USB测试头制造技术

本申请提供一种USB测试头，包括连接公端、第一信号线以及第二信号线。连接公端用于插接于待测产品的USB

【技术实现步骤摘要】
USB测试头


[0001]本申请涉及USB
‑
C接口测试
，尤其涉及一种USB测试头。

技术介绍

[0002]具有USB
‑
C接口的电子产品在出厂之前，需要对电子产品的USB
‑
C接口进行性能测试，以保证电子产品的产品质量。这种测试需要采用USB测试头连接测试装置与待测产品(即出厂之前的电子产品)，以进行通信交互。每一电子产品通常需要经过多次测试(例如超过10次)，因此，需要采用USB测试头对USB
‑
C接口进行多次插拔。
[0003]USB测试头经过多次插拔之后，USB测试头会受损，导致USB测试头与USB
‑
C接口的接触性能下降，容易造成误测。

技术实现思路

[0004]第一方面，本申请提供一种USB测试头，包括连接公端、第一信号线以及第二信号线。连接公端用于插接于待测产品的USB
‑
C接口中，连接公端包括多个第一引脚以及多个第二引脚，多个第一引脚中包括D+端和D
‑
端；多个第二引脚中包括D+端和D
‑
端。其中，第一信号线连接第一引脚的D+端和第二引脚的D+端，第二信号线连接第一引脚的D
‑
端和第二引脚的D
‑
端。
[0005]上述设计中，本申请实施例提供的USB测试头，可以通过将第一引脚的D+端与第二引脚的D+端连接、将第一引脚的D
‑
端与第二引脚的D
‑
端连接，实现通信信号的双连接，降低测试误差率，还可以降低测试成本。
[0006]在本申请一些实施例中，第一信号线包括依次连接的第一段、第一连接段以及第二段，第二信号线包括依次连接的第三段、第二连接段以及第四段；第一段连接第一引脚的D+端，第二段连接第二引脚的D+端，第三段连接第一引脚的D
‑
端，第四段连接第二引脚的D
‑
端，第一连接段以及第二连接段形成“交叉”状。
[0007]上述设计中，采用第一信号线以及第二信号线，将第一引脚的D+端与第二引脚的D+端连接、将第一引脚的D
‑
端与第二引脚的D
‑
端连接，以实现交叉连接，从而降低测试误差率。
[0008]在本申请一些实施例中，USB测试头还包括电路板，第一段、第二段、第三段以及第四段埋设于电路板中，第一连接段以及第二连接段穿设于电路板并在电路板中形成“交叉”状。
[0009]上述设计中，在实现交叉连接的基础上，可将第一信号线以及第二信号线固定于电路板上。
[0010]在本申请一些实施例中，USB测试头还包括壳体，壳体包括固定连接的固定部以及插接部，插接部背离固定部的一侧开设有凹槽；每一第一引脚以及每一第二引脚的一端与固定部固定，另一端朝向凹槽延伸并暴露于凹槽。
[0011]上述设计中，第一引脚以及第二引脚固定于壳体上并容置于凹槽中，以便于USB测
试头能够插接于待测产品中，并实现电连接。
[0012]在本申请一些实施例中，USB测试头还包括焊盘，焊盘将固定部固定于电路板上，并电连接第一引脚以及电路板以及电连接第二引脚以及电路板，插接部凸伸于电路板。
[0013]上述设计中，焊盘固定并电连接连接公头以及电路板，实现信号通讯；插接部凸伸于电路板，以便于USB测试头插接于待测产品中。
[0014]在本申请一些实施例中，每一第一引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm，每一第二引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm。
[0015]上述设计中，增加第一引脚以及第二引脚的宽度，降低USB测试头与待测产品之间的接触阻抗，提升通信质量，从而降低测试误差率；较宽的第一引脚以及第二引脚，减小连接时产生错位的可能性，提升接触稳定性，降低测试误差率。
[0016]在本申请一些实施例中，每一第一引脚以及每一第二引脚的宽度均为0.25mm。
[0017]上述设计中，宽度均为0.25mm是第一引脚以及第二引脚的宽度较为优先的实施方式。
[0018]第二方面，本申请提供一种USB测试头，包括连接公端，连接公端用于插接于待测产品的USB
‑
C接口中，连接公端多个第一引脚以及多个第二引脚；其中，每一第一引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm，每一第二引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm。
