一种电容器薄膜厚度误差检测方法技术

本发明专利技术公开了一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其检测方法包括以下步骤：将待检测金属化薄膜平铺在检测平台，并对限位设备的位置进行调节，使其位于金属化薄膜的两侧；然后对待检测金属化薄膜进行吹风，在吹风的过程中利用限位设备对金属化薄膜两侧进行限位，使其上下移动不会产生较大偏移；在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光，而激光发射时能保证与金属化薄膜保持同一水平面

【技术实现步骤摘要】
一种电容器薄膜厚度误差检测方法


[0001]本专利技术涉及电容器薄膜检测
，具体为一种电容器薄膜厚度误差检测方法
。

技术介绍

[0002]目前电容器在电力电子
、
通讯设施及轨道运输等领域应用广泛，随着科技水平的发展，电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性，成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件，其中薄膜电容器由于体积小
、
安全性高，极大的推动了电容器
的发展，现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯
、
聚丙烯
、
聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后，卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极，然后放置到电容器外壳中，注入绝缘油和环氧树脂，再经过组装后得到薄膜电容器，金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均
、
飞溅点
、
蛇纹
、
氧化层等缺陷，虽然现有的设备能完成对金属化薄膜的厚度误差检测，但是在检测的过程中无法对金属化薄膜的吹风移动方向进行限位，导致在检测时容易造成较大误差，从而增加对厚度误差检测的时间
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种电容器薄膜厚度误差检测方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其检测方法包括以下步骤：
[0005]第一
、
将待检测金属化薄膜平铺在检测平台，并对限位设备的位置进行调节，使其位于金属化薄膜的两侧；
[0006]第二
、
然后对待检测金属化薄膜进行吹风，在吹风的过程中利用限位设备对金属化薄膜两侧进行限位，使其上下移动不会产生较大偏移；
[0007]第三
、
在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光，而激光发射时能保证与金属化薄膜保持同一水平面；
[0008]第四
、
在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光，当检测结果为否时，发出进行警示信息，并进行重新操作，以此得到金属化薄膜厚度误差的检测数值
。
[0009]优选的，所述限位设备在金属化薄膜的两侧对称设置，且根据金属化薄膜的宽度对限位距离进行调节，使其与金属化薄膜的侧面相接触并对其限位
。
[0010]优选的，所述预设的激光发射位置和激光采集位置位于金属化薄膜两端，且对称设置，并与金属化薄膜处于同一水平面
。
[0011]优选的，所述对待检测金属化薄膜进行吹风，包括垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源
。
[0012]优选的，所述在对金属化薄膜进行吹风时，薄膜始终处于上下浮动状态，而上方进
行遮挡结构进行限位
。
[0013]优选的，所述当厚度检测出现较大误差或数值不准确时，重复上述的操作，直至得到的数值在合理的范围内即可
。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：
[0015]1、
本专利技术通过在金属化薄膜的检测位置增加限位设备，在对金属化薄膜吹风检测时使其能始终保持上下浮动的状态，且不会产生较大的偏移或移动误差，而且在进行激光检测时能快速完成检测，并得到准确的检测数值
。
具体实施方式
[0016]下面将结合本专利技术实施例，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0017]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其检测方法包括以下步骤：
[0018]第一
、
将待检测金属化薄膜平铺在检测平台，并对限位设备的位置进行调节，使其位于金属化薄膜的两侧；
[0019]第二
、
然后对待检测金属化薄膜进行吹风，在吹风的过程中利用限位设备对金属化薄膜两侧进行限位，使其上下移动不会产生较大偏移；
[0020]第三
、
在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光，而激光发射时能保证与金属化薄膜保持同一水平面；
[0021]第四
、
在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光，当检测结果为否时，发出进行警示信息，并进行重新操作，以此得到金属化薄膜厚度误差的检测数值
。
[0022]实施例一：
[0023]一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其检测方法包括以下步骤：
[0024]第一
、
将待检测金属化薄膜平铺在检测平台，并对限位设备的位置进行调节，根据金属化薄膜的宽度对限位距离进行调节，使其与金属化薄膜的侧面相接触并对其限位，使其位于金属化薄膜的两侧；
[0025]第二
、
然后对待检测金属化薄膜进行吹风，对待检测金属化薄膜进行吹风，包括垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源，在吹风的过程中利用限位设备对金属化薄膜两侧进行限位，使其上下移动不会产生较大偏移；
[0026]第三
、
在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光，而激光发射时能保证与金属化薄膜保持同一水平面；
[0027]第四
、
在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光，当检测结果为否时，发出进行警示信息，并进行重新操作，以此得到金属化薄膜厚度误差的检测数值，当厚度检测出现较大误差或数值不准确时，重复上述的操作，直至得到的数值在合理的范围内即可
。
[0028]尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以
理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化
、
修改
、
替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定
。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其特征在于：其检测方法包括以下步骤：第一
、
将待检测金属化薄膜平铺在检测平台，并对限位设备的位置进行调节，使其位于金属化薄膜的两侧；第二
、
然后对待检测金属化薄膜进行吹风，在吹风的过程中利用限位设备对金属化薄膜两侧进行限位，使其上下移动不会产生较大偏移；第三
、
在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光，而激光发射时能保证与金属化薄膜保持同一水平面；第四
、
在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光，当检测结果为否时，发出进行警示信息，并进行重新操作，以此得到金属化薄膜厚度误差的检测数值
。2.
根据权利要求1所述的一种电容器薄膜厚度误差检测方法，其特征在于：所述限位设备在金属化薄膜的两侧对称设置，且根据金属化薄膜的宽...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵尤斌，谈智勇，汪志斌，
申请(专利权)人：安徽省宁国市海伟电子有限公司，
类型：发明
国别省市：