一种芯片测试分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试分选装置，包括放置台，所述放置台的前侧壁固定安装有芯片测试仪，所述放置台的顶部固定安装有两个限位框，所述放置台上开设有环形槽、安装槽和四个滑槽，所述放置台内转动连接有齿轮，所述环形槽内转动连接有转动机构，所述转动机构与齿轮啮合连接，四个所述滑槽内均设有限位机构，四个所述限位机构均延伸至环形槽内并与其滑动连接，四个所述限位机构均延伸至转动机构内并与其滑动连接，所述安装槽内设有带动机构，所述带动机构与齿轮啮合连接。本实用新型专利技术结构设计合理，其能够在对芯片进行测试分选时，快速对芯片进行限位固定，减少工作流程，降低了工作人员的工作强度。工作人员的工作强度。工作人员的工作强度。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试分选装置


[0001]本技术涉及芯片生产
，尤其涉及一种芯片测试分选装置。

技术介绍

[0002]芯片是一种集成电路，由大量的晶体管构成，芯片制作完成后，需要将芯片放置在芯片测试仪的下方进行测试，剔除不良品。
[0003]现有技术中，在对芯片进行测试分选时，是将芯片固定在放置台上，然后使用芯片测试仪对芯片进行测试分选，在对芯片进行固定时，一般是先对芯片的两侧进行固定，再对芯片的前后进行固定，在固定芯片时，需要分步进行，导致工作人员操作流程繁杂，工作人员的工作强度较大，为此我们设计了一种芯片测试分选装置来解决以上问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中的问题，而提出的一种芯片测试分选装置。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种芯片测试分选装置，包括放置台，所述放置台的前侧壁固定安装有芯片测试仪，所述放置台的顶部固定安装有两个限位框，所述放置台上开设有环形槽、安装槽和四个滑槽，所述放置台内转动连接有齿轮，所述环形槽内转动连接有转动机构，所述转动机构与齿轮啮合连接，四个所述滑槽内均设有限位机构，四个所述限位机构均延伸至环形槽内并与其滑动连接，四个所述限位机构均延伸至转动机构内并与其滑动连接，所述安装槽内设有带动机构，所述带动机构与齿轮啮合连接。
[0007]优选地，所述转动机构包括转动连接在环形槽内的齿环，所述齿环上均匀贯穿开设有四个带动槽，所述齿环与齿轮啮合连接。
[0008]优选地，所述限位机构包括滑动连接在滑槽内的滑块，所述滑块的顶部固定安装有夹板，所述滑块与滑槽的内壁之间固定连接有第一弹簧，所述滑块上固定安装有滑动杆，所述滑动杆延伸至环形槽内并与其滑动连接，所述滑动杆的顶部固定安装有挡杆，所述挡杆延伸至相对的带动槽内并与其滑动连接。
[0009]优选地，所述带动机构包括滑动连接在安装槽内的滑动板，所述滑动板与安装槽的内壁之间固定连接有第二弹簧，所述滑动板上固定安装有齿条，所述齿条与齿轮啮合连接，所述齿条的端部固定安装有拉杆。
[0010]优选地，所述夹板的夹紧端安装有橡胶垫。
[0011]优选地，所述拉杆上套设有橡胶套。
[0012]本技术与现有技术相比，其有益效果为：
[0013]1、通过齿轮、带动机构、转动机构和限位机构的设置，其能够在对芯片进行测试分选时，快速对芯片进行限位固定，减少工作流程，降低了工作人员的工作强度。
[0014]2、通过两个限位框的设置，其能够对放置芯片的放置盒进行限位，避免工作人员
在操作的过程中触碰到放置盒从放置台上滑落的情况发生。
[0015]综上所述，本技术结构设计合理，其能够在对芯片进行测试分选时，快速对芯片进行限位固定，减少工作流程，降低了工作人员的工作强度。
附图说明
[0016]图1为本技术提出的一种芯片测试分选装置的结构示意图；
[0017]图2为放置台上的结构俯视图；
[0018]图3为放置台上的结构俯视剖视图；
[0019]图4为图3中的A处结构放大图；
[0020]图5为图3中的B处结构放大图；
[0021]图6为图3中的C处结构放大图。
[0022]图中：1放置台、2限位框、3芯片测试仪、4拉杆、5夹板、6环形槽、7齿环、8滑槽、9滑块、10滑动杆、11第一弹簧、12挡杆、13带动槽、14齿轮、15安装槽、16齿条、17滑动板、18第二弹簧。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]参照图1
