校正误差矢量幅度测量值制造技术

本发明专利技术涉及校正误差矢量幅度测量值

【技术实现步骤摘要】
校正误差矢量幅度测量值


[0001]本说明书描述了用于校正误差矢量幅度测量值的系统示例
。

技术介绍

[0002]测试系统被配置为测试电子设备的操作
。
测试可包括向设备发送信号以及基于其响应来确定设备对这些信号作何反应
。
例如，测试可包括向诸如集成电路
(IC)
之类的设备发送测试信号，以及从该设备接收返回的射频
(RF)
信号
。
处理
RF
信号以确定设备的运行是否可接受
。
误差矢量幅度
(EVM)
是从
DUT
接收到的信号质量的量度
。

技术实现思路

[0003]示例性方法确定由被测设备
(DUT)
输出的信号的第一误差矢量幅度
(EVM)。
该方法包括在该
DUT
与矢量信号分析仪
(VSA)
之间的信号路径上添加衰减，其中该衰减是可变的；在该
VSA
处针对由该
DUT
输出的该信号的不同衰减值测量至少两个第二
EVM
，其中该至少两个第二
EVM
被来自该
VSA
的噪声破坏，并且其中该至少两个第二
EVM
中的每一者都基于两个或更多个测量值；以及，基于线性关系来确定该第一
EVM
，该线性关系基于该第一
EVM、
该至少两个第二/>EVM
和基于该衰减的函数，其中该第一
EVM
没有来自该
VSA
的至少一些噪声
。
该方法可包括下列示例性特征中的一者或多者
(
单独地或组合地
)。
[0004]该方法可包括基于与该至少两个第二
EVM
拟合的线的斜率来确定来自该
VSA
的该噪声
。
该方法可包括保持来自该
DUT
的输出信号恒定，同时使用衰减器改变该衰减以产生到
VSA
的输入信号
。
对于每个不同的衰减值，该方法可包括在该
VSA
处测量一个或多个附加的第二
EVM
，其中该一个或多个附加的第二
EVM
中的每一者基于两个或更多个测量值；以及，基于线性关系确定该第一
EVM
，该线性关系基于该第一
EVM、
该至少两个第二
EVM
和该一个或多个附加的第二
EVM、
以及基于衰减的函数
。
[0005]该方法可包括改变到该
VSA
的参考电平信号，该参考电平信号对应于该
VSA
在没有向由该
DUT
输出的信号中引入显著失真的情况下能够处理的最大信号；以及，对该输入信号的每个变化重复添加
、
测量和确定以产生不同的第一
EVM。
该线性关系可包括通过基于该至少两个第二
EVM
的值的线与该基于衰减的函数的零值的交点
。
该线性关系可包括通过基于该至少两个第二
EVM
的值的线的斜率
。
基于该线性关系来确定该第一
EVM
可包括将基于该斜率的线外推到该基于衰减的函数的零值
。
该基于衰减的函数可包括该衰减的平方的倒数
。
[0006]压缩失真是该
VSA
中增益的函数
。
该方法可包括降低该
VSA
的增益以减少该第一
EVM
中增加的失真
。
可在基本上从该
VSA
中去除压缩失真的
VSA
增益处确定优化的第一
EVM。
通过降低
VSA
增益，可降低该
VSA
对该第一
EVM
的压缩失真贡献
。
[0007]该方法可包括基于改变该
VSA
的增益来获得衰减值
。
获得该衰减值可包括基于对应于该
VSA
的不同噪声贡献和不同衰减值的该
VSA
的不同增益设置获得
EVM
测量值；并且，基于这些
EVM
测量值识别其中这些
EVM
测量值基本相同的这些衰减值中的一者
。
如果这些
EVM
测量值不变，则该衰减值中的所述一者是该测试通道中的实际衰减
。
如果
EVM
测量值响应于
衰减值的变化而减小，则可减小衰减值以获得附加的
EVM
测量值
。
如果
EVM
响应于衰减值的变化而增加，则增加衰减值以获得附加的
EVM
测量值
。
[0008]该方法可在包括至少一个处理设备和用于存储可由该至少一个处理设备执行的指令的存储器的自动测试设备
(ATE)
上执行，其中该
VSA
是或不是该
ATE
的一部分
。
该方法可使用该
ATE
与该
DUT
之间的衰减器来执行
。
该方法可使用作为该
ATE
一部分的衰减器来执行
。
[0009]示例性方法补偿了相位噪声对由被测设备
(DUT)
输出的信号的第一误差矢量幅度
(EVM)
的影响
。
该方法包括估计来自矢量信号分析仪
(VSA)
的相位噪声的
EVM
贡献；以及，从该第一
EVM
中去除相位噪声的该
EVM
贡献
。
该方法可包括下列示例性特征中的一者或多者
(
单独地或组合地
)。
[0010]估计该相位噪声可包括基于从具有公共本地振荡器的第一
VSA
获得的测量值来获得来自相位噪声的第一
