一种全综合数字双尾比较器结构制造技术

本发明专利技术公开了集成电路领域的一种全综合数字双尾比较器结构包括在比较阶段时，将正向输入的信号同时经过

【技术实现步骤摘要】
一种全综合数字双尾比较器结构


[0001]本专利技术属于集成电路领域，具体是一种全综合数字双尾比较器结构
。

技术介绍

[0002]伴随着半导体技术的发展，对于电路设计约束和复杂性逐渐增加
。
模拟电路对于电路布局设计和匹配有着更高的要求，导致成本更高，设计周期更长
。
数字电路相对于模拟电路具有集成度高
、
可移植性好和可扩展性高的优点，如果完全用硬件描述语言编写模拟电路设计，并合成具有相似电路性能的数字标准单元，将大大减少设计时间和成本
。
[0003]在目前的集成电路设计中，适用于低电源电压下的全数字综合比较器的速度
、
精度和功耗尤为重要
。
传统的可综合轨对轨数字比较器，有着集成度高，输入共模范围宽的优点，但比较速度较慢和功耗较大的缺点使其难以运用到相关的电路中
。

技术实现思路

[0004]为了解决比较速度较慢和功耗较大的缺点，本专利技术的目的是需要一种高速低失调的全综合数字双尾比较器<br/>。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种全综合数字双尾比较器，其特征在于：包括在比较阶段时，将正向输入的信号同时经过
A
晶体管和
B
晶体管进行输出，其中
A
晶体管和
B
晶体管共轨连接；正向输入的信号在
A
晶体管和
B
晶体管相互交汇的节点处进入比较电路中，正向输入的信号在比较电路中生成负向输入信号，负向输入信号与正向输入信号，将其正向输入信号和负向输入信号进行比较获得比较结果
。2.
根据权利要求1所述的一种全综合数字双尾比较器结构，其特征在于：所述
A
晶体管和
B
晶体管都连接有用于对输入信号进行预放大的第一级门结构单元，比较电路中包括用于对放大后的信号进行比较的第二级门结构单元
...

【专利技术属性】
技术研发人员：董嗣万，丁雷声，单成，吕怡璇，刘畅翔，
申请(专利权)人：西安邮电大学，
类型：发明
国别省市：