一种半导体高压测试治具制造技术

本申请涉及半导体芯片技术领域，具体为一种半导体高压测试治具，包括测试机构，还包括：底座；支撑架，支撑架固定连接在底座上，测试机构安装在支撑架上；预存放置机构，预存放置机构设置在底座和支撑架上，用于对半导体芯片进行测试和预存；辅助机构，辅助机构设置在预存放置机构上，用于方便人们对半导体芯片进行取出，通过滑板

【技术实现步骤摘要】
一种半导体高压测试治具


[0001]本技术涉及半导体芯片
，具体为一种半导体高压测试治具
。

技术介绍

[0002]半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件；在半导体器件的生产过程中，需要对半导体器件进行一系列复杂且繁琐的检测，这些检测具有很高的精准度，在其中就有一项要对半导体器件进行耐高压测试
。
[0003]经检索，中国专利公开
(
公告
)
号为
CN214539872U
的技术专利公开了半导体高压测试治具，其大致描述为，包括安装架
、
底座
、
电动液压推杆
、
高压测试仪和限位板，固定框内侧通过螺栓固定安装有高压测试仪，高压测试仪输出端通过螺栓均匀固定安装有贯穿固定框的测试探头，其在使用时，通过伸缩弹簧将限位板撑开，从而扩大限位板和固定框之间的距离，同时测试探头回缩到限位板内侧，通过限位板对测试探头进行保护，避免工作人员触碰到测试探头带来危险，同时防止测试探头因碰撞受到损坏，保证了测试探头的灵敏度，但是上述装置不便于对半导体芯片进行预先放置，在半导体芯片测试完成后还需进行更换才能再次进行测试，这个过程较为浪费时间，降低了整体装置的工作效率，且由于半导体芯片是放在放置凹槽内的，所以在取出半导体芯片时较为费力，这样会影响人们和机器工作效率，不方便人们进行使用
。

