基于装调模型比较的异形孔径双反光学系统装调方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于装调模型比较的异形孔径双反光学系统装调方法

【技术实现步骤摘要】
基于装调模型比较的异形孔径双反光学系统装调方法


[0001]本专利技术属于光学领域，涉及光学望远镜装调技术方法，尤其涉及一种采用基于子孔径测量及装调模型比较的异形孔径双反光学系统装调方法
。

技术介绍

[0002]大孔径光学望远镜可以提供更强大的观测能力，扩展对宇宙的认知范围，为天体物理学
、
宇宙学等领域的科学研究提供更精确的观测数据，是推动天文学和相关科学领域发展的关键设备
。
在空间或天文应用中，由于减重或需要配备其他诸如热系统需要，往往将望远镜系统设计为非圆孔径甚至是异形孔径
。
异形孔径望远镜进行精确装调后才可以确保其高质量的成像性能
。
装调的目标是实现最佳的光学性能，并确保成像质量均匀一致，从而使望远镜能够提供准确
、
可靠的观测数据
。
目前望远镜装调技术可以包括光学定位
、
对焦和聚焦
、
环境校准以及对齐和调整
。
在精密装调阶段，需要使用干涉仪以及标准镜面检测系统波像差判断本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
基于装调模型比较的异形孔径双反光学系统装调方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：根据光学设计得到的异形孔径双反光学系统，获得各个光学元件的实际参数，根据所述光学元件的实际参数以及标准平面镜参数建立自准直检测光路装调模型；步骤2：首先使用光学设计软件模拟标准平面镜对中测量；在光学模型中，将标准平面镜口径中心置于待装调光学系统的口径中心；建立该情况Ⅰ下光学波像差类别库，即分别记录五种情景系统波像差
W1～
W5；步骤3：其次使用光学设计软件模拟标准平面镜偏心测量；在光学模型中，将标准平面镜口径中心置于待装调光学系统的口径一侧，建立该情况Ⅱ下光学波像差类别库，记录步骤2中五种情况下的系统波像差，分别记为
W6～
W
10
；再将标准平面镜口径中心置于待装调光学系统的口径另外一侧，建立该情况Ⅲ下光学波像差类别库，记录步骤2中五种情况下的系统波像差
W
11
～
W
15
；步骤4：以主镜为基准，使用投线仪将标准平面镜与主镜对准，安装副镜进行正式装调；首先将标准平面镜放置于待测系统中心；调整副镜的倾斜
/
偏心，使用干涉仪测量获得情况Ⅰ下的系统波像差
W
Ⅰ’
，包括
W1’
～
W5’
；步骤5：将步骤2得到的系统波像差系数记为矩阵
E
，步骤4得到的系统波像差系数记为矩阵
O
，依次进行相关性检验；通过相关性检验算法，使用软件分析
E
与
O
在数学上的相关性，得到一种或者两种显著相关的副镜偏差情况，确定副镜姿态，调整副镜；步骤6：将标准平面镜放置在待测系统一侧，模块化调整副镜，获得情况Ⅱ下的系统波像差
W
Ⅱ’
，包括
W6’
～
W
10
’
，重复步骤5，将
W
Ⅱ’
依次与
W6～
W
10
进行相关性检验，确定副镜姿态，调整副镜；再将标准平面镜放置在待测系统另一侧，模块化调整副镜，获得情况Ⅲ下的系统波像差
W
Ⅲ’
，包括
W
11
’
～
W
15
’
，将
W
Ⅲ’
依次与

【专利技术属性】
技术研发人员：李金鹏，刘仁爱，宋左子菲，何鹏，
申请(专利权)人：中科院南京天文仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：