攻击检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种攻击检测电路

【技术实现步骤摘要】
攻击检测电路、芯片与电子设备


[0001]本专利技术涉及芯片
，尤其涉及一种攻击检测电路
、
芯片与电子设备
。

技术介绍

[0002]针对芯片的常用故障注入攻击方法主要是通过改变芯片中电路的正常工作状态，进而破解或获取密钥等敏感信息
。
目前的攻击检测技术通过在芯片中集成多种传感器来检测各种故障注入，成本高且分布部署困难，难以有效对整个芯片区域进行防护，从而降低了芯片安全性
。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例期望提供一种攻击检测电路
、
芯片与电子设备，能够提高芯片安全性
。
[0004]本专利技术的技术方案是这样实现的：第一方面，本专利技术实施例提供一种攻击检测电路，应用于芯片，所述电路包括：包含
N
个寄存器的循环移位寄存器与检测电路，所述
N
个寄存器的前
N
‑1个寄存器中每个寄存器的输出端连接下一个寄存器的输入端，第
N
个寄存器的输出端连接第1个寄存器的输本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种攻击检测电路，应用于芯片，其特征在于，所述电路包括：包含
N
个寄存器的循环移位寄存器与检测电路，所述
N
个寄存器的前
N
‑1个寄存器中每个寄存器的输出端连接下一个寄存器的输入端，第
N
个寄存器的输出端连接第1个寄存器的输入端；所述
N
个寄存器中初始数据为第一值的寄存器与初始值为第二值的寄存器相邻排列，所述
N
个寄存器连接同一个控制信号源；
N
为大于0的偶数；所述
N
个寄存器中的每个寄存器，用于基于所述控制信号源提供的控制信号，周期性地同步将输入端接收到的数据保存在输出端，并传递给下一个寄存器，以使所述循环移位寄存器周期性更新所述
N
个寄存器对应的
N
位数据；所述检测电路，用于在检测到所述
N
位数据中包含连续的第一值或连续的第二值的情况下，确定所述芯片受到攻击
。2.
根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述检测电路包括：
N
个异或门电路；所述
N
个寄存器中每个寄存器的输入端与输出端分别连接一个异或门电路的两个输入端；所述
N
个异或门电路中的每个异或门电路，用于对其两个输入端的数据进行异或处理，在所述两个输入端的数据相同的情况下，输出第三值；所述检测电路，还用于在所述
N
个异或门电路输出的数据包含所述第三值的情况下，确定所述芯片受到攻击
。3.
根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述检测电路还包括：与非门电路，所述
N
个异或门电路的
N
个输出端连接所述与非门电路的输入端；所述与非门电路，用于在所述
N
个异或门电路输出的数据包含所述第三值的情况下，输出第四值；所述检测电路，还用于在所述与非门电路输出所述第四值的情况下，确定所述芯片受到攻击
。4.
根据权利要求1‑3任一项所述的电路，其特征在于，所述
N
个寄存器包括：
N
个
D
触发器；所述控制信号源位于所述芯片内部；所述
N
个

【专利技术属性】
技术研发人员：范长永，王宗岳，黎福晓，
申请(专利权)人：深圳市纽创信安科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：