一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法及其应用技术

技术编号:39516308 阅读:7 留言:0更新日期:2023-11-25 18:53
本发明专利技术公开了一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法及其应用,涉及检测仪器领域

【技术实现步骤摘要】
一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法及其应用


[0001]本专利技术涉及检测仪器
,尤其涉及一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法及其应用


技术介绍

[0002]免疫分析仪为磁微粒免疫荧光分析法的检测仪器,通过检测负载样本的磁微粒上的荧光信号,可获取样本中标志物的信息

免疫分析仪在进行一系列步骤操作的同时,磁微粒会有损耗,磁微粒的数量与荧光素信号值的高低密切相关,磁微粒损耗将导致荧光素信号值降低,使得测量结果不准确

因此,为了提高仪器测量的准确性,定量检测磁微粒的损耗是十分有必要的

[0003]目前磁微粒的丢磁率是采用称重法计算

称重法是将反应前的磁微粒进行称重得到重量
m1,经过一系列反应步骤后再次对磁微粒进行称重得到重量
m2。
通过(
m1‑
m2)
/m1来计算中间操作磁微粒的丢磁率

然而,由于称重法对天平的精密度要求较高,因而采用称重法计算丢磁率对高精密度的仪器与微量反应仪器并不适用

例如:微量天平
XPR2U/AC
量程为
2.1 g
;可读性为
0.1
ꢀµ
g
;而对于免疫分析仪,试剂条重量需精确到
0.01
µ
g
,该种情况,上述微量天平无法读出试剂条精度最后一位的数据,无法满足测量需求

另一方面,称重法在实验过程中需要反复去皮等操作,而且每一步的液体残留量对称重结果也会有较大的影响,导致得到的丢磁率不能真实的反映仪器的丢磁率

[0004]因此,提供一种可准确反映磁微粒丢磁率的检测方法,是本领域技术人员亟待解决的技术问题


技术实现思路

[0005]本专利技术公开了一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法及其应用,以解决相关技术中采用称重法测量磁微粒的丢磁率,存在对高精密度的仪器与微量反应仪器并不适用,而且称重法不能真实反映仪器丢磁率的技术问题

[0006]为了解决上述问题,本专利技术采用下述技术方案:本专利技术的第一个方面提供了一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法

[0007]本专利技术免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,包括如下步骤:步骤
S1
:制备磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线;步骤
S2
:利用免疫分析仪检测磁微粒免疫荧光分析法所用试剂条检测孔中的待测样品,并获取待测样品的荧光素信号值;步骤
S3
:基于磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线和待测样品的荧光素信号值,计算待测样品的磁微粒浓度,并基于待测样品的磁微粒浓度和初始磁微粒浓度计算免疫分析仪磁微粒的丢磁率

[0008]进一步的,制备磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线包括如下步骤:步骤
S11
:将磁微粒标记荧光素,并配置不同浓度的多个磁微粒标准液;
步骤
S12
:测量各磁微粒标准液的荧光素信号值,并将所得的荧光素信号值与磁微粒标准液浓度值拟合得到磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线

[0009]进一步的,将磁微粒标记荧光素,并配置不同浓度的多个磁微粒标准液包括如下步骤:步骤
S111
:将荧光素溶解于第一缓冲溶液中,并将溶解有荧光素的第一缓冲溶液加入不同重量的磁微粒中,将磁微粒和第一缓冲溶液放入恒温震荡仪中反应;步骤
S112
:将反应后的磁微粒取出并进行清洗;步骤
S113
:将清洗后的磁微粒加入第二缓冲溶液中并混匀,所得溶液为磁微粒标准液

[0010]进一步的,获取待测样品的荧光素信号值包括:获取反应结束时待测样品的荧光素信号值,和
/
或获取反应中间过程待测样品的荧光素信号值

[0011]进一步的,获取反应结束时待测样品的荧光素信号值包括如下步骤:步骤
S21
‑1:获取反应结束时免疫分析仪各通道处的试剂条检测孔中待测样品的荧光素信号值;步骤
S22
‑1:计算所有通道处的试剂条检测孔中待测样品荧光素信号值的平均值,并以平均值作为反应结束时待测样品的荧光素信号值