EVM
贡献，其中，该公共本地振荡器具有矢量信号发生器
(VSG)
；基于从具有与
VSG
独立或不同的本地振荡器的第二
VSA
获得的测量值来获得来自相位噪声的第二
EVM
贡献，其中该第二
VSA
具有与该第一
VSA
相同的性能和信号电平；以及，基于该第一
EVM
贡献与该第二
EVM
贡献之间的差来估计来自相位噪声的该
EVM
贡献
。
该第一
VSA
和该第二<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种确定由被测设备
(DUT)
输出的信号的第一误差矢量幅度
(EVM)
的方法，所述方法包括：在所述
DUT
与矢量信号分析仪
(VSA)
之间的信号路径上添加衰减，所述衰减是可变的；在所述
VSA
处针对由所述
DUT
输出的所述信号的不同衰减值测量至少两个第二
EVM
，其中所述至少两个第二
EVM
被来自所述
VSA
的噪声破坏，其中所述至少两个第二
EVM
中的每一者都基于两个或更多个测量值；以及基于线性关系来确定所述第一
EVM
，所述线性关系基于所述第一
EVM、
所述至少两个第二
EVM
和基于所述衰减的函数，所述第一
EVM
没有来自所述
VSA
的至少一些噪声
。2.
根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：基于与所述至少两个第二
EVM
拟合的线的斜率来确定来自所述
VSA
的所述噪声
。3.
根据权利要求2所述的方法，所述方法还包括：保持来自所述
DUT
的输出信号恒定，同时使用衰减器改变所述衰减以产生到所述
VSA
的输入信号；其中，对于每个不同的衰减值，所述方法还包括：在所述
VSA
处测量一个或多个附加的第二
EVM
，其中所述一个或多个附加的第二
EVM
中的每一者都基于两个或更多个测量值；以及基于线性关系确定所述第一
EVM
，所述线性关系基于所述第一
EVM、
所述至少两个第二
EVM
和所述一个或多个附加的第二
EVM、
以及基于所述衰减的所述函数
。4.
根据权利要求1所述方法，所述方法还包括改变到所述
VSA
的参考电平信号，所述参考电平信号对应于所述
VSA
在没有向由所述
DUT
输出的所述信号中引入显著失真的情况下能够处理的最大信号；并且对所述输入信号的每个变化重复添加
、
测量和确定以产生不同的第一
EVM。5.
根据权利要求1所述的方法，其中所述线性关系包括通过基于所述至少两个第二
EVM
的值的线与所述基于衰减的函数的零值的交点
。6.
根据权利要求1所述的方法，其中所述线性关系包括通过基于所述至少两个第二
EVM
的值的线的斜率；并且其中确定包括将基于所述斜率的线外推到所述基于衰减的函数的零值，所述基于衰减的函数包括所述衰减的平方的倒数
。7.
根据权利要求1所述的方法，其中压缩失真是所述
VSA
中增益的函数；并且其中，所述方法还包括降低所述
VSA
的增益以减少所述第一
EVM
中增加的失真
。8.
根据权利要求1所述的方法，在基本上从所述
VSA
中去除压缩失真的
VSA
增益处确定优化的第一
EVM。9.
根据权利要求1所述的方法，通过降低
VSA
增益，降低所述
VSA
对所述第一
EVM
的压缩失真贡献
。10.
根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：基于改变所述
VSA
的增益来获得衰减值
。11.
根据权利要求
10
所述的方法，获得所述衰减值包括：基于对应于所述
VSA
的不同噪声贡献和不同衰减值的所述
VSA
的不同增益设置获得
EVM
测量值；并且
基于所述
EVM
测量值识别其中所述
EVM
测量值基本相同的所述衰减值中的一者
。12.
根据权利要求
11
所述的方法，其中如果所述
EVM
测量值不变，则所述衰减值中的所述一者是测试通道中的实际衰减
。13.
根据权利要求
11
所述的方法，其中如果
EVM
测量值响应于衰减值的变化而减小，则减小衰减值以获得附加的
EVM
测量值；并且其中，如果
EVM
响应于衰减值的变化而增加，则增加所述衰减值以获得附加的
EVM
测量值
。14.
根据权利要求1所述的方法，其中所述方法在包括至少一个处理设备和用于存储可由所述至少一个处理设备执行的指令的存储...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹晨，克里斯蒂安，
申请(专利权)人：莱特普茵特公司，
类型：发明
国别省市：