一种用于吸波测试的箱式测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测试装置领域，具体为一种用于吸波测试的箱式测试装置，包括测试箱体，测试箱体上设置有箱盖，且箱盖通过固定件固定在测试箱体上，测试箱体以及箱盖上均装配有吸波层，且测试箱体中设置有微波源和功率计，测试箱体上通过导轨滑动安装有抽屉，且抽屉上设置有外屏蔽门，测试箱体中升降安装有内屏蔽门，且抽屉上设置有端板，且测试箱体中固定安装有屏蔽座，且屏蔽座中活动安装有标准件，且标准件上固定连接有第二弹簧，屏蔽座上设置有侧座，且侧座上通过转轴转动安装有屏蔽盖，转轴的一侧连接有屏蔽盖控制结构，另一侧连接有标准件控制结构；达到排除测试箱内环境老化的干扰得到准确吸波数据并且及时更换箱内老化吸波层的目的

【技术实现步骤摘要】
一种用于吸波测试的箱式测试装置


[0001]本专利技术涉及测试装置
，具体为一种用于吸波测试的箱式测试装置
。

技术介绍

[0002]随着电子设备的不断发展和普及，电磁辐射对设备和人类健康的影响也变得越来越受到关注
。
为了有效地控制和减少电磁辐射的影响，吸波材料和吸波结构应运而生
。
[0003]在这些吸波结构中，箱式测试装置是一种常见的用于测量物品和设备吸波能力的设备
。
它通常由一个外壳和一个内部测试区域组成，内部测试区域被覆盖着吸波材料以吸收电磁辐射，从而保证测试结果的准确性
。
[0004]然而，现有的箱式测试装置存在着一些问题
。
现在的箱式测试装置通常采用的是一次性的方式进行检测，将待测物放入到测试区域中，检测完成之后即将其取出，得到其吸波率
。
但是在测试装置长时间使用之后，其内部的吸波材料容易出现老化
、
变形，导致箱内屏蔽环境出现变化，致使测量值与实际不符
。
并且现在使用者也难以把握箱内吸波环境是否出现了变化，不知道是否需要进行维护检修
。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种用于吸波测试的箱式测试装置，以达到排除测试箱内环境老化的干扰得到准确吸波数据并且及时更换箱内老化吸波层的目的，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于吸波测试的箱式测试装置，包括测试箱体，所述测试箱体上设置有箱盖，且箱盖通过固定件固定在测试箱体上，所述测试箱体以及箱盖上均装配有吸波层，且测试箱体中设置有微波源和功率计，所述测试箱体上通过导轨滑动安装有抽屉，且抽屉上设置有放置座以及外屏蔽门，所述测试箱体中升降安装有内屏蔽门，且抽屉上设置有端板，且内屏蔽门随着抽屉以及端板的水平移动而升降移动，所述端板上固定连接有推杆，且测试箱体中固定安装有屏蔽座，且屏蔽座中活动安装有标准件，且标准件上固定连接有第二弹簧，所述屏蔽座上设置有侧座，且侧座上通过转轴转动安装有屏蔽盖，所述转轴的一侧连接有屏蔽盖控制结构，另一侧连接有标准件控制结构，且两者通过推杆进行同步驱动，所述屏蔽盖控制结构和标准件控制结构均通过吸波盖进行覆盖
。
[0007]优选的，所述测试箱体的顶部设置有检修口，且检修口通过箱盖进行封闭，所述吸波层设置在测试箱体
、
箱盖的内壁上，且外屏蔽门和内屏蔽门上均设置有吸波层，所述微波源和功率计均设置在测试箱体的内壁上
。
[0008]优选的，所述测试箱体的侧面设置有进出口，且抽屉安装在进出口中，所述放置座位于抽屉的顶面，且外屏蔽门竖直设置，且外屏蔽门位于进出口的侧面
。
[0009]优选的，所述测试箱体靠近进出口的内壁上设置有安装座，且安装座中滑动安装有活动块，所述活动块固定连接在内屏蔽门上，且活动块上固定连接有第一弹簧，所述安装
座在内屏蔽门的两侧对称设置有两个
。
[0010]优选的，所述活动块的顶部固定连接有吊绳，且安装座上固定连接有导向管，且吊绳通过导向管的导向连接在拉块上，且拉块设置在端板的两侧
。
[0011]优选的，所述屏蔽座为顶部设置有开口的空心座，且标准件设置在屏蔽座的腔体中，且第二弹簧设置在屏蔽座的底部，且第二弹簧的顶端与标准件的底面连接
。
[0012]优选的，所述侧座位于屏蔽座的侧面，且转轴贯穿侧座的两侧进行安装，所述屏蔽盖与转轴固定连接，且屏蔽盖以及屏蔽座上均设置有屏蔽层
。
[0013]优选的，所述屏蔽盖控制结构包括有设置在转轴上的驱动齿轮，且屏蔽盖控制结构还包括有设置在屏蔽座上的导向座，且导向座中滑动安装有驱动齿条，且驱动齿条与驱动齿轮啮合，所述驱动齿条上设置有受压板，且受压板位于推杆的移动轨迹上
。
[0014]优选的，所述标准件控制结构包括有设置在转轴上的传动齿轮，且标准件控制结构还包括有与标准件固定连接的控制杆，且控制杆上固定连接有传动齿条，且传动齿条与传动齿轮啮合
。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0016]1.
