测点检查方法技术

技术编号:39570943 阅读:8 留言:0更新日期:2023-12-03 19:22
本发明专利技术提供一种测点检查方法

【技术实现步骤摘要】
测点检查方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术涉及
PCB
检测
,特别是涉及一种测点检查方法

装置及电子设备


技术介绍

[0002]在
PCB(Printed Circuit Board
,印制电路板
)
设计过程中按照测试要求会在
PCB
上的添加测点,设计员在设计
PCB
的过程中,需要严格遵守测点添加的规则在
PCB
板上添加测点

[0003]但
PCB
在实际的设计过程中,同一个
PCB
会存在多个设计员共同参与设计,各个设计员之间经验并不相同,导致添加的测点存在各种问题,在将
PCB
应用至实际测试过程之前,需要检查
PCB
中各个测点的属性是否符合测试要求

由于测点属性较多,对于复杂的
PCB
,其中可能添加有上万个测点,如果通过人工进行检查,将消耗大量的人力和时间


技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术提供一种测点检查方法

装置及电子设备

[0005]一种测点检查方法,包括:
[0006]获得
PCB
中焊点的属性信息,所述
PCB
包含至少一个焊点;
[0007]基于所述属性信息,识别所述
PCB
中的测点;所述测点为所述
PCB
中待测试的焊点;
[0008]对所述
PCB
中的测点进行检查,获得不满足测试要求的测点

[0009]上述的方法,所述
PCB
包含至少一个点层,所述点层包含至少一个焊点;
[0010]所述方法还包括:
[0011]显示所述
PCB
中的点层

[0012]上述的方法,还包括:
[0013]在已显示的点层上对不满足所述测试要求的测点进行标记

[0014]上述的方法,所述获得
PCB
中焊点的属性信息,包括:
[0015]获取所述
PCB
中焊点的第一位置信息;
[0016]基于所述第一位置信息,获得所述焊点的点
ID

[0017]应用所述点
ID
查询所述
PCB
中焊点的属性信息

[0018]上述的方法,所述基于所述属性信息,识别所述
PCB
中的测点,包括:
[0019]基于每个所述焊点的属性信息所指向的点类型,确定点类型为测点类型的焊点为所述
PCB
中的测点;
[0020]或者,
[0021]基于每个所述焊点的属性信息中包含的焊盘尺寸及封装名称,确定所述焊盘尺寸满足预设尺寸规则,且所述封装名称满足预设封装规则的焊点为测点

[0022]上述的方法,所述对所述
PCB
中的测点进行检查,包括:
[0023]按照预先设定的
PCB
中测点的次序,依次对所述
PCB
中的测点进行检查

[0024]上述的方法,所述对所述
PCB
中的测点进行检查,包括:
[0025]获得所述测点的属性信息中包含的至少一个属性参数;
[0026]将所述属性参数与标准属性参数进行比对;
[0027]在所述属性参数与标准属性参数一致的情况下,所述测点满足测试要求;
[0028]在所述属性参数与标准属性参数不一致的情况下,所述测点不满足测试要求

[0029]上述的方法,还包括:
[0030]获取所述
PCB
中不满足测试要求的测点的测点信息;
[0031]输出所述测点信息

[0032]一种测点检查装置,包括:
[0033]获取单元,用于获得
PCB
中焊点的属性信息,所述
PCB
包含至少一个焊点;
[0034]识别单元,用于基于所述属性信息,识别所述
PCB
中的测点;
[0035]检查单元,用于对所述
PCB
中的测点进行检查,获得不满足测试要求的测点

[0036]一种存储介质,所述存储介质包括存储的指令,其中,在所述指令运行时控制所述存储介质所在的设备执行上述的测点检查方法

[0037]一种电子设备,包括存储器,以及一个或者一个以上的指令,其中一个或者一个以上指令存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行上述的测点检查方法

[0038]与现有技术相比,本专利技术包括以下优点:
[0039]本专利技术提供一种测点检查方法,包括:获得
PCB
中焊点的属性信息,
PCB
包含至少一个焊点;基于属性信息,识别
PCB
中的测点;测点为
PCB
中待测试的焊点;对
PCB
中的测点进行检查,获得不满足测试要求的测点

本专利技术可以在测点进行测试之前对测点进行检查,避免测点不满足测试要求的情况下导致测点测试异常,同时也无需通过人工的方式查找出不满足测试要求的测点,从而提升
PCB
的测试效率

附图说明
[0040]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图

[0041]图1为本专利技术实施例提供的一种测点检查方法的方法流程图;
[0042]图2为本专利技术实施例提供的一种测点检查方法的测点显示示意图;
[0043]图3为本专利技术实施例提供的一种测点检查方法的标记测点示意图;
[0044]图4为本专利技术实施例提供的一种测点检查方法的方法示意图图;
[0045]图5为本专利技术实施例提供的一种测点检查系统的系统结构图;
[0046]图6为本专利技术实施例提供的一种测点检查装置的装置结构图;
[0047]图7为本专利技术实施例提供的一种电子设备结构示意图

具体实施方式
[0048]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚

完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例

基于
本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测点检查方法,包括:获得
PCB
中焊点的属性信息,所述
PCB
包含至少一个焊点;基于所述属性信息,识别所述
PCB
中的测点;所述测点为所述
PCB
中待测试的焊点;对所述
PCB
中的测点进行检查,获得不满足测试要求的测点
。2.
根据权利要求1所述的方法,所述
PCB
包含至少一个点层,所述点层包含至少一个焊点;所述方法还包括:显示所述
PCB
中的点层
。3.
根据权利要求2所述的方法,还包括:在已显示的点层上对不满足所述测试要求的测点进行标记
。4.
根据权利要求1所述的方法,所述获得
PCB
中焊点的属性信息,包括:获取所述
PCB
中焊点的第一位置信息;基于所述第一位置信息,获得所述焊点的点
ID
;应用所述点
ID
查询所述
PCB
中焊点的属性信息
。5.
根据权利要求4所述的方法,所述基于所述属性信息,识别所述
PCB
中的测点,包括:基于每个所述焊点的属性信息所指向的点类型,确定点类型为测点类型的焊点为所述
PCB
中的测点;或者,基于每个所述焊点的属性信息中包含的焊盘尺寸及封装名称,确定所述焊盘尺寸满足预设尺寸规则,...

【专利技术属性】
技术研发人员:李倩陈兵
申请(专利权)人:联想北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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