述支承部件支承为上述支承部件向上下方向以及与上下方向正交的正交方向移动；第一斥力产生部件，与上述支承部件以及上述凸缘连结，并且向下方推压上述支承部件；滑动部件，位于上述支承部件之上，并且被上述凸缘支承为能够相对于上述凸缘向上下方向移动，且具有朝向下方的第二对位平面；以及第二斥力产生部件，与上述滑动部件以及上述凸缘连结，并且向下方推压上述滑动部件，在上述支承部件位于上述支承部件相对于上述凸缘的可动范围的下端时，上述第一对位平面经由缝隙与上述第二对位平面相对，在上述第一对位平面与上述第二对位平面接触时，上述探测器向上下方向延伸。2...

【专利技术属性】
技术研发人员：田中达也，若松弘己，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：