一种信号校准方法技术

一种信号校准方法

【技术实现步骤摘要】
一种信号校准方法、装置和存储介质


[0001]本文涉及触控技术，尤指一种信号校准方法
、
装置和存储介质
。

技术介绍

[0002]触控类产品，由于受到触控面板结构
、
与触控面板接触的传感器工艺
、
布局
、
以及每个传感器特性差异等因素的影响，以相同的力施加在触控面上的不同部分，通过传感器获得的响应信号的差异较大，影响用户体验，因此在触控面板上施力后，通常需要对获得的传感器响应信号进行校准
。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种信号校准方法
、
装置和存储介质，能够实现对触控面板上传感器响应信号的校准
。
[0004]本申请提供的信号校准方法，包括：
[0005]执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；
[0006]根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；
[0007]根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；
[0008]执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准
>。
[0009]作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在所述触控面板的拐角位置的传感器；
[0010]所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：
[0011]对每个传感器，获取在分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下，获得的传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；
[0012]根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该传感器确定的校准点；
[0013]根据所述局部极大值和所述局部极小值绘制鞍部曲线；
[0014]根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据该传感器确定的校准点
。
[0015]作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与所述触控面板的一边界线相邻，且距离该边界线在第二预设范围内的传感器；
[0016]所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：
[0017]对每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；
[0018]对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；
[0019]将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点；
[0020]根据由所述多个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；
[0021]根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点
。
[0022]作为一示例性实施例，所述根据所述鞍部曲线选择施力位置点，包括：
[0023]当用于绘制鞍部曲线的局部极大值的数量为两个时，确定两个局部极大值的连接线与所述鞍部曲线的第一交点；
[0024]分别以所述两个局部极大值中的每个局部极大值为起点，分别沿着水平和垂直方向向所述鞍部曲线引垂线；
[0025]将两条垂线与所述鞍部曲线的交点中，将距离所述第一交点最近的点对应的施力位置点作为选择的施力位置点
。
[0026]作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与触控面板几何中心距离第三预设范围内的传感器；
[0027]所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：
[0028]对每个传感器，将该传感器划分为四个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；
[0029]对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；
[0030]将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点
。
[0031]作为一示例性实施例，所述确定多个校准点，还包括：
[0032]将触控面板边界线的中心点和触控面板的几何中心点作为校准点
。
[0033]作为一示例性实施例，根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数，包括：
[0034]获取该传感器响应信号特征值；
[0035]将该传感器响应信号特征值的倒数作为所述校准系数
。
[0036]作为一示例性实施例，执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校
准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准，包括：
[0037]执行信号校准时，将在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号乘以该对应施力位置点的响应信号校准系数，得到该对应施力位置点上经过校准的传感器响应信号
。
[0038]本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如前任一项所述的方法
。
[0039]本申请实施例还提供了一种信号校准装置，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述程序在被所述处理器读取执行时，实现如前任一所述的方法
[0040]与相关技术相比，本申请包括执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种信号校准方法，所述方法包括：执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在所述触控面板的拐角位置的传感器；所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：对每个传感器，获取在分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下，获得的传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该传感器确定的校准点；根据所述局部极大值和所述局部极小值绘制鞍部曲线；根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据该传感器确定的校准点
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与所述触控面板的一边界线相邻，且距离该边界线在第二预设范围内的传感器；所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：对每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点；根据由所述多个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点
。4.
根据权利要求2或3...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：北京钛方科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：