一种陶瓷球晶体检测方法技术

一种陶瓷球晶体检测方法，包括以下步骤：步骤一，通过镶嵌方式将陶瓷球制成陶瓷样品块，将陶瓷样品块表面打磨抛光；步骤二，将陶瓷样品块打磨好的平面进行腐蚀，经过两次腐蚀后，并冲洗干净；步骤三，将处理好的样品块粘在样品台上，对腐蚀后的平面喷金，然后放在扫描电镜下观察

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷球晶体检测方法


[0001]本专利技术涉及轴承加工
，具体是指一种陶瓷球晶体检测方法
。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，新能源汽车电机对轴承提出了新的要求，普通的轴承由内外圈和钢球构成，由于轴承内部的钢球耐磨性能和绝缘性能达不到要求，在使用一段时间后，钢球表面被电腐蚀，导致表面磨损严重，产生异响，影响电机的使用寿命，因此将轴承内部的钢球切换成绝缘性能好的陶瓷球，但是在轴承组装前需要对陶瓷球表面晶体进行检测，由于陶瓷球表面平整耐磨，现有的熔融碱腐蚀法很难破坏其表面，观察到内部晶体结构
。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，而提供一种陶瓷球晶体检测方法
。
为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是：
[0004]一种陶瓷球晶体检测方法，包括以下步骤：
[0005]步骤一，通过镶嵌方式将陶瓷球制成陶瓷样品块，将陶瓷样品块表面打磨抛光；
[0006]步骤二，将陶瓷样品块打磨好的平面进行腐蚀，经过两次腐蚀后，并冲洗干净；
[0007]步骤三，将处理好的样品块粘在样品台上，对腐蚀后的平面喷金，然后放在扫描电镜下观察
。
[0008]其中，步骤一将陶瓷球整个放入镶嵌机中，倒入镶嵌粉，调节镶嵌温度，在
155℃
～
170℃
下，陶瓷球与镶嵌粉形成陶瓷样品块，将镶嵌后的陶瓷样品块依次使用
400、800、1200
目的砂纸进行粗磨，每换一目砂纸需将打磨方向旋转
90
度，然后在抛光机上用抛光布和
2mm
氧化铝粉末进行粗抛，接着用抛光绒和
2mm
金刚石进行精抛，磨抛至陶瓷球外表面直径大于
3mm
，光亮无划痕为止，抛光机转速控制在
800
～
1100
转
/min。
[0009]其中，步骤二中在腐蚀之前将抛光过陶瓷球表面在维氏硬度仪上打点，然后将氢氧化钾晶体放于不锈钢容器中在酒精灯上加热至融化，将抛光后的陶瓷球整体覆盖在融化液体上，继续加热腐蚀，熄灭酒精灯，用水冲洗干净，吹风机吹干，再浸入装有氟化氢的塑料容器中腐蚀，取出用水冲洗干净，吹风机吹干
。
[0010]最后，在扫描电镜下观测打点处
。
[0011]与现有技术相比，本专利技术的一种陶瓷球晶体检测方法，相较于普通的熔融碱腐蚀法，增加了表面打点和氟化氢腐蚀两步骤，可以极大增加陶瓷球表面腐蚀成功率，提高陶瓷晶体结构可观察性
。
附图说明
[0012]图1是本专利技术的工艺流程图；
[0013]图2是本专利技术陶瓷球内晶体结构示意图
。
具体实施方式
[0014]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述
。
[0015]如图1所示，一种陶瓷球晶体检测方法，包括以下步骤：
[0016]步骤一，通过镶嵌方式将陶瓷球制成陶瓷样品块，对陶瓷样品块表面打磨抛光，表面光亮无划痕为止；
[0017]步骤二，将陶瓷样品块打磨好的平面进行腐蚀，在腐蚀之前，在打磨抛光的陶瓷球表面打点，增加腐蚀成功率，然后利用氢氧化钾和氟化氢对陶瓷球表面进行腐蚀，并冲洗干净；
[0018]步骤三，将处理好的样品块粘在样品台上，对腐蚀后的平面喷金，然后放在扫描电镜下观察
。
[0019]实施例
[0020]把直径
11.1125mm
的陶瓷球整个放入镶嵌机中，倒入足够的镶嵌粉，调节镶嵌温度，在
160℃
下，
10min
内陶瓷球与镶嵌粉形成陶瓷样品块，将镶嵌后的陶瓷样品块依次使用
400、800、1200
目的砂纸进行粗磨，每换一目砂纸需将打磨方向旋转
90
度，然后在抛光机上，
1000rpm
下，用抛光布和
2mm
氧化铝粉末进行粗抛，接着用抛光绒和
2mm
金刚石，
1000rpm
下进行精抛，磨抛至陶瓷球外表面直径大于
3mm
，表面光亮位置
。
[0021]然后，将抛光过的陶瓷球表面在维氏硬度仪上打4个点，打点压力控制在
1kg
，然后将氢氧化钾晶体放于不锈钢容器中在酒精灯上加热至融化，将抛光后的陶瓷球整体覆盖在融化液体上，继续加热腐蚀
10
分钟，熄灭酒精灯，用水冲洗干净，吹风机吹干，再浸入装有氟化氢的塑料容器中腐蚀，腐蚀
10
分钟，取出用水冲洗干净，吹风机吹干
。
[0022]最后，将样品在喷金机中进行2分钟喷金，然后放在扫描电镜中在
5000
倍以上的倍数下观测打点处，如图2所示，在扫描电镜中观测到的陶瓷球晶体结构
。
[0023]本专利技术并不局限于所述的实施例，本领域的技术人员在不脱离本专利技术的精神即公开范围内，仍可作一些修正或改变，故本专利技术的权利保护范围以权利要求书限定的范围为准
。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种陶瓷球晶体检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一，通过镶嵌方式将陶瓷球制成陶瓷样品块，将陶瓷样品块表面打磨抛光；步骤二，将陶瓷样品块打磨好的平面进行腐蚀，经过两次腐蚀后，并冲洗干净；步骤三，将处理好的样品块粘在样品台上，对腐蚀后的平面喷金，然后放在扫描电镜下观察
。2.
根据权利要求1所述的一种陶瓷球晶体检测方法，其特征在于：步骤一将陶瓷球整个放入镶嵌机中，倒入镶嵌粉，调节镶嵌温度，在
155℃
～
170℃
下，陶瓷球与镶嵌粉形成陶瓷样品块
。3.
根据权利要求1所述的一种陶瓷球晶体检测方法，其特征在于：步骤一镶嵌后的陶瓷样品块依次使用
400、800、1200
目的砂纸进行粗磨，每换一目砂纸需将打磨方向旋转
90
度，然后在抛光机上用抛光布和
2mm
氧化铝粉末进行粗抛，接着用抛光绒和
...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐境福，司鹏伟，周威，
申请(专利权)人：南通山口精工机电有限公司，
类型：发明
国别省市：