[0012]进一步的,获取反应中间过程待测样品的荧光素信号值包括如下步骤:步骤
S21
‑2:将磁微粒放入免疫分析仪各通道处的试剂条样本孔中,按照磁微粒免疫荧光分析法的步骤进行操作,待每一个步骤结束后,均获取各通道处的试剂条检测孔中待测样品的荧光素信号值;步骤
S22
‑2:计算所有通道处的试剂条各检测孔中待测样品荧光素信号值的平均值,并以平均值作为各步骤结束时待测样品的荧光素信号值

[0013]进一步的,所述通道的数量为
2~8


[0014]进一步的,通过如下公式计算免疫分析仪磁微粒的丢磁率:丢磁率
=

M

N

/M*100%
,其中,
M
为初始磁微粒浓度,
N
为待测样品的磁微粒浓度

[0015]本专利技术的第二个方面提供了一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法的应用

[0016]本专利技术中任一项技术方案所述的免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法的应用,基于反应结束时待测样品的磁微粒量和磁微粒损失量之和,确定免疫分析仪检测初始阶段添加的磁微粒量

[0017]本专利技术中任一项技术方案所述的免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法的应用,基于磁微粒免疫荧光分析法各步骤的磁微粒丢磁率,调整磁微粒免疫荧光分析法各步骤的分析参数

[0018]本专利技术采用的技术方案至少能够达到以下有益效果:本专利技术免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,第一方面,利用免疫分析仪检测磁微粒免疫荧光分析法所用试剂条检测孔中的待测样品,并获取待测样品的荧光素信号值,即本专利技术的方法利用免疫分析仪自身来检测磁微粒的丢磁率,因而检测分析完的样品可直接在免疫分析仪上检测荧光素信号值,而无需将待检测样品转移至另一检测仪器进行检测,不仅可避免待测样品转移过程中的复杂操作和样品损耗,而且相比于称重法,由于免疫
分析仪可利用光学探测器检测荧光素信号值,具有可检测的范围较宽,对精度要求更低,避免了称重法测量磁微粒的丢磁率,对天平的精度要求较高,导致高精密度的仪器与微量反应仪器并不适用的问题;第二方面,本专利技术磁微粒丢磁率的检测方法,待测样品的检测仪器和检测参数与进行磁微粒免疫荧光分析法检测的检测仪器和检测参数相同,从而使得本专利技术的检测方法可真实反应磁微粒免疫荧光分析法中磁微粒的丢磁率本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤
S1
:制备磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线;步骤
S2
:利用免疫分析仪检测磁微粒免疫荧光分析法所用试剂条检测孔中的待测样品,并获取待测样品的荧光素信号值;步骤
S3
:基于磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线和待测样品的荧光素信号值,计算待测样品的磁微粒浓度,并基于待测样品的磁微粒浓度和初始磁微粒浓度计算免疫分析仪磁微粒的丢磁率;其中,获取待测样品的荧光素信号值包括:获取反应结束时待测样品的荧光素信号值,和
/
或获取反应中间过程待测样品的荧光素信号值
。2.
根据权利要求1所述的免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,其特征在于,制备磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线包括如下步骤:步骤
S11
:将磁微粒标记荧光素,并配置不同浓度的多个磁微粒标准液;步骤
S12
:测量各磁微粒标准液的荧光素信号值,并将所得的荧光素信号值与磁微粒标准液浓度值拟合得到磁微粒浓度

荧光素信号值的标准曲线
。3.
根据权利要求2所述的免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,其特征在于,将磁微粒标记荧光素,并配置不同浓度的多个磁微粒标准液包括如下步骤:步骤
S111
:将荧光素溶解于第一缓冲溶液中,并将溶解有荧光素的第一缓冲溶液加入不同重量的磁微粒中,将磁微粒和第一缓冲溶液放入恒温震荡仪中反应;步骤
S112
:将反应后的磁微粒取出并进行清洗;步骤
S113
:将清洗后的磁微粒加入第二缓冲溶液中并混匀,所得溶液为磁微粒标准液
。4.
根据权利要求1所述的免疫分析仪磁微粒丢磁率的检测方法,其特征在于,获取反应结束时待测样品的荧光素信号...

【专利技术属性】
技术研发人员:张欢高源许颖原
申请(专利权)人:上海萨迦生物科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1