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6，一种芯片测试分选装置，包括放置台1，放置台1的前侧壁固定安装有芯片测试仪3，放置台1的顶部固定安装有两个限位框2，通过两个限位框2的设置，其能够对放置芯片的放置盒进行限位，避免工作人员在操作的过程中触碰到放置盒从放置台上滑落的情况发生，放置台1上开设有环形槽6、安装槽15和四个滑槽8，放置台1内转动连接有齿轮14，环形槽6内转动连接有转动机构，转动机构与齿轮14啮合连接，转动机构包括转动连接在环形槽6内的齿环7，齿环7上均匀贯穿开设有四个带动槽13，齿环7与齿轮14啮合连接；
[0025]四个滑槽8内均设有限位机构，四个限位机构均延伸至环形槽6内并与其滑动连接，四个限位机构均延伸至转动机构内并与其滑动连接，限位机构包括滑动连接在滑槽8内的滑块9，滑块9的顶部固定安装有夹板5，夹板5的夹紧端安装有橡胶垫，滑块9与滑槽8的内壁之间固定连接有第一弹簧11，滑块9上固定安装有滑动杆10，滑动杆10延伸至环形槽6内并与其滑动连接，滑动杆10的顶部固定安装有挡杆12，挡杆12延伸至相对的带动槽13内并与其滑动连接；
[0026]安装槽15内设有带动机构，带动机构与齿轮14啮合连接，带动机构包括滑动连接在安装槽15内的滑动板17，滑动板17与安装槽15的内壁之间固定连接有第二弹簧18，滑动板17上固定安装有齿条16，齿条16与齿轮14啮合连接，齿条16的端部固定安装有拉杆4，拉杆4上套设有橡胶套，通过齿轮14、带动机构、转动机构和限位机构的设置，其能够在对芯片进行测试分选时，快速对芯片进行限位固定，减少工作流程，降低了工作人员的工作强度。
[0027]本技术可通过以下操作方式阐述其功能原理：
[0028]当需要对芯片进行测试分选时，首先操作者将良品放置盒和次品放置盒分别放置在左侧的限位框2内和右侧的限位框2内，向左拉动拉杆4，拉杆4带动齿条16滑动，齿条16带
动齿轮14转动，齿轮14带动齿环7转动，齿环7转动时，齿环7上的带动槽13挤压挡杆12带动滑动杆10滑动，滑动杆10带动滑块9上的夹板5滑动，使得四个滑槽8内的四个夹板5相对远离，此时，操作人员将芯片放置在四个夹板5之间，松开拉杆4，滑动板17在第二弹簧18弹力的作用下带动齿条16滑动复位，齿条16通过齿轮14带动齿环7反向转动，使得四个夹板5逐渐相互靠近对芯片进行抵紧，然后启动芯片测试仪3对芯片进行测试，测试完毕之后，操作人员再向左拉动拉杆4，使得四个夹板5脱离对芯片的抵紧，将芯片取出，若为良品，将其放置在左侧的良品放置盒内，若为次品，将其放置在右侧的次品放置盒内即可。
[0029]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选装置，包括放置台(1)，其特征在于，所述放置台(1)的前侧壁固定安装有芯片测试仪(3)，所述放置台(1)的顶部固定安装有两个限位框(2)，所述放置台(1)上开设有环形槽(6)、安装槽(15)和四个滑槽(8)，所述放置台(1)内转动连接有齿轮(14)，所述环形槽(6)内转动连接有转动机构，所述转动机构与齿轮(14)啮合连接，四个所述滑槽(8)内均设有限位机构，四个所述限位机构均延伸至环形槽(6)内并与其滑动连接，四个所述限位机构均延伸至转动机构内并与其滑动连接，所述安装槽(15)内设有带动机构，所述带动机构与齿轮(14)啮合连接。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于，所述转动机构包括转动连接在环形槽(6)内的齿环(7)，所述齿环(7)上均匀贯穿开设有四个带动槽(13)，所述齿环(7)与齿轮(14)啮合连接。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于，所述限位机构包括滑动连接在滑槽(...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚俊生，刘育军，
申请(专利权)人：西安联芯微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：