技术实现思路

[0004](
一
)
解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种半导体高压测试治具，以解决
技术介绍
中提出的现有技术，不便于对半导体芯片进行预先放置，在半导体芯片测试完成后还需进行更换才能再次进行测试，这个过程较为浪费时间，降低了整体装置的工作效率，且由于半导体芯片是放在放置凹槽内的，所以在取出半导体芯片时较为费力，这样会影响人们和机器工作效率，不方便人们进行使用的问题
。
[0006](
二
)
技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体高压测试治具，包括测试机构，还包括：
[0008]底座；
[0009]支撑架，所述支撑架固定连接在底座上，所述测试机构安装在支撑架上；
[0010]预存放置机构，所述预存放置机构设置在底座和支撑架上，用于对半导体芯片进行测试和预存；
[0011]辅助机构，所述辅助机构设置在预存放置机构上，用于方便人们对半导体芯片进行取出
。
[0012]优选的，所述预存放置机构包括滑槽
、
电机和两个开口，所述滑槽开设在底座上，所述电机安装在底座上，两个所述开口均开设在支撑架上，所述滑槽内滑动连接有滑板，所
述滑槽内转动连接有螺纹轴，所述螺纹轴与滑板螺纹连接，所述电机的输出端贯穿入滑槽并与螺纹轴固定连接，所述滑板上固定连接有两个固定块，所述固定块上开设有多个放置槽，用于对半导体芯片进行预存，进而用于方便人们进行使用，提高了人们的工作效率
。
[0013]进一步的，所述辅助机构包括多个腔室，所述腔室开设在固定块上，所述腔室位于放置槽的下方，所述腔室的内底壁上安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有固定板，所述固定板上固定连接有多个顶杆，多个所述顶杆均贯穿入放置槽，多个所述顶杆上固定连接有顶板，用于顶出半导体芯片，方便人们对半导体芯片进行更换
。
[0014]再进一步的，所述放置槽内固定连接有绝缘层一，所述顶板上固定连接有绝缘层二
。
[0015]更进一步的，所述滑槽内固定连接有多个导向轴，所述滑板滑动连接在多个导向轴上
。
[0016]在前述方案的基础上，所述固定块上固定连接有缓冲垫
。
[0017](
三
)
有益效果
[0018]与现有技术相比，本技术提供了一种半导体高压测试治具，具备以下有益效果：
[0019]该半导体高压测试治具，通过滑板
、
螺纹轴
、
电机等的配合，便于带动滑板上的两个固定块进行位置上的移动，从而便于一个进行工作一个进行预存，通过电动推杆
、
固定板
、
顶杆
、
顶板等的配合，便于在半导体芯片检测好后，顶出芯片，方便了人们对半导体芯片的取出，节约了时间
、
提高了整体装置的工作效率，方便了人们进行使用
。
附图说明
[0020]图1为本申请局部剖视的平面效果示意图；
[0021]图2为本申请主视的平面效果示意图；
[0022]图3为本申请图1中
A
处的局部放大结构示意图；
[0023]图4为本申请图1中
B
处的局部放大结构示意图
。
[0024]图中：
1、
测试机构；
2、
底座；
3、
支撑架；
4、
电机；
5、
开口；
6、
滑板；
7、
螺纹轴；
8、
固定块；
9、
腔室；
10、
电动推杆；
11、
固定板；
12、
顶杆；
13、
顶板；
14、
绝缘层一；
15、
绝缘层二；
16、
导向轴；
17、
缓冲垫
。
具体实施方式
[0025]实施例
[0026]请参阅图1‑
图4，一种半导体高压测试治具，包括测试机构1，还包括：
[0027]底座2；
[0028]支撑架3，支撑架3固定连接在底座2上，测试机构1安装在支撑架3上；
[0029]在图
1、
图2和图4中，存放置机构，预存放置机构设置在底座2和支撑架3上，预存放置机构包括滑槽
、
电机4和两个开口5，滑槽开设在底座2上，电机4安装在底座2上，两个开口5均开设在支撑架3上，滑槽内滑动连接有滑板6，滑槽内转动连接有螺纹轴7，螺纹轴7与滑板6螺纹连接，电机4的输出端贯穿入滑槽并与螺纹轴7固定连接，滑板6上固定连接有两个固定块8，固定块8上开设有多个放置槽，两个固定块8和多个放置槽，一个固定块8用来预
存，一个用来工作，通过电机
4、
滑板
6、
螺纹轴7等的配合，来实现两个固定块8的更换，从而达到预存放置的效果，进而用于方便人们进行使用，提高了人们的工作效率；
[0030]在图1和图3中，辅助机构，辅助机构设置在预存放置机构上，辅助机构包括多个腔室9，腔室9开设在固定块8上，腔室9位于放置槽的下方，腔室9的内底壁上安装有电动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种半导体高压测试治具，包括测试机构
(1)
，其特征在于，还包括：底座
(2)
；支撑架
(3)
，所述支撑架
(3)
固定连接在底座
(2)
上，所述测试机构
(1)
安装在支撑架
(3)
上；预存放置机构，所述预存放置机构设置在底座
(2)
和支撑架
(3)
上，用于对半导体芯片进行测试和预存；辅助机构，所述辅助机构设置在预存放置机构上，用于方便人们对半导体芯片进行取出
。2.
根据权利要求1所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述预存放置机构包括滑槽
、
电机
(4)
和两个开口
(5)
，所述滑槽开设在底座
(2)
上，所述电机
(4)
安装在底座
(2)
上，两个所述开口
(5)
均开设在支撑架
(3)
上，所述滑槽内滑动连接有滑板
(6)
，所述滑槽内转动连接有螺纹轴
(7)
，所述螺纹轴
(7)
与滑板
(6)
螺纹连接，所述电机
(4)
的输出端贯穿入滑槽并与螺纹轴
(7)
固定连接，所述滑板
(6)
上固定连接有两个固定块
(8)

【专利技术属性】
技术研发人员：张良成，袁昌鹏，母国光，
申请(专利权)人：杭州伊陶普自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：