一种用于环件微观检测的辅助装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于环件微观检测的辅助装置及方法，所述辅助装置包括第一辅助件与第二辅助件，所述第一辅助件与第二辅助件分别独立地包括第一固定框架与第二固定框架；沿垂直于所述第一固定框架与第二固定框架所在平面的方向，所述第一固定框架的底端焊接有中空管，第二固定框架的底端焊接有内置管，所述中空管套设于内置管的管体外部

【技术实现步骤摘要】
一种用于环件微观检测的辅助装置及方法


[0001]本专利技术涉及检测辅助设备
，具体涉及一种用于环件微观检测的辅助装置及方法
。

技术介绍

[0002]半导体环件是一类对金属坯料施加外力，通过塑性变形塑造的
、
具有合适压缩力的环形物件
。
对于环件的性能检测通常为机械性能与微观组织的检测，机械性能检测包括屈服强度
、
抗拉强度
、
冲击韧性等检测，此类检测可以将环件整体直接进行测试
。
对于微观组织的检测，由于环件存在不平整问题，需要将环件进行切割，得到局部待测样品进行检测
。
而在生产现场的环境下，亟需在无损的基础上对环件产品整体直接进行快速检测来判断产品的优劣
。
[0003]CN 113406784A
公开了一种具备平整观测功能的显微镜系统，涉及显微镜
，具体为目镜和底座，所述目镜的外部设置有视度调节环，所述目镜外部的一端安装有镜体连接座，且镜体连接座外部的一端设置有调焦手轮，所述镜体连接座的底部安装有显微镜镜体，所述显微镜镜体外部的一端设置有辅助块
。
该一种具备平整观测功能的显微镜系统，通过限位槽与限位套板的相互配合可对与连接杆相连接的载物盘进行旋转，通过旋转可使得载物盘放置在内置板内部的观测区域
。
[0004]CN 205404947U
公开了一种用于光学显微镜载物台的可倾斜式辅助装置，包括操作平台
、
固定座
、
支撑螺栓
、
微调螺栓
、
拉簧和弹簧片，其中操作平台与固定座之间通过拉簧固定连接，支撑螺栓和微调螺栓分别固定于固定座上，微调螺栓的顶部分别固定有顶杆，支撑螺栓的顶端与顶杆的顶端共同构成三角支撑面用于支撑操作平台，弹簧片固定于操作平台的上部
。。
[0005]上述装置中均为对显微镜本体进行辅助装置的改进或增设，通过调节辅助部件，使得不平整的待测样品能够达到平整要求，便于显微观测
。
但对于环件这种异形构件，利用显微镜上的辅助装置进行调整，仍然无法获得良好的平整面进行观测，同时对于显微镜改进的精度要求与成本较高，不适于现场使用
。
[0006]因此，针对现有技术的不足，亟需提供一种成本低
、
操作简单且可实现环件无损微观检测的辅助装置
。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的在于提供一种用于环件微观检测的辅助装置及方法，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，使得待测环件可以保持平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测
。
[0008]为达到此专利技术目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0009]第一方面，本专利技术提供了一种用于环件微观检测的辅助装置，所述辅助装置包括第一辅助件与第二辅助件，所述第一辅助件与第二辅助件分别独立地包括第一固定框架与
第二固定框架；
[0010]沿垂直于所述第一固定框架与第二固定框架所在平面的方向，所述第一固定框架的底端焊接有中空管，第二固定框架的底端焊接有内置管，所述中空管套设于内置管的管体外部
。
[0011]本专利技术提供的辅助装置，通过设计可以相互套设的第一辅助件与第二辅助件，可以将待测环件卡固处理并使待测面平整，无需破坏产品即可直接进行微观检测，操作简单
、
成本低廉，可以用于现场批量产品的微观组织检测
。
[0012]优选地，所述第一固定框架的底端两侧平行焊接有第一中空管与第二中空管
。
[0013]需要说明的是，本专利技术对第一中空管与第二中空管之间的距离的结构特征不作具体限定，第一中空管与第二中空管在本专利技术中的作用是套设内置管并调整第一固定框架与第二固定框架的距离，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的第一中空管与第二中空管均可用于本专利技术中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管之间的距离进行适应性调整
