基于余弦相似性的软件可靠性增长模型优化选择方法技术

本发明专利技术属于软件可靠性增长模型技术领域，具体涉及一种优化选择可靠性增长模型的方法

【技术实现步骤摘要】
基于余弦相似性的软件可靠性增长模型优化选择方法


[0001]本专利技术属于软件可靠性增长模型
，具体涉及一种优化选择可靠性增长模型的方法
。

技术介绍

[0002]随着现代社会的发展，软件已被应用于人类社会的各种业务，极大地促进了人类的学习和生活，提高了工作效率，降低了劳动工作量
。
然而，如果在操作过程中出现软件故障或问题，将极大地影响人类的工作和生活
。
软件可以被认为是现代人类生活和商业中的重要工具
。
[0003]为了防止或减轻软件发布后的故障，在软件发布前分析软件可靠性至关重要
。
然而，准确有效地测量软件可靠性是一个困难的事情
。
为了评估软件的可靠性水平，研究人员开发了许多软件可靠性增长模型
。
不幸的是，没有哪一个软件可靠性增长模型可以用于评估所有软件测试场景中的可靠性
。
因为软件可靠性增长模型的开发是基于与实际软件测试过程中故障检测或故障引进服从的分布，但经常不匹配的它的建模假设，或者因为检测或引入故本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
基于余弦相似性的软件可靠性增长模型优化选择方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤1，软件可靠性增长模型的属性：假设软件可靠性增长模型的属性为
[A1
，
A2
，
…
，
An]
，其值为
[v1
，
v2
，
…
，
vn]
，各种软件可靠性增长模型表示为
[M1
，
M2
，
…
，
Mm]
，使用矩阵来表示软件可靠性增长模型与其属性之间的关系，如下所示：其中
Mi
表示第
i
个软件可靠性增长模型，
i
取1～
m
，
A
j
表示第
j
个软件可靠性增长模型属性，
j
取1～
n
；步骤2，使用余弦相似性来选择最优模型：步骤
2.1
，利用两个软件可靠性增长模型的属性向量之间的角度的余弦值，来测量两个软件可靠性增长模型的相似性，其公式表示如下：其中
M1
和
M...

【专利技术属性】
技术研发人员：王金勇，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：