【技术实现步骤摘要】
一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置
[0001]本专利技术涉及光脉冲测试
,尤其涉及一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置
。
技术介绍
[0002]目前的脉宽测试设备通常只提供测试主机,但在实际测试中,一般需要按照规定输入特定偏振态的脉冲光
。
这个过程需要搭建特定的外光路,增加了测试的复杂性和时间成本
。
此外,测试不同波长的脉冲光源也需要搭建不同的测试外光路,这进一步增加了测试的难度和成本
。
技术实现思路
[0003]为了克服上述现有技术所述的至少一个缺陷,本专利技术提供一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置
。
可解决测试不同波长的脉冲光源需要搭建不同光路的问题
。
[0004]本专利技术为解决其问题所采用的技术方案是:
[0005]一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置,包括:
[0006]初始测量及合束输出部,所述初始测量及合束输出部设有与第一脉冲自动压缩测量部配合的反射镜
M3、
与第二脉冲自动压缩测量部配合的反射镜
M7、
反射镜
M1
和第一光纤输入端口;
[0007]第一脉冲自动压缩测量部,所述第一脉冲自动压缩测量部包括第一垂直折返部
、
反射镜
M2、
第一光栅和第二光纤输入端口,所述反射镜
M2
用于将第二光纤输入端口射入的光信号反射至第一光栅,所述第一光栅用于将光信号反射至第
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置,其特征在于,包括:初始测量及合束输出部,所述初始测量及合束输出部设有与第一脉冲自动压缩测量部配合的反射镜
M3、
与第二脉冲自动压缩测量部配合的反射镜
M7、
反射镜
M1
和第一光纤输入端口;第一脉冲自动压缩测量部,所述第一脉冲自动压缩测量部包括第一垂直折返部
、
反射镜
M2、
第一光栅和第二光纤输入端口,所述反射镜
M2
用于将第二光纤输入端口射入的光信号反射至第一光栅,所述第一光栅用于将光信号反射至第一垂直折返部;第二脉冲自动压缩测量部,所述第二脉冲自动压缩测量部包括第二垂直折返部
、
反射镜
M4、
第一棱镜和第三光纤输入端口,所述反射镜
M4
用于将第三光纤输入端口射入的光信号反射至第一棱镜,并通过第一棱镜反射至第二垂直折返部;所述反射镜
M1
将第一光纤输入端口的光信号反射至
APE
自相关仪,所述反射镜
M3
将第一脉冲自动压缩测量部反射的光信号反射至
APE
自相关仪,所述反射镜
M7
将第二脉冲自动压缩测量部反射的光信号反射至
APE
自相关仪
。2.
根据权利要求1所述的一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置,其特征在于,所述第二脉冲自动压缩测量部还包括反射镜
M5
和反射镜
M6
,所述反射镜
M5
和反射镜
M6
用于将第二垂直折返部折返的光信号绕开第一脉冲自动压缩测量部内的光路
。3.
根据权利要求1或2所述的一种光脉冲宽度双波长自动压缩测试装置,其特征在于,所述第一垂直折返部连接有第一直线电机,所述第一垂直折返部设有第二...
【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名,
申请(专利权)人:浙江众能半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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