[0019]上述设计中，通过增加第一引脚以及第二引脚的宽度，降低USB测试头与待测产品之间的接触阻抗，提升通信质量，从而降低测试误差率；较宽的第一引脚以及第二引脚，减小连接时产生错位的可能性，提升接触稳定性，降低测试误差率。
[0020]在本申请一些实施例中，每一第一引脚以及每一第二引脚的宽度均为0.25mm。
[0021]上述设计中，宽度均为0.25mm是第一引脚以及第二引脚的宽度较为优先的实施方式。
[0022]在本申请一些实施例中，多个第一引脚中包括D+端和D
‑
端，多个第二引脚中包括D+端和D
‑
端；USB测试头还包括第一信号线以及第二信号线，第一信号线连接第一引脚的D+端和第二引脚的D+端，第二信号线连接第一引脚的D
‑
端和第二引脚的D
‑
端。
[0023]上述设计中，采用第一信号线以及第二信号线，将第一引脚的D+端与第二引脚的D+端连接、将第一引脚的D
‑
端与第二引脚的D
‑
端连接，以实现交叉连接，从而降低测试误差率。
[0024]在本申请一些实施例中，第一信号线包括依次连接的第一段、第一连接段以及第二段，第二信号线包括依次连接的第三段、第二连接段以及第四段；第一段连接第一引脚的D+端，第二段连接第二引脚的D+端，第三段连接第一引脚的D
‑
端，第四段连接第二引脚的D
‑
端，第一连接段以及第二连接段形成“交叉”状。
[0025]上述设计中，采用第一信号线以及第二信号线，将第一引脚的D+端与第二引脚的D+端连接、将第一引脚的D
‑
端与第二引脚的D
‑
端连接，以实现交叉连接，从而降低测试误差率。
[0026]在本申请一些实施例中，USB测试头还包括电路板，第一段、第二段、第三段以及第四段埋设于电路板中，第一连接段以及第二连接段穿设于电路板并在电路板中形成“交叉”状。
[0027]上述设计中，在实现交叉连接的基础上，可将第一信号线以及第二信号线固定于
电路板上。
[0028]在本申请一些实施例中，USB测试头还包括壳体，壳体包括固定连接的固定部以及插接部，插接部背离固定部的一侧开设有凹槽；每一第一引脚以及每一第二引脚的一端与固定部固定，另一端朝向凹槽延伸并暴露于凹槽。
[0029]上述设计本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种USB测试头，其特征在于，包括：连接公端，用于插接于待测产品的USB
‑
C接口中，所述连接公端包括：多个第一引脚，多个所述第一引脚中包括D+端和D
‑
端；以及多个第二引脚，多个所述第二引脚中包括D+端和D
‑
端；第一信号线；以及第二信号线；其中，所述第一信号线连接所述第一引脚的D+端和所述第二引脚的D+端，所述第二信号线连接所述第一引脚的D
‑
端和所述第二引脚的D
‑
端。2.根据权利要求1所述的USB测试头，其特征在于，所述第一信号线包括依次连接的第一段、第一连接段以及第二段，所述第二信号线包括依次连接的第三段、第二连接段以及第四段；所述第一段连接所述第一引脚的D+端，所述第二段连接所述第二引脚的D+端，所述第三段连接所述第一引脚的D
‑
端，所述第四段连接所述第二引脚的D
‑
端，所述第一连接段以及所述第二连接段形成“交叉”状。3.根据权利要求2所述的USB测试头，其特征在于，所述USB测试头还包括电路板，所述第一段、所述第二段、所述第三段以及所述第四段埋设于所述电路板中，所述第一连接段以及所述第二连接段穿设于所述电路板并在所述电路板中形成“交叉”状。4.根据权利要求3所述的USB测试头，其特征在于，所述USB测试头还包括壳体，所述壳体包括固定连接的固定部以及插接部，所述插接部背离所述固定部的一侧开设有凹槽；每一所述第一引脚以及每一所述第二引脚的一端与所述固定部固定，另一端朝向所述凹槽延伸并暴露于所述凹槽。5.根据权利要求4所述的USB测试头，其特征在于，所述USB测试头还包括焊盘，所述焊盘将所述固定部固定于所述电路板上，并电连接所述第一引脚以及所述电路板以及电连接所述第二引脚以及所述电路板，所述插接部凸伸于所述电路板。6.根据权利要求1
‑
5任意一项所述的USB测试头，其特征在于，每一所述第一引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm，每一所述第二引脚的宽度为0.24mm
‑
0.26mm。7.根据权利要求6所述的USB测试头，其特征在于，每一所述第一引脚以及每一所述第二引脚的宽度均为0.25mm。8.一种USB测试头，其特征在于，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚海波，吕双，李俊烨，
申请(专利权)人：荣耀终端有限公司，
类型：新型
国别省市：