接近检测装置制造方法及图纸

提供一种具有能够检测从操作面离开某种程度的对象物的检测距离的接近检测装置

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】接近检测装置


[0001]本专利技术涉及接近检测装置
。

技术介绍

[0002]以往，具有带按压检测功能的触摸面板，该带按压检测功能的触摸面板具备：传感器部，具备静电传感器
、
层叠于所述静电传感器的背面
、
或者与所述静电传感器一部分共用结构层的压电传感器；电容检测电路，与所述传感器部的所述静电传感器连接，根据静电容变化来检测触摸的有无和触摸位置，将电信号向主机送出；电荷放大器，与所述传感器部的所述压电传感器连接，使电荷信号转换为电压信号；采样保持电路，与所述电荷放大器连接，在所述电容检测电路不驱动静电传感器时送出所述电荷放大器的输出，在所述电容检测电路从不驱动静电传感器变化为驱动静电传感器时，保持即将变化前的所述电荷放大器的输出并送出；以及
AD
转换器，与所述采样保持电路连接，对所述采样保持电路的输出进行数字转换并发送至主机
(
例如，参照专利文献
1)。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开
2019
‑
194791
号公报

技术实现思路

[0006]‑
专利技术所要解决的课题
‑
[0007]然而，带按压检测功能的触控面板能够检测有无对触摸表面的触摸和触摸位置，但无法检测从触摸表面离开某种程度的手等对象物
。
即，在远离触摸表面那样的操作面的方向上能够检测对象物的距离有限<br/>。
[0008]因而，本专利技术的目的在于提供一种具有能够检测从操作面离开某种程度的对象物的检测距离的接近检测装置
。
[0009]‑
用于解决课题的手段
‑
[0010]本专利技术的实施方式的接近检测装置的特征在于，具备：接近检测部，具有压电体和与所述压电体接触地设置的第一电极以及第二电极，检测对象物的接近；信号施加部，通过对所述第一电极以及所述第二电极的至少一方施加多个不同频率的信号，来使所述接近检测部进行静电容检测和超声波发送以及
/
或者超声波接收；以及电荷测量部，与所述第一电极和所述第二电极的至少一方连接，进行电荷的测量
。
[0011]‑
专利技术效果
‑
[0012]能够提供具有能够检测从操作面离开某种程度的对象物的检测距离的接近检测装置
。
附图说明
[0013]图1是表示实施方式的接近检测装置
100
的一例的图
。
[0014]图2是表示图1中的
A
‑
A
箭头方向截面的结构的一例的图
。
[0015]图3是表示
MPU150
执行的处理的一例的流程图的图
。
[0016]图
4A
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0017]图
4B
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0018]图
4C
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0019]图
4D
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0020]图
5A
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0021]图
5B
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0022]图
5C
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0023]图
5D
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0024]图
6A
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0025]图
6B
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0026]图
7A
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0027]图
7B
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0028]图
7C
是表示交叉部
110A
的变形例的图
。
[0029]图8是表示实施方式的变形例的接近检测装置
100M
的一例的图
。
具体实施方式
[0030]以下，对应用了本专利技术的接近检测装置的实施方式进行说明
。
[0031]&lt;
实施方式
&gt;
[0032]图1是表示实施方式的接近检测装置
100
的一例的图
。
图2是表示图1中的
A
‑
A
箭头方向截面的结构的一例的图
。
以下，定义
XYZ
坐标系进行说明
。
与
X
轴平行的方向
(X
方向
)、
与
Y
轴平行的方向
(Y
方向
)、
与
Z
轴平行的方向
(Z
方向
)
相互正交
。
此外，以下，为了便于说明，有时将
‑
Z
方向侧称为下侧或下，将
+Z
方向侧称为上侧或上，但并不表示普遍性的上下关系
。
此外，俯视是指从
XY
面观察
。
此外，以下有时夸张地表示各部的长度
、
粗细
、
厚度等，以使得容易理解结构
。
[0033]接近检测装置
100
包含接近检测部
110、MUX(
多工器
)120、
发送电路
130、
接收电路
140、
计时器
145
以及
MPU(Micro Processing Unit
：微处理单元
)150。MUX120、
发送电路
130
以及
MPU150
是信号施加部的一例
。
信号施加部对第一电极
111
以及第二电极
112
的至少一方施加多个不同频率的信号，从而使接近检测部
110
进行静电容检测和超声波发送以及
/
或者超声波接收
。
[0034]接近检测装置
100
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种接近检测装置，其特征在于，具备：接近检测部，具有压电体和与所述压电体接触地设置的第一电极以及第二电极，检测对象物的接近；信号施加部，通过对所述第一电极以及所述第二电极的至少一方施加多个不同频率的信号，来使所述接近检测部进行静电容检测和超声波发送以及
/
或者超声波接收；以及电荷测量部，与所述第一电极和所述第二电极的至少一方连接，进行电荷的测量
。2.
根据权利要求1所述的接近检测装置，其中，所述接近检测部构成为所述第一电极和所述第二电极将所述压电体夹在中间
。3.
根据权利要求1或者2所述的接近检测装置，其中，所述接近检测部在进行了所述超声波发送之后进行基于反射波的所述超声波接收
。4.
根据权利要求1～3中的任一项所述的接近检测装置，其中，所述接近检测装置还具备：计算部，计算所述对象物与所述接近检测部之间的距离，所述信号施加部选择性地施加静电容检测用的第一频率信号和超声波发送用的第二频率信号，所述计算部基于由所述信号施加部选择的信号和由所述电荷测量部测量出的电荷，来得到静电容检测以及
/
或者超声波检测的结果，并且基于所得到的所述结果来计算所述对象物与所述接近检测部之间的距离
。5.
根据权利要求4所述的接近检测装置，其中，在由所述信号施加部选择了第一频率信号的情况下，所述计算部基于由所述电荷测量部测量出的电荷量来得到静电容检测的结果，并且基于所得到的所述结果来计算所述对象物与所述接近检测部之间的距离
。6.
根据权利要求4或者5所述的接近检测装置，其中，在由所述信号施加部选择了第二频率信号的情况下，所述计算部基于从超声波发送到超声波接收为止的时间来计算所述对象物与所述接近检测部之间的距离，其中，所述时间是基于由所述电荷测量部测量出的电荷的时间
。7.
根据权利要求4～6中的任一项所述的接近检测装置，其中，所述信号施加部选择所述第二频率信号，来使所述接近检测部进行所述超声波发送以及
/
或者所述超声波接收，在由所述计算部计算出的所述对象物与所述接近检测部之间的距离成为给定距离以下的情况下，选择所述第一频率信号，来使所述接近检测部进行所述静电容检测

【专利技术属性】
技术研发人员：重高宽，藤由达巳，
申请(专利权)人：阿尔卑斯阿尔派株式会社，
类型：发明
国别省市：