一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法及设备技术

技术编号:39746218 阅读:38 留言:0更新日期:2023-12-17 23:45
本发明专利技术公开了一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法及设备,属于电缆局部缺陷定位技术领域,用于解决现有对电缆的缺陷定位存在场景使用的局限性,并且缺陷电缆的波速易发生改变,难以对电缆的缺陷位置进行准确的定位的技术问题

【技术实现步骤摘要】
一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法及设备


[0001]本申请涉及电缆局部缺陷定位领域,尤其涉及一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法及设备


技术介绍

[0002]电缆是实现电能传输与配送的重要工具,由于占地面积小

安全稳定性高等优势,目前正得到越来越广泛的应用,电网电缆化将是未来重要的发展趋势

然而由于安装敷设磨损

长时间深埋地下

运行环境恶劣等不利因素影响,电缆容易产生破损

受潮

热老化等各类局部缺陷,如不能及时定位并排除,将对电力系统的安全稳定构成严重威胁

因此,实现电缆局部缺陷的诊断定位具有重要意义

[0003]基于宽频阻抗谱的频域反射法是一种快速

无损

精确的电缆缺陷定位方法,其中,快速傅里叶变换法
(FFT)
可以快速定位电缆缺陷和末端位置,在工程应用中取得了不错的效果

然而,目前快速傅里叶变换本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法,其特征在于,所述方法包括:基于待测电缆的同一端点,对所述待测电缆的线芯以及金属屏蔽层进行阻抗分析,得到电缆阻抗频域数据;对所述电缆阻抗频域数据进行有关入射信号的频率计算,确定出所述待测电缆的相移系数;通过预设的扫频信号,将与所述相移系数对应的电缆频变波速进行有关综合表征扫频信号的电磁传播特性处理,得到所述待测电缆的电缆扫频信号综合波速;根据所述电缆扫频信号综合波速,对所述电缆阻抗频域数据进行基于采样点数的离散化处理,得到所述待测电缆的电缆缺陷定位函数以及缺陷定位点距离;基于所述电缆缺陷定位函数以及缺陷定位点距离,确定出所述待测电缆的局部缺陷位置信息
。2.
根据权利要求1所述的一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法,其特征在于,基于待测电缆的同一端点,对所述待测电缆的线芯以及金属屏蔽层进行阻抗分析,得到电缆阻抗频域数据,具体包括:对所述待测电缆中同一端点的线芯与金属屏蔽层进行导通判断;若所述线芯与金属屏蔽层之间为断开状态且未连接负载,则通过阻抗分析仪,对处于所述断开状态的待测电缆进行阻抗分析数据的采集,得到第一电缆阻抗频域数据;若所述线芯与金属屏蔽层之间为导通状态,则通过所述阻抗分析仪,对处于所述导通状态的待测电缆进行阻抗分析数据的采集,得到第二电缆阻抗频域数据;其中,所述电缆阻抗频域数据包括:所述第一电缆阻抗频域数据以及所述第二电缆阻抗频域数据
。3.
根据权利要求2所述的一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法,其特征在于,所述阻抗分析仪与所述待测电缆的另一端点连接;所述阻抗分析仪中的第一测试夹具与所述另一端点中的线芯相连接;所述阻抗分析仪中的第二测试夹具与所述另一端点中的金属屏蔽层相连接;所述另一端点为进行导通判断端点的相对端点
。4.
根据权利要求1所述的一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法,其特征在于,对所述电缆阻抗频域数据进行有关入射信号的频率计算,确定出所述待测电缆的相移系数,具体包括:根据得到所述相移系数
β
(f)
;其中,
f
为所述待测电缆的入射信号频率,
l
为待测电缆的全长距离,
M(f)
为第一电缆阻抗频域数据,
N(f)
为第二电缆阻抗频域数据,
tanh
为双曲正切函数,
Im
为复变函数
。5.
根据权利要求1所述的一种基于波速校正的电缆缺陷定位方法,其特征在于,在通过预设的扫频信号,将与所述相移系数对应的电缆频变波速进行有关综合表征扫频信号的电磁传播特性处理,得到所述待测电缆的电缆扫频信号综合波速之前,所述方法还包括:根据
v(f)
=2π
f/
β
(f)
,得到所述电缆频变波速
v(f)
;其中,
f
为所述待测电缆的入射信号频率,
β
(f)
为所述相移系数

6.
根据权利要求1所述的一种基于波速校...

【专利技术属性】
技术研发人员:穆海宝王仁杰邹星宇曲兰青成子谦
申请(专利权)人:西安交通大学
类型:发明
国别省市:

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