。
[0014]优选地，所述第二固定框架的底端两侧平行焊接有第一内置管与第二内置管
。
[0015]需要说明的是，本专利技术对第一内置管与第二内置管之间的距离的结构特征不作具体限定，第一内置管与第二内置管在本专利技术中的作用是套设于中空管内部并调整第一固定框架与第二固定框架的距离，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的第一内置管与第二内置管均可用于本专利技术中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一内置管与第二内置管之间的距离进行适应性调整
。
[0016]优选地，所述第一中空管与第二中空管的侧壁分别独立地设置有调节旋钮
。
[0017]优选地，所述调节旋钮之间的连线垂直于所述第一中空管所在中轴线
。
[0018]需要说明的是，本专利技术对调节旋钮的构造以及在第一中空管与第二中空管上的具体位置等结构特征不作具体限定，调节旋钮在本专利技术中的作用是固定中空管与内置管，进而保证环件待测面平整，因此可以理解的是，其他能实现此类功能的调节旋钮均可用于本专利技术中，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对调节旋钮的构造以及在第一中空管与第二中空管上的具体位置进行适应性调整
。
[0019]优选地，所述第一中空管的内径大于第一内置管的外径
。
[0020]优选地，所述第二中空管的内径大于第二内置管的外径
。
[0021]所述第一中空管与第二中空管的内径分别大于第一内置管与第二内置管的外径，可以将内置管套设于中空管内部，实现第一辅助件与第二辅助件对待测环件的初步固定
。
[0022]需要说明的是，本专利技术对第一中空管与第二中空管的内径范围
、
第一内置管与第二内置管的外径范围等结构特征不作具体限定，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管的内径范围
、
第一内置管与第二内置管的外径范围进行适应性调整
。
[0023]优选地，所述第一中空管与第二中空管的长度小于环件的外径
。
[0024]需要说明的是，本专利技术对第一中空管与第二中空管的长度范围
、
环件的具体内径及外径范围等结构特征不作具体限定，本领域技术人员可以根据使用场景和应用条件对第一中空管与第二中空管的长度范围
、
环件的具体内径及外径范围进行适应性调整
。
[0025]第二方面，本专利技术提供了一种通过第一方面所述的辅助装置进行环件微观检测的
方法，所述方法包括：
[0026](1)
将环件进行表面处理，得到待测环件；
[0027](2)
将步骤
(1)
所得待测环件的待测面沿靠近中空管的方向放置，通过第一调节处理使第一固定框架与第二固定框架卡固所述待测环件；
[0028](3)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于环件微观检测的辅助装置，其特征在于，所述辅助装置包括第一辅助件与第二辅助件，所述第一辅助件与第二辅助件分别独立地包括第一固定框架与第二固定框架；沿垂直于所述第一固定框架与第二固定框架所在平面的方向，所述第一固定框架的底端焊接有中空管，第二固定框架的底端焊接有内置管，所述中空管套设于内置管的管体外部
。2.
根据权利要求1所述的辅助装置，其特征在于，所述第一固定框架的底端两侧平行焊接有第一中空管与第二中空管
。3.
根据权利要求2所述的辅助装置，其特征在于，所述第二固定框架的底端两侧平行焊接有第一内置管与第二内置管
。4.
根据权利要求2或3所述的辅助装置，其特征在于，所述第一中空管与第二中空管的侧壁分别独立地设置有调节旋钮
。5.
根据权利要求4所述的辅助装置，其特征在于，所述调节旋钮之间的连线垂直于所述第一中空管所在中轴线
。6.
根据权利要求3所述的辅助装置，其特征在于，所述第一中空管的内径大于第一内置管的外径；优选地，所述第二中空管的内径大于第二内置管的外径
。7.
根据权利要求2‑6任一项所述的辅助装置，其特征在于，所述第一中空管与第二中空管的长度小于环件的外径
。8.
一种通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚力军，潘杰，廖培君，朱海清，
申请(专利权)人：宁波江丰电子材料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：