本专利技术的测试装置采用二次测试的方式，分为主要测试和对照测试两个步骤，首先待测物从测试箱体侧面的进出口进入到测试箱体中，采用抽屉式结构，可以将待测物放在放置座上，通过抽屉将其送入到测试空间中，并且利用外屏蔽门进行测试空间的封闭，随后可以针对待测物进行主要测试，得出一个测量数值
X
，在主要测试完成之后，即可将抽屉向外抽出，可以进行待测物的拿取，并且在抽屉完全抽出之后即可接着进行对照测试，在这个过程中，随着抽屉的抽出，内屏蔽门能够继续完成箱体的封闭，保证对照测试在封闭的环境下进行，此时测试空间中不存在待测物，进行同样的测试得到数值
Y
，在进行对照测试时，虽然箱体内不存在待测物，但是在第二弹簧的作用下，标准件从屏蔽座中升起进行测试，标准件的反射波系数是固定已知的，以
A
表示，经过自动的换算之后得出待测物的实际反射波系数为
Y
‑
X+A
，从而排除吸波层老化等因素的影响，更为准确的得出待测物的吸波性能
。
[0017]2.
本专利技术在进行对照测试的同时，还能够得到吸波层老化之后产生的误差值，可以通过该误差值判断设备老化受损的程度，及时的进行测试装置的更换维修，由于吸波层采用的都是装配式结构，测试箱体的顶部能够打开，进而可以快速的完成吸波层更换，方便进行测试装置的维护
。
[0018]3.
本专利技术在进行主要测试时可以排除标准件的影响，抽屉插入箱内时，标准件能够自动的下降，利用屏蔽盖进行屏蔽座的封闭，防止标准件对主要测试造成影响，以保证主要测试的数值准确
。
附图说明
[0019]图1为本专利技术测试装置抽出状态的第一示意图
。
[0020]图2为本专利技术测试装置抽出状态的第二示意图
。
[0021]图3为本专利技术测试装置测试状态的示意图
。
[0022]图4为本专利技术箱内结构的第一示意图
。
[0023]图5为本专利技术箱内结构的第二示意图
。
[0024]图6为本专利技术抽屉结构的示意图
。
[0025]图7为本专利技术内屏蔽门结构的示意图
。
[0026]图8为本专利技术标准件与屏蔽座结构的示意图
。
[0027]图9为本专利技术屏蔽座结构的示意图
。
[0028]图
10
为本专利技术标准件安装结构的示意图
。
[0029]图中：测试箱体
1、
箱盖
2、
固定件
3、
吸波层
4、
微波源
5、
功率计<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于吸波测试的箱式测试装置，包括测试箱体
(1)
，其特征在于：所述测试箱体
(1)
上设置有箱盖
(2)
，且箱盖
(2)
通过固定件
(3)
固定在测试箱体
(1)
上，所述测试箱体
(1)
以及箱盖
(2)
上均装配有吸波层
(4)
，且测试箱体
(1)
中设置有微波源
(5)
和功率计
(6)
，所述测试箱体
(1)
上通过导轨
(7)
滑动安装有抽屉
(8)
，且抽屉
(8)
上设置有放置座
(9)
以及外屏蔽门
(10)
，所述测试箱体
(1)
中升降安装有内屏蔽门
(13)
，且抽屉
(8)
上设置有端板
(17)
，且内屏蔽门
(13)
随着抽屉
(8)
以及端板
(17)
的水平移动而升降移动，所述端板
(17)
上固定连接有推杆
(19)
，且测试箱体
(1)
中固定安装有屏蔽座
(20)
，且屏蔽座
(20)
中活动安装有标准件
(22)
，且标准件
(22)
上固定连接有第二弹簧
(21)
，所述屏蔽座
(20)
上设置有侧座
(23)
，且侧座
(23)
上通过转轴
(24)
转动安装有屏蔽盖
(25)
，所述转轴
(24)
的一侧连接有屏蔽盖控制结构，另一侧连接有标准件控制结构，且两者通过推杆
(19)
进行同步驱动，所述屏蔽盖控制结构和标准件控制结构均通过吸波盖
(32)
进行覆盖
。2.
根据权利要求1所述的一种用于吸波测试的箱式测试装置，其特征在于：所述测试箱体
(1)
的顶部设置有检修口，且检修口通过箱盖
(2)
进行封闭，所述吸波层
(4)
设置在测试箱体
(1)、
箱盖
(2)
的内壁上，且外屏蔽门
(10)
和内屏蔽门
(13)
上均设置有吸波层
(4)
，所述微波源
(5)
和功率计
(6)
均设置在测试箱体
(1)
的内壁上
。3.
根据权利要求1所述的一种用于吸波测试的箱式测试装置，其特征在于：所述测试箱体
(1)
的侧面设置有进出口，且抽屉
(8)
安装在进出口中，所述放置座
(9)
位于抽屉
(8)
的顶面，且外屏蔽门
(10)
竖直设置，且外屏蔽门
(10)
位于进出口的侧面
。4.
根据权利要求3所述的一种用于吸波测试的箱式测试装...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘烨，顾亚，董金生，许玮，张超，
申请(专利权)人：东莞禹龙通电子有限公司，
类型：发明
国别省市：