【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路散热涂层温度测试装置及方法
[0001]本专利技术属于集成电路散热领域,更具体的说涉及一种用于集成电路散热涂层温度测试装置及方法
。
技术介绍
[0002]近年来,消费电子逐步向轻薄化
、
高性能和多功能方向发展
。
电子产品的性能越来越强大,而集成度和组装密度不断提高,导致其工作功耗和发热量的增大
。
据研究,电子元器件因热量集中引起的材料失效占总失效率的
65
%
‑
80
%,热管理技术是电子产品考虑的关键因素
。
此外,
5G
时代电子设备上集成的功能逐渐增加并且复杂化,以及设备本身的体积逐渐缩小,对电子设备的热管理技术提出了更高的要求
。
解决消费电子的散热问题成为
5G
时代电子设备的难点和重点之一
。
[0003]传统的热界面材料存在导热系数低
、
接触性差
、
易老化
、
易分层等缺点
。
目前,常用降低接触表面热量的方法是在固体接触界面填充热界面材料,如石墨烯
、
导热硅脂
、
相变材料
、
导热硅胶片等,这些材料是通过添加导热颗粒提高导热性能的聚合物材料
。
其中石墨散热膜,是一种全新的导热散热材料,高导热:最高热导率
5300w/m
·
k
;高柔性 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种用于集成电路散热涂层温度测试装置,其特征在于:所述的温度测试装置包括冷棒端
(1)、
热棒端
(2)、
数据采集器
(3)、
电源
(4)、
加热器
(5)、
流量计
(6)、
冷水回路
(7)、
水泵
(8)、
红外探测器
(9)
;所述的冷棒端
(1)
上安装有红外探测器
(9)
,冷棒端
(1)
上安装有多个热电偶,分别连接数据采集器
(3)
,冷棒顶端上还安装有用于测量冷棒顶端的温度的显微红外探测器
(9)
;所述的热棒端
(2)
上安装有多个热电偶,热电偶分别连接数据采集器
(3)
,热棒端
(2)
底端上安装有加热器
(5)
,提供加热源负荷,电源
(4)
与加热器
(5)
连接;冷棒端
(1)
内安装有冷水回路
(7)
,冷水回路
(7)
上安装有流量计
(6)
和水泵
(8)。2.
一种用于集成电路散热涂层温度测试方法,所述的方法适用于如权利要求1所述的装置,其特征在于:所述的温度测试方法包括测量冷棒上表面的温度,计算冷棒的热传导率;根据冷棒的热传导率和中间热电偶位置到冷棒下表面的距离,计算冷棒下表面的温度;建立热棒散热模型,计算热棒上表面温度;计算界面涂层散热温度和热流密度;散热温度和热流密度表征集成电路散热界面的散热能力
。3.
根据权利要求2所述的一种用于集成电路散热涂层温度测试方法,其特征在于:所述的计算冷棒的热传导率采用以下步骤实现的:使用显微红外探测器9测量冷棒上表面的温度为
T1
,根据傅里叶传导定律,冷棒的热传导率如下:其中,
T1是冷棒端1上表面的温度,
T2是冷棒中间热电偶所在界面的温度,
d
12
是冷棒上表面到中间热电偶的距离,
d2上是冷棒中间热电偶位置到冷棒下表面的距离;
4.
根据权利要求2所述的一种用于集成电路散热涂层温度测试方法,其特征在于:所述的计算冷棒下表面的温度具体方法如下:
t1为冷棒上热电偶所在界面单个热电偶测量温度,
T2是冷棒中间热电偶温度的平均值,
n
为冷棒中热电偶的数量;...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵霞,张曦雯,李颖,徐建,窦萌,桑素丽,彭静,张玉律,刘锴,
申请(专利权)人:北京市计量检测科学研究院,
类型:发明
国别省市:
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