辅助测试设备制造技术

本申请涉及一种辅助测试设备，包括转接PCB；转接座，所述转接座设置于所述转接PCB上且与所述转接PCB电性导通，所述转接座具有金属触点；以及探针组件，所述探针组件包括安装板和测试探针，所述安装板设置于所述转接座，所述测试探针设置于所述安装板，且所述测试探针的端部与所述金属触点接触导通。需要对待测端子进行检测时，只需要对转接座进行插线，使测试探针与待测端子接触即可，测试信号能直接通过测试探针传导至转接座并通过插线向外传输至检测设备中，由于测试探针与转接座的金属触点是保持直接接触导通的，中间转接结构和环节减少，从而有助于提高信号传输的稳定性，保证测试结果的准确度。证测试结果的准确度。证测试结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】
辅助测试设备


[0001]本申请涉及产品测试
，特别是涉及一种辅助测试设备。

技术介绍

[0002]目前，在电子设备制造过程中会存在一道屏线手动插线的工序，而为了保证手动插线的安装精度和连接可靠性，就需要对插线后的屏线端子进行测试，鉴于传统人工测试存在劳动强度较高，测试稳定性较差的问题，行业内通常采用微针测试机构替代人力进行自动测试作业。
[0003]现有的微针测试机构中，转接模组的结构比较复杂，测试探针与转接模组连接的中间转接结构多，容易造成信号传输稳定性降低，影响测试结果精度。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对中间转接结构多造成信号传输不稳定，影响测试结果精度的问题，提供一种辅助测试设备。
[0005]本申请提供一种辅助测试设备，其包括：
[0006]转接PCB；
[0007]转接座，所述转接座设置于所述转接PCB上且与所述转接PCB电性导通，所述转接座具有金属触点；以及，
[0008]探针组件，所述探针组件包括安装板和测试探针，所述安装板设置于所述转接座，所述测试探针设置于所述安装板，且所述测试探针的端部与所述金属触点接触导通。
[0009]上述方案的辅助测试设备中，转接座固定安装在转接PCB上并相互电性导通，测试探针先安装在安装板上，再将安装板装设到转接座上，从而能使测试探针与金属触点直接接触导通。需要对待测端子进行检测时，只需要对转接座进行插线，使测试探针与待测端子接触即可，测试信号能直接通过测试探针传导至转接座并通过插线向外传输至检测设备中，由于测试探针与转接座的金属触点是保持直接接触导通的，中间转接结构和环节减少，从而有助于提高信号传输的稳定性，保证测试结果的准确度。
[0010]下面对本申请的技术方案作进一步的说明：
[0011]在其中一个实施例中，所述安装板设有卡口，所述卡口与所述转接座卡扣连接。
[0012]在其中一个实施例中，所述安装板面向所述转接PCB的侧面凹设形成有安装槽，所述测试探针插置于所述安装槽内。
[0013]在其中一个实施例中，所述辅助测试设备还包括测试座、导套组件、第一紧固件、第二紧固件和护板，所述护板设置于所述安装板背离所述转接PCB的一侧，所述第一紧固件将所述转接PCB、所述安装板和所述护板装配固定；
[0014]所述转接PCB通过所述第二紧固件装设在所述测试座上，所述导套组件可伸缩浮动的装设在所述测试座上，所述导套组件设有探针过孔，所述导套组件受压产生收缩浮动时，所述测试探针能从所述探针过孔露出，所述护板与所述导套组件抵接。
[0015]在其中一个实施例中，所述导套组件包括弹性件和探针导套，所述弹性件设置于所述测试座，所述探针导套与所述弹性件连接，所述探针导套设有所述探针过孔。
[0016]在其中一个实施例中，所述测试座凹设形成有限位导槽，所述弹性件装设于所述限位导槽内，所述探针导套包括安装部，所述安装部滑动装设于所述限位导槽内并与所述弹性件抵接。
[0017]在其中一个实施例中，所述辅助测试设备还包括定位件，所述测试座还设有与所述限位导槽连通的长槽孔，所述长槽孔的长度延伸方向与所述安装部的滑动方向一致，所述定位件穿过所述长槽孔后与所述安装部连接。
[0018]在其中一个实施例中，所述探针导套还包括本体部，所述本体部与所述安装部连接，所述本体部的长度方向的至少一端伸出对应的所述安装部的长度方向的端面并形成有定位面，所述定位面能与所述测试座的底面抵接定位。
[0019]在其中一个实施例中，所述探针导套还包括抵接部，所述抵接部朝向所述转接PCB的侧面凹设形成有避让槽，所述转接PCB和所述安装板的下端与所述避让槽的槽底间隙配合。
[0020]在其中一个实施例中，所述抵接部背离所述转接PCB的侧面凹设形成有定位槽，所述定位槽用于容置待测端子。
附图说明
[0021]构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本申请一实施例所述的辅助测试设备的装配结构图。
[0024]图2为辅助测试设备的轴剖结构图。
[0025]图3为图1中辅助测试设备的爆炸结构示意图。
[0026]图4为安装板与转接座对位的结构示意图。
[0027]图5为安装板与转接座卡扣连接的结构示意图。
[0028]图6为测试探针与安装板装配的结构示意图。
[0029]图7为图6中A处的局部放大结构示意图。
[0030]图8为探针导套的仰视结构图。
[0031]附图标记说明：
[0032]100、辅助测试设备；10、转接PCB；20、转接座；30、探针组件；31、安装板；311、卡口；312、安装槽；32、测试探针；40、测试座；41、限位导槽；42、长槽孔；50、导套组件；51、弹性件；52、探针导套；521、探针过孔；522、安装部；523、本体部；523a、定位面；524、抵接部；524a、避让槽；525、定位槽；60、第一紧固件；70、第二紧固件；80、护板；90、定位件；90a、间隙；200、待测端子。
具体实施方式
[0033]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。
[0034]在本申请的描述中，需要理解的是，若有出现这些术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等，这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0035]此外，若有出现这些术语“第一”、“第二”，这些术语仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，若有出现术语“多个”，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0036]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现术语“安装”、“本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辅助测试设备，其特征在于，包括：转接PCB；转接座，所述转接座设置于所述转接PCB上且与所述转接PCB电性导通，所述转接座具有金属触点；以及，探针组件，所述探针组件包括安装板和测试探针，所述安装板设置于所述转接座，所述测试探针设置于所述安装板，且所述测试探针的端部与所述金属触点接触导通。2.根据权利要求1所述的辅助测试设备，其特征在于，所述安装板设有卡口，所述卡口与所述转接座卡扣连接。3.根据权利要求1所述的辅助测试设备，其特征在于，所述安装板面向所述转接PCB的侧面凹设形成有安装槽，所述测试探针插置于所述安装槽内。4.根据权利要求1所述的辅助测试设备，其特征在于，所述辅助测试设备还包括测试座、导套组件、第一紧固件、第二紧固件和护板，所述护板设置于所述安装板背离所述转接PCB的一侧，所述第一紧固件将所述转接PCB、所述安装板和所述护板装配固定；所述转接PCB通过所述第二紧固件装设在所述测试座上，所述导套组件可伸缩浮动的装设在所述测试座上，所述导套组件设有探针过孔，所述导套组件受压产生收缩浮动时，所述测试探针能从所述探针过孔露出，所述护板与所述导套组件抵接。5.根据权利要求4所述的辅助测试设备，其特征在于，所述导套组件包括弹性件和探针导套...

【专利技术属性】
技术研发人员：王洋，吕现彬，衷存鹉，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：