下行测试方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了下行测试方法及装置

【技术实现步骤摘要】
下行测试方法及装置、上行测试方法及装置


[0001]本申请涉及通信
，尤其涉及一种下行测试方法及装置
、
上行测试方法及装置
。

技术介绍

[0002]毫米波基站为了检验基站射频链路硬件是否运作正常，需要进行射频测试，而由于射频链路可以分为上行和下行双向通道，从而需要进行上行测试和下行测试
。
相关技术中，射频测试上行通道时，利用信号源发送测试信号，基站根据固定配置解析该数据，并将
CRC(cyclic redundancy check
，循环冗余校验
)
通过率输出在测试平台上；射频测试下行通道时，则是由基站发送测试数据，通过频谱仪解析信号质量来判断是否符合
3GPP(3rd Generation Partnership Project
，第三代合作伙伴计划
)
标准要求
。
但由于多采用模拟数据进行射频测试，从而易导致测试结果的准确性不高
。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种下行测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种下行测试方法，其特征在于，所述方法包括：通过毫米波基站的本地维护终端
LMT
控制所述毫米波基站的
BBU
向所述毫米波基站的被测
AAU
发送下行校准指示信息；其中，所述下行校准指示信息，用于指示所述被测
AAU
根据第一下行校准中频信号，发送下行校准射频信号；根据第一天线对所述下行校准射频信号进行下变频接收所得到的第二下行校准中频信号，和所述第一下行校准中频信号之间的相位差，向所述被测
AAU
发送第一相位差补偿参数；通过所述
LMT
控制所述
BBU
向所述被测
AAU
发送下行测试指示信息；其中，所述下行测试指示信息，用于指示所述被测
AAU
发送下行测试射频信号，所述下行测试射频信号是所述被测
AAU
根据所述第一相位差补偿参数进行相位补偿后的射频信号；控制频谱分析设备对所述第一天线接收到的下行测试射频信号进行测试，以确定所述被测
AAU
的下行测试结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过毫米波基站的本地维护终端
LMT
控制所述毫米波基站的
BBU
向所述毫米波基站的被测
AAU
发送下行校准指示信息之前，还包括：控制光交换矩阵建立所述
BBU
与多个
AAU
中的所述被测
AAU
之间的链路
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制光交换矩阵建立所述
BBU
与多个
AAU
中的所述被测
AAU
之间的链路之后，还包括：控制所述第一天线转动，以使所述第一天线的接收方向与所述被测
AAU
的发射方向匹配
。4.
根据权利要求1‑3任一项所述的方法，其特征在于，所述下行校准指示信息中携带有目标下行数据和目标控制消息；其中，所述目标下行数据和所述目标控制消息，与所述
LMT
指示的测试类型信息相对应，用于所述
AAU
生成所述第一下行校准中频信号
。5.
一种上行测试方法，其特征在于，所述方法包括：控制信号源根据第一上行校准中频信号经过上变频器向第二天线输出上行校准射频信号，以使所述第二天线发射所述上行校准射频信号；根据毫米波基站的被测
AAU
对所述上行校准射频信号进行下变频接收所得到的第二上行校准中频信号，和所述第一上行校准中频信号之间的相位差，向所述被测
AAU
发送第二相位差补偿参数；控制所述信号源通过所述第二天线输出上行测试射频信号，以使所述被测
AAU
接收所述上行测试射频信号得到第一上行测试中频信号，并采用所述第二相位差补偿参数进行补偿以得到相位补偿后的第一上行测试中频信号；控制所述毫米波基站的
BBU
根据所述相位补偿后的第一上行测试中频信号，确定所述被测
AAU
的上行测试结果
。6.
根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述控制信号源根据第一上行校准中频信号经过上变频器向第二天线输出上行校准射频信号，以使所述第二天线发射所述上行校准射频信号之前，还包括：控制光交换矩阵建立所述
BBU
与多个
AAU
中的所述被测
AAU
之间的链路
。
7.
根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述控制光交换矩阵建立所述
BBU
与多个
AAU
中的所述被测
AAU
之间的链路之后，还包括：控制所述第二天线转动，以使所述第二天线的发射方向与所述被测
AAU
的接收方向匹配
。8.
一种测试装置，其特征在于，包括存储器，收发机，处理器：存储器，用于存储计算机程序；收发机，用于在所述处理器的控制下收发数据；处理器，用于读取所述存储器中的计算机程序并执行以下操作：通过毫米波基站的本地维护终端
LMT
控制所述毫米波基站的
BBU
向所述毫米波基站的被测
AAU
发送下行校准指示信息；其中，所述下行校准指示信息，用于指示所述被测
AAU
根据第一下行校准中频信号，发送下行校准射频信号；根据第一天线对所述下行校准射频信号进行下变频接收所得到的第二下行校准中频信号，和所述第一下行校准中频信号之间的相位差，向所述被测
AAU
发送第一相位差补偿参数；通过所述
LMT
控制所述毫米波基站的
BBU
向所述被测
AAU
发送下行测试指示信息；其中，所述下行测试指示信息，用于指示所述被测
AAU
发送下行测试射频信号，所述下行测试射频信号是所述被测
AAU
根据所述第一相位差补偿参数进行相位补偿后的射频信号；控制频谱分析设备对所述第一天线接收到得下行测试射频信号进行测试，以确定所述被测
AAU
的下行测试结果
。9.
根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述通过毫米波基站的本...

【专利技术属性】
技术研发人员：王建新，
申请(专利权)人：大唐移动通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：