一种用于电源管理芯片的测试结构制造技术

本申请公开了一种用于电源管理芯片的测试结构，包括控制终端，控制终端电性连接有控制板

【技术实现步骤摘要】
一种用于电源管理芯片的测试结构


[0001]本申请涉及电源管理芯片测试的
，具体涉及一种用于电源管理芯片的测试结构
。

技术介绍

[0002]电源管理集成电路
(IC)
是一种芯片，负责电子设备系统中电能的转换
、
配电
、
检测和其他电源管理
。
其主要负责将源电压和电流转换为可由微处理器
、
传感器等负载使用
。
[0003]电源管理芯片在研发过程中需要进行测试，而且要对多个芯片本体进行测试，从而判断芯片的各项参数是否达到设计要求，性能的一致性是否满足要求
。
现有技术大多是通过人工手动操作仪器仪表进行测试，手动测试只能一次性测试一个芯片，测试都是手动完成，效率低；且测试结果依赖于测试者对测试项目的深刻理解和对仪表的正确操作，风险较大
。
由于手动测试一次测试一个芯片，多个芯片的测试结果可能是基于不同的测试环境，测试环境带来的测试结果的差异会造成对芯片性能一致性的误判概率大幅提升
。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本申请提供了一种用于电源管理芯片的测试结构
。
[0005]本申请实施例提供的一种用于电源管理芯片的测试结构，包括控制终端，所述控制终端电性连接有控制板
、
电源
、
负载和万用表；
[0006]所述控制板的电源连接端口连接所述电源，且所述电源连接端口通过所述控制板内的第一连接模块连通于所述控制板的其中一个输出引脚，所述输出引脚用于为待测的测试板提供电压；
[0007]所述控制板的负载连接端口连接所述负载，且所述负载连接端口通过所述控制板内的第二连接模块连通于所述控制板的其中一个输入引脚，所述输入引脚用于连接待测的测试板的负载输出端；
[0008]所述控制板的测量设备连接端口连接万用表，所述测量设备连接端口通过所述控制板内的内部电路连通于所述控制板的其中一个测量引脚，所述测量引脚用于连接待测的测试板的输入测试端或输出测试端；
[0009]所述控制板的通信端口连接于所述控制终端，用于接收所述控制终端的控制指令
。
[0010]在一些实施例中，所述控制板为
STM32
微处理器
。
[0011]在一些实施例中，所述输出引脚和输入引脚分别设置有两个
。
[0012]在一些实施例中，所述测量引脚设置有四个
。
[0013]在一些实施例中，所述第一连接模块一一对应于所述输出引脚设置，每组所述第一连接模块包括第一继电器
、
第二继电器和第一
NMOS
管；
[0014]所述第一继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第一
NMOS
管的漏极，所述第一继电器的触点的一端连接于所述电源连接端口的负极，另一端连
接于对应的所述输出引脚的负极；
[0015]所述第二继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第一
NMOS
管的漏极，所述第二继电器的触点的一端连接于所述电源连接端口的正极，另一端连接于对应的所述输出引脚的正极，
[0016]所述第一
NMOS
管的源极接地，栅极用于接收来源于所述通信端口的控制信号
。
[0017]在一些实施例中，所述第一继电器的线圈的两端之间连接有第一二极管，所述第一二极管的正极连接于所述第一继电器的线圈连接于所述第一
NMOS
管的一端，负极连接于所述第一继电器的线圈连接于控制板输入电压的一端，所述第一二极管用于为所述第一继电器的线圈提供续流通道；
[0018]所述第二继电器的线圈的两端之间连接有第二二极管，所述第二二极管的正极连接于所述第二继电器的线圈连接于所述第一
NMOS
管的一端，负极连接于所述第二继电器的线圈连接于控制板输入电压的一端，所述第二二极管用于为所述第二继电器的线圈提供续流通道
。
[0019]在一些实施例中，所述第二连接模块一一对应于所述输入引脚设置，每组所述第二连接模块包括第三继电器
、
第四继电器和第二
NMOS
管；
[0020]所述第三继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第二
NMOS
管的漏极，所述第三继电器的触点的一端连接于所述负载连接端口的负极，另一端连接于对应的所述输入引脚的负极；
[0021]所述第四继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第二
NMOS
管的漏极，所述第四继电器的触点的一端连接于所述负载连接端口的正极，另一端连接于对应的所述输入引脚的正极；
[0022]所述第二
NMOS
管的源极接地，栅极用于接收来源于所述通信端口的控制信号
。
[0023]在一些实施例中，所述第三继电器的线圈的两端之间连接有第三二极管，所述第三二极管的正极连接于所述第三继电器的线圈连接于所述第二
NMOS
管的一端，负极连接于所述第三继电器的线圈连接于控制板输入电压的一端，所述第三二极管用于为所述第三继电器的线圈提供续流通道；
[0024]所述第二继电器的线圈的两端之间连接有第四二极管，所述第四二极管的正极连接于所述第四继电器的线圈连接于所述第二
NMOS
管的一端，负极连接于所述第四继电器的线圈连接于控制板输入电压的一端，所述第四二极管用于为所述第四继电器的线圈提供续流通道
。
[0025]本申请技术方案，至少包括如下优点：
[0026]1.
本申请通过提供一种用于电源管理芯片的测试结构，有助于提高多个测试板运行参数测试的自动化程度
。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0028]图1是本申请一个示例性实施例提供的用于电源管理芯片的测试结构的示意图；
[0029]图2是本申请一个示例性实施例提供的第一连接模块的电路图；
[0030]图3是本申请一个示例性实施例提供的第二连接模块的电路图
。
具体实施方式
[0031]下面将结合附图，对本申请中的技术方案进行清楚
、
完整的描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在不做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于电源管理芯片的测试结构，其特征在于，包括控制终端，所述控制终端电性连接有控制板
、
电源
、
负载和万用表；所述控制板的电源连接端口连接所述电源，且所述电源连接端口通过所述控制板内的第一连接模块
(101)
连通于所述控制板的其中一个输出引脚，所述输出引脚用于为待测的测试板提供电压；所述控制板的负载连接端口连接所述负载，且所述负载连接端口通过所述控制板内的第二连接模块
(102)
连通于所述控制板的其中一个输入引脚，所述输入引脚用于连接待测的测试板的负载输出端；所述控制板的测量设备连接端口连接万用表，所述测量设备连接端口通过所述控制板内的内部电路连通于所述控制板的其中一个测量引脚，所述测量引脚用于连接待测的测试板的输入测试端或输出测试端；所述控制板的通信端口连接于所述控制终端，用于接收所述控制终端的控制指令
。2.
根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述控制板为
STM32
微处理器
。3.
根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述输出引脚和输入引脚分别设置有两个
。4.
根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述测量引脚设置有四个
。5.
根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述第一连接模块
(101)
一一对应于所述输出引脚设置，每组所述第一连接模块包括第一继电器
、
第二继电器和第一
NMOS
管；所述第一继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第一
NMOS
管的漏极，所述第一继电器的触点的一端连接于所述电源连接端口的负极，另一端连接于对应的所述输出引脚的负极；所述第二继电器的线圈的一端连接于控制板输入电压，另一端连接于所述第一
NMOS
管的漏极，所述第二继电器的触点的一端连接于所述电源连接端口的正极，另一端连接于对应的所述输出引脚的正极，所述第一
NMOS
管的源极接地，栅极用于接收来源于所述通信端口的控制信号
。6.
根...

【专利技术属性】
技术研发人员：范瑞玉，胡明，薛飞，
申请(专利权)人：无锡前诺德半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：