【技术实现步骤摘要】
一种光谱仪运行监测方法及系统
[0001]本专利技术属于设备监测
,尤其涉及一种光谱仪运行监测方法及系统
。
技术介绍
[0002]红外光谱仪是利用物质对不同波长的红外辐射的吸收特性,进行分子结构和化学组成分析的仪器
。
红外光谱仪通常由光源,单色器,探测器和计算机处理信息系统组成
。
根据分光装置的不同,分为色散型和干涉型
。
[0003]对色散型双光路光学零位平衡红外分光光度计而言,当样品吸收了一定频率的红外辐射后,分子的振动能级发生跃迁,透过的光束中相应频率的光被减弱,造成参比光路与样品光路相应辐射的强度差,从而得到所测样品的红外光谱
。
[0004]当前的光谱仪不具有自检能力,当设备出现异常的时候,无法通过自检进行确定,出现异常倾向时,其分析结果也会变得不准确
。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例的目的在于提供一种光谱仪运行监测方法,旨在解决当前的光谱仪不具有自检能力,当设备出现异常的时候,无法通过自检进行确定,出现异常倾向时,其分析结果也会变得不准确的问题
。
[0006]本专利技术实施例是这样实现的,一种光谱仪运行监测方法,所述方法包括:
[0007]获取光谱仪运行数据,构建运行参数数据库,所述光谱仪运行数据至少包括检测样本数据
、
环境条件数据和设备运行参数数据;
[0008]对检测样本数据和环境条件数据进行综合分类,得到综合分类结果,基于综合分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种光谱仪运行监测方法,其特征在于,所述方法包括:获取光谱仪运行数据,构建运行参数数据库,所述光谱仪运行数据至少包括检测样本数据
、
环境条件数据和设备运行参数数据;对检测样本数据和环境条件数据进行综合分类,得到综合分类结果,基于综合分类结果对设备运行参数数据进行划分,得到分析数据单元;基于分析数据单元进行曲线分析,构建拟合函数,所述拟合函数包括波峰拟合函数以及波谷拟合函数;对分析数据单元进行定量分析,将不同分析数据单元对应的拟合函数进行比对,判定光谱仪是否正常运行
。2.
根据权利要求1所述的光谱仪运行监测方法,其特征在于,所述对检测样本数据和环境条件数据进行综合分类,得到综合分类结果,基于综合分类结果对设备运行参数数据进行划分,得到分析数据单元的步骤,具体包括:提取各个设备运行参数数据对应的检测样本数据和环境条件数据,提取所有的样本类型以及环境条件类型;对样本类型和环境条件类型进行排列组合,得到综合分类结果;基于综合分类结果对设备运行参数数据进行整合,将同一类设备运行参数数据划分为一类,得到分析数据单元,同一个分析数据单元对应的样本类型和环境条件类型相同
。3.
根据权利要求1所述的光谱仪运行监测方法,其特征在于,所述基于分析数据单元进行曲线分析,构建拟合函数,所述拟合函数包括波峰拟合函数以及波谷拟合函数的步骤,具体包括:按照时间顺序提取分析数据单元中所有的设备运行参数数据,基于运行参数值构建数据坐标,所述数据坐标的横坐标为时间值,纵坐标为运行参数;构建二维坐标系,对数据坐标进行标注,在二维坐标系中形成散点集,以曲线进行连接,得到数据曲线;对数据曲线中的波峰值以及波谷值进行提取,并提取对应的时间值,构建波峰坐标以及波谷坐标,构建拟合函数
。4.
根据权利要求1所述的光谱仪运行监测方法,其特征在于,所述对分析数据单元进行定量分析,将不同分析数据单元对应的拟合函数进行比对,判定光谱仪是否正常运行的步骤,具体包括:将不同样本类型对应的拟合函数进行比对,通过拟合函数随机生成多组拟合坐标,基于拟合坐标计算第一偏离度,所述偏离度为两组样本类型对应的拟合坐标的纵坐标的差值之和;将不同环境条件类型对应的拟合函数进行比对,通过拟合函数随机生成多组拟合坐标,基于拟合坐标计算第二偏离度,所述偏离度为两组环境条件类型对应的拟合坐标的纵坐标的差值之和;基于第一偏离度
、
第二偏离度以及预设值确定在不同环境条件以及样本类型下,光谱仪是否处于正常工作状态,并确定其异常偏离趋势
。5.
根据权利要求1所述的光谱仪运行监测方法,其特征在于,环境条件至少包括温度条件和湿度条件
。
...
【专利技术属性】
技术研发人员:马建州,顾惠惠,袁海军,
申请(专利权)人:无锡创想分析仪器有限公司,
类型:发明
国别省市:
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