光学检测装置及其制备方法和电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种光学检测装置及其制备方法

【技术实现步骤摘要】
光学检测装置及其制备方法和电子设备


[0001]本专利技术涉及光学检测装置
，尤其涉及一种光学检测装置及其制备方法和电子设备
。

技术介绍

[0002]光学检测装置是一种通过光发射部发射光线，并在光发射部发射的光线遇到物体后反射至光接收部，从而通过对光线的分析而感知物体的距离
。
在相关技术中，为了避免光发射部的光线直接投射至光接收部，从需要在光发射部和光接收部之间设置挡光罩，由于挡光罩将光发射部和光接收部分开，使得光发射部和光接收部的设置相对分散而需要占用较大的空间，而且挡光罩也占用较大的空间，从而不利于光学检测装置小型化设计
。

技术实现思路

[0003]本专利技术公开一种光学检测装置及其制备方法
、
电子设备，以解决相关技术中的光学检测装置为了避免光发射部的光线直接投射至光接收部，采用挡光罩分隔光发射部和光接收部方式，而不利于光学检测装置小型化设计的问题
。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术是这样实现的：
[0005]第一方面，本申请公开一种光学检测装置，包括电路基板
、
光发射部
、
光接收部和光调节部；
[0006]所述光发射部包括第一基部和发光元件，所述光接收部包括第二基部和感光元件，所述第一基部设于所述电路基板，所述第二基部与所述电路基板间隔设置，所述发光元件设于所述第一基部的背离所述电路基板的一侧，所述感光元件设于所述第二基部朝向所述电路基板的一侧，所述第一基部和所述第二基部为阻光材料，用于阻拦所述发光元件发出的光线穿过到达所述感光元件；
[0007]所述光调节部设于所述电路基板，所述光调节部用于将所述发光元件投射至待测物后的反射光线传导至所述感光元件
。
[0008]第二方面，本申请还公开一种电子设备，包括第一方面所述的光学检测装置
。
[0009]第三方面，本申请还公开一种光学检测装置的制备方法，包括：
[0010]在电路基板上铺设第二反射件；
[0011]将光发射部设置于所述电路基板，其中，所述光发射部的第一基部设于所述电路基板，所述光发射部的发光元件设于所述第一基部的背离所述电路基板的一侧；
[0012]将所述光发射部与所述电路基板电连接；
[0013]将光接收部错位堆叠在所述光发射部，其中，所述光接收部的第二基部与所述电路基板间隔设置，所述第二基部与所述第一基部搭接，以使所述第一基部
、
所述第二基部和所述电路基板围成导光通道，所述导光通道的背离所述第一基部的一侧具有进光口；
[0014]将所述光接收部与所述电路基板电连接；
[0015]将所述光发射部
、
所述光接收部和所述光调节部均封装于透明封装部内；
[0016]设置第一反射件，其中，所述第一反射件位于所述进光口所在的一侧，所述第一反射件的反射面与所述进光口相对
、
且间隔设置
。
[0017]本专利技术采用的技术方案能够达到以下技术效果：
[0018]本申请实施例公开的光学检测装置通过将光发射部的用于承载发光元件的第一基部和将光接收部的用于承载感光元件的第二基部的材料设置为阻光材料，从而使得第一基部和第二基部具有阻光特性，进而通过对第一基部和第二基部的位置设置，使得发光元件设于第一基部的背离电路基板的一侧，感光元件设于第二基部朝向电路基板的一侧，且第一基部和第二基部可以阻拦发光元件发出的光线穿过第一基部和第二基部后到达感光元件，从而无需在光发射部和光接收部之间设置挡光罩，进而可以避免挡光罩对空间的占用，而且取消挡光罩后采用第一基部和第二基部进行挡光，还有利于光发射部和光接收部设置的更近，进而有利于光学检测装置的小型化设计
。
由于发光元件和感光元件的朝向不同，通过设置光调节部，从而使得光调节部可以将发光元件投射至待测物后的反射光线传导至感光元件，从而实现光学检测装置的检测功能
。
附图说明
[0019]图1为本专利技术实施例公开的光学检测装置结构示意图；
[0020]图2为本专利技术实施例公开的光学检测装置的光路示意图；
[0021]图3为本专利技术实施例公开的在电路基板设置第二反射件的示意图；
[0022]图4为本专利技术实施例公开的在电路基板设置光发射部的示意图；
[0023]图5为本专利技术实施例公开的光学检测装置设置光接收部
、
导电柱
、
金线的示意图；
[0024]图6为本专利技术实施例公开的光学检测装置通过透明封装部封装光发射部
、
光接收部和第二反射件的示意图；
[0025]图7为本专利技术实施例公开的一种制备光学检测装置的流程图
。
[0026]附图标记说明：
[0027]100
