速度检测电路与相关的芯片制造技术

本发明专利技术提供一种速度检测电路，其包括一测试信号产生器

【技术实现步骤摘要】
速度检测电路与相关的芯片


[0001]本专利技术涉及设置于芯片内部的速度检测电路
。

技术介绍

[0002]在目前的芯片中通常会设计一个或多个环形振荡器
(ring oscillator)
，以用来检测芯片的速度
。
环形振荡器通常只会使用反相器
(inverter)、
反及闸
(NAND)
或是反或闸
(NOR)
的组合逻辑电路
(combinational cells)
来实现，然而，芯片中的关键路径
(critical path)
却是由各种不同的种类的组合逻辑电路以及触发器
(flip
‑
flop)
所构成的
。
因此，由于环形振荡器所判断出的芯片速度与关键路径上的速度存在着差异，可能会存在虽然环形振荡器判断出的芯片速度正常，但由于缺乏触发器的时序数据而导致真正关键路径上的信号延迟却过大的问题
。

技术实现思路

[0003]因此，本专利技术的一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种速度检测电路，设置于一芯片中，包括有：一测试信号产生器，用于产生具有一特定图案的一测试信号；一发起触发器，用于使用一第一时钟信号对所述测试信号进行采样，以产生一采样后测试信号；一待测电路，用于接收所述采样后测试信号以产生一延迟后测试信号；一捕获触发器，用于使用一第二时钟信号对所述延迟后测试信号进行采样，以产生一输出信号；一比较器，用于判断所述输出信号是否符合所述特定图案，以产生一比较结果；以及一控制电路，用于根据所述比较结果以决定出所述芯片的速度
。2.
根据权利要求1所述的速度检测电路，其特征在于，还包括有：一时钟产生电路，用于产生所述第一时钟信号与所述第二时钟信号，其中所述第一时钟信号与所述第二时钟信号的相位由所述控制电路所产生的一控制信号来控制
。3.
根据权利要求2所述的速度检测电路，其特征在于，所述时钟产生电路根据所述芯片的一系统时钟信号来产生所述第一时钟信号与所述第二时钟信号
。4.
根据权利要求2所述的速度检测电路，其特征在于，当所述比较结果指出所述输出信号符合所述特定图案时，所述控制电路根据所述第一时钟信号与所述第二时钟信号的相位来决定出所述芯片的速度
。5.
根据权利要求2所述的速度检测电路，其特征在于，当所述比较结果指出所述输出信号不符合所述特定图案时，所述控制电路产生所述控制信号以调整所述第一时钟信号与所述第二时钟信号之间的相位差，直到所述比较器所产生的所述比较结果指出所述输出信号符合所述特定图案为止；以及当所述比较结果指出所述输出信号符合所述特定图案时，所述控制电路根据目前所述第一时钟信号与所述第二时钟信...

【专利技术属性】
技术研发人员：张志强，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：