【技术实现步骤摘要】
液晶显示屏的偏光贴片方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及图像识别
,尤其涉及一种液晶显示屏的偏光贴片方法
、
装置
、
设备及存储介质
。
技术介绍
[0002]在液晶显示屏制造领域,仍然存在一些关键挑战,尤其是在偏光贴片的领域
。
[0003]传统方法通常需要大量的人工操作,导致生产效率较低,同时增加了人力成本和生产周期,因此成本相对较高
。 由于依赖人工干预,存在人为误差的,这导致液晶显示屏的质量不稳定
。
传统方法缺乏智能化,无法适应不同条件下的生产要求,缺少自适应性和自动化控制
。
传统方法的缺陷检测能力有限,无法准确检测微小缺陷,导致产品质量下降和废品率增加
。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种液晶显示屏的偏光贴片方法
、
装置
、
设备及存储介质,用于提高液晶显示屏的偏光贴片的准确率
。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种液晶显示屏的偏光贴片方法,所述液晶显示屏的偏光贴片方法包括:采集预置的目标液晶显示屏的图像数据集,并对所述图像数据集进行多模态融合特征分解,得到多模态融合特征集;对所述图像数据集进行液晶分子排列状态分析,得到排列状态指标;通过所述排列状态指标以及所述多模态融合特征集对所述目标液晶显示屏进行贴片性能参数匹配,得到目标贴片性能参数;通过所述图像数据集对所述目标液晶显示屏进行微波定位处
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种液晶显示屏的偏光贴片方法,其特征在于,所述液晶显示屏的偏光贴片方法包括:采集预置的目标液晶显示屏的图像数据集,并对所述图像数据集进行多模态融合特征分解,得到多模态融合特征集;对所述图像数据集进行液晶分子排列状态分析,得到排列状态指标;通过所述排列状态指标以及所述多模态融合特征集对所述目标液晶显示屏进行贴片性能参数匹配,得到目标贴片性能参数;通过所述图像数据集对所述目标液晶显示屏进行微波定位处理,得到位置参数集合;基于所述目标贴片性能参数以及所述位置参数集合,控制自动贴片装置对所述液晶显示屏进行自动贴片
。2.
根据权利要求1所述的液晶显示屏的偏光贴片方法,其特征在于,所述采集预置的目标液晶显示屏的图像数据集,并对所述图像数据集进行多模态融合特征分解,得到多模态融合特征集,包括:通过预置的图像采集装置采集所述目标液晶显示屏的图像数据集;通过预置的白点算法对所述图像数据集中每个图像进行白平衡处理,得到白平衡图像数据集;对所述白平衡图像数据集进行色彩偏差校正,得到校正图像数据集;对所述校正图像数据集进行多模态融合特征分解,得到所述多模态融合特征集
。3.
根据权利要求2所述的液晶显示屏的偏光贴片方法,其特征在于,所述对所述校正图像数据集进行多模态融合特征分解,得到所述多模态融合特征集,包括:对所述校正图像数据集进行有效数据筛选,得到多个目标图像;通过预置的梯度滤波器对每个所述目标图像进行图像梯度信息提取,得到每个所述目标图像的图像梯度数据;通过预置的梯度双边滤波器分别对每个所述目标图像的图像梯度数据进行数据平滑处理,得到每个所述目标图像的平滑梯度数据;将每个所述目标图像的平滑梯度数据输入预置的改进脉冲耦合神经网络进行图像边缘信息捕捉,得到每个所述目标图像的图像边缘信息;基于每个所述目标图像的图像边缘信息,对多个所述目标图像进行多模态融合特征分解,得到所述多模态融合特征集
。4.
根据权利要求3所述的液晶显示屏的偏光贴片方法,其特征在于,所述对所述图像数据集进行液晶分子排列状态分析,得到排列状态指标,包括:对多个所述目标图像进行分子边缘检测,得到每个所述目标图像中的分子边缘数据;通过每个所述目标图像中的分子边缘数据,对每个所述目标图像进行分子边界框标定,得到每个所述目标图像的分子边界框集合;基于每个所述目标图像的分子边界框集合,对每个所述目标图像进行分子特征提取,得到分子特征集合;通过所述分子特征集合,对每个所述目标图像进行阈值分割,得到每个所述目标图像对应的分割图像;对每个所述目标图像对应的分割图像进行液晶分子排列状态分析,得到排列状态指
标
。5.
根据权利要求1所述的液晶显示屏的偏光贴片方法,其特征在于,所述通过所述排列状态指标以及所述多模态融合特征集对所述目标液晶显示屏进行贴片性能参数匹配,得到目标贴片性能参数,包括:通过所述排列状态指标对所述目标液晶显示屏进行液晶分子排列方向分析,得到目标排列方...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈文泰,唐亮,周杨,李家伟,陈浩壮,
申请(专利权)人:深圳市康凌源科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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