‑
电路基板
、
[0028]200
‑
光发射部
、210
‑
第一基部
、220
‑
发光元件
、
[0029]300
‑
光接收部
、310
‑
第二基部
、320
‑
感光元件
、
[0030]400
‑
光调节部
、410
‑
第一反射件
、420
‑
第二反射件
、
[0031]510
‑
导光通道
、501
‑
进光口
、
[0032]600
‑
透明封装部
、
[0033]710
‑
第一配光件
、720
‑
第二配光件
、
[0034]810
‑
金线
、820
‑
导电柱
、910
‑
屏幕
、920
‑
主板
。
具体实施方式
[0035]为使本专利技术的目的
、
技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术具体实施例及相应的附图对本专利技术技术方案进行清楚
、
完整地描述
。
显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0036]以下结合附图，详细说明本专利技术各个实施例公开的技术方案
。
[0037]请参考图1至图7，本专利技术实施例公开一种光学检测装置，所公开的光学检测装置包括电路基板
100、
光发射部
200、
光接收部
300
和光调本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光学检测装置，其特征在于，包括电路基板
(100)、
光发射部
(200)、
光接收部
(300)
和光调节部
(400)
；所述光发射部
(200)
包括第一基部
(210)
和发光元件
(220)
，所述光接收部
(300)
包括第二基部
(310)
和感光元件
(320)
，所述第一基部
(210)
设于所述电路基板
(100)
，所述第二基部
(310)
与所述电路基板
(100)
间隔设置，所述发光元件
(220)
设于所述第一基部
(210)
的背离所述电路基板
(100)
的一侧，所述感光元件
(320)
设于所述第二基部
(310)
朝向所述电路基板
(100)
的一侧，所述第一基部
(210)
和所述第二基部
(330)
为阻光材料，用于阻拦所述发光元件
(220)
发出的光线穿过到达所述感光元件
(320)
；所述光调节部
(400)
设于所述电路基板
(100)
，所述光调节部
(400)
用于将所述发光元件
(220)
投射至待测物后的反射光线传导至所述感光元件
(320)。2.
根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述第一基部
(210)
和所述第二基部
(310)
连接，所述第一基部
(210)、
所述第二基部
(310)
和所述电路基板
(100)
围成导光通道
(510)
，所述导光通道
(510)
背离所述第一基部
(210)
的一侧具有进光口
(501)
，所述发光元件
(220)
设于所述导光通道
(510)
之外，所述感光元件
(320)
设于所述导光通道
(510)
之内；所述光调节部
(400)
用于将所述发光元件
(220)
投射至待测物后的反射光线经所述进光口
(501)
传导至所述感光元件
(320)。3.
根据权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述光调节部
(400)
包括第一反射件
(410)
和第二反射件
(420)
，所述第一反射件
(410)
位于所述进光口
(501)
所在的一侧，所述第一反射件
(410)
的反射面与所述进光口
(501)
相对
、
且间隔设置，所述第二反射件
(420)
铺设于所述电路基板
(100)
，所述发光元件
(220)
投射至待测物后的反射光线依次经所述第一反射件
(410)
和所述第二反射件
(420)
的反射后投射至所述感光元件
(320)。4.
根据权利要求3所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二反射件
(420)
第一端与所述第一反射件
(410)
连接，所述第二反射件
(420)
的第二端经过所述进光口
(501)
延伸至与所述感光元件
(320)
相对的区域
。5.
根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置还包括透明封装部
(600)
，所述光发射部
(200)、
所述光接收部
(300)
和所述光调节部

【专利技术属性】
技术研发人员：陈亮亮，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：