钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法技术

本发明专利技术属于钙钛矿量子点检测技术领域，具体涉及钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法

【技术实现步骤摘要】
钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法


[0001]本专利技术属于钙钛矿量子点检测
，具体涉及钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法以及微观尺度图像的获取方法
。

技术介绍

[0002]金属卤化物钙钛矿量子点
(PeQDs)
由于具有可调节的带隙
、
优异的电致发光
、
高电荷迁移率
、
长载流子寿命的特点和高荧光量子产率等优点，作为一种性能优越的半导体发光材料进入大众视野
。
近几年来，钙钛矿因其卓越性能在许多光电应用中显示出广阔的前景，并已成功应用于光伏电池，光电探测器，激光器，发光二极管等诸多领域
。
由于
PeQDs
的尺寸小至纳米级别，表面原子的比例会相应地增加，甚至可达到
30
％以上
。
因此，量子点表面容易出现原子的不完全配位现象，会形成一些表面缺陷，这些表面缺陷捕获激子不仅导致非辐射复合增加，降低发光效率，而且也会影响钙钛矿量子点在尺寸/>、
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，包括以下步骤：利用电子束辐照钙钛矿量子点表面，去除钙钛矿量子点的表面缺陷；所述电子束由透射电子显微镜提供时，所述电子束的束流密度
≥17pA/cm2；所述电子束由扫描透射电子显微镜提供时，所述电子束的斑尺寸
≥0.26nm
，电子束流
≥0.16nA。2.
根据权利要求1所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点的化学式如式1所示：
CsPbX3式1，式1中的元素
X
为卤素；所述钙钛矿量子点的表面缺陷为
[PbX6]4‑
八面体
。3.
根据权利要求2所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点为
CsPbBr3量子点或
CsPbI3量子点
。4.
根据权利要求1～3任一项所述的钙钛矿量子点的表面缺陷去除方法，其特征在于，所述钙钛矿量子点的晶粒尺寸为7～
12nm
；所述钙钛矿量子点的表面缺陷的尺寸为1～

【专利技术属性】
技术研发人员：梁国弘，刘红丽，袁龙飞，靳凤民，方卉，刘士新，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：