一种星形测针校准方法技术

本申请公开了一种星形测针校准方法

【技术实现步骤摘要】
一种星形测针校准方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及测量
，特别涉及一种星形测针校准方法
、
星形测针校准装置及电子设备
。

技术介绍

[0002]当前，利用标准球校准星形测针时，星形测针中不同测杆受到各测量点的反作用力的方向和大小存在显着差异，导致不同测杆在各点产生了不同的变形，理论上应基于不同的形变分别校准各个测杆上的测头
。
但是在标准球校准的过程中，测量软件在计算时会将不同测头测量某一特征
(
如标准球直径
)
的总误差分摊至各个测量点，导致误差补偿大小与测量时的形变不符
。
可见，利用标准球校准星形测针的过程，没有考虑不同测杆的受力方向和大小的不同，因此使用标准球标准后的星形测针仍存在测量误差，导致实际测量过程中可能会出现：星形测针中的各测头测量同一个点因受力情况不同得到了不同的测量结果
。
因此使用标准球标准后的星形测针的测量结果仍不准确
。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种星形测针校准方法
、
星形测针校准装置及电子设备，以校准星形测针，使星形测针中的各测头测量同一个点能得到相同的测量结果
。
[0004]为解决上述技术问题，本申请提供了一种星形测针校准方法，用于校准星形测针，所述星形测针包括指向
X
轴正负方向的测头
、
指向
Y
轴正负方向的测头和指向<br/>Z
轴负方向的测头，包括：
[0005]利用标准球校准所述星形测针后，利用标准块校准所述星形测针中每一测头的直径；在直径校准完成后，将所述星形测针中指向
Z
轴负方向的测头确定为标准测头，将除所述标准测头以外的每一测头确定为目标测头；基于所述标准测头测量目标特征得到的标准结果，校准所述目标测头的位置，以使所述目标测头测量所述目标特征得到的结果与所述标准结果相同；所述目标特征基于所述标准块确定
。
[0006]可选地，所述利用标准块校准所述星形测针中每一测头的直径，包括：针对所述星形测针中的每一测头，控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值；计算所述目标测量值与相应标准值的测量差异，并利用当前测头的等效直径减去所述测量差异，得到当前测头的直径补偿值；所述等效直径为利用所述标准球校准所述星形测针得到；基于所述直径补偿值校准当前测头的直径
。
[0007]可选地，所述标准块为：立方体，所述直径校准特征为立方体的边长；相应地，所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述立方体的边长，得到所述目标测量值；或所述标准块为：设有基准孔的立方体，所述直径校准特征为基准孔的直径；相应地，所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述基准孔的直径，得到所述目标测量值；或所述标准块包括：本体以及设于所述本体上的至少两个立方体，所述本体具有斜面，所述
斜面与位置相邻的两个立方体的侧面形成基准凹槽，所述直径校准特征为基准凹槽的宽度；相应地，所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述基准凹槽的宽度，得到所述目标测量值
。
[0008]可选地，所述基于所述标准测头测量目标特征得到的标准结果，校准所述目标测头的位置，包括：控制所述标准测头测量所述目标特征得到所述标准结果；控制所述目标测头测量所述目标特征得到目标结果；基于所述标准结果和所述目标结果计算位置补偿值；利用所述位置补偿值校准所述目标测头的位置
。
[0009]可选地，所述目标特征包括：用于计算
X
轴补偿值
、Y
轴补偿值和
Z
轴补偿值的特征；相应地，所述标准结果包括：
X
轴标准值
、Y
轴标准值和
Z
轴标准值；相应地，所述目标结果包括：
X
轴目标值
、Y
轴目标值和
Z
轴目标值；相应地，所述基于所述标准结果和所述目标结果计算位置补偿值，包括：计算
X
轴标准值与
X
轴目标值之间的
X
轴差异，并利用所述目标测头的
X
轴等效值减去所述
X
轴差异，得到
X
轴补偿值；所述
X
轴等效值为利用所述标准球校准所述星形测针得到；计算
Y
轴标准值与
Y
轴目标值之间的
Y
轴差异，并利用所述目标测头的
Y
轴等效值减去所述
Y
轴差异，得到
Y
轴补偿值；所述
Y
轴等效值为利用所述标准球校准所述星形测针得到；计算
Z
轴标准值与
Z
轴目标值之间的
Z
轴差异，并利用所述目标测头的
Z
轴等效值减去所述
Z
轴差异，得到
Z
轴补偿值；所述
Z
轴等效值为利用所述标准球校准所述星形测针得到；将所述
X
轴补偿值
、
所述
Y
轴补偿值和所述
Z
轴补偿值作为所述位置补偿值
。
[0010]可选地，所述标准块为：立方体；相应地，所述目标特征为：所述立方体的任意面上用于计算
X
轴补偿值
、Y
轴补偿值和
Z
轴补偿值的点所在位置
。
[0011]可选地，所述标准块包括：本体以及设于所述本体上的至少两个立方体，所述本体具有斜面，所述斜面与位置相邻的两个立方体的侧面形成基准凹槽；相应地，所述目标特征为：任意立方体的任意面上用于计算
X
轴补偿值
、Y
轴补偿值和
Z
轴补偿值的点所在位置；或位于所述基准凹槽的侧面上且高度相同的
、
用于计算
X
轴补偿值
、Y
轴补偿值和
Z
轴补偿值的两个点的中点位置
。
[0012]可选地，所述基于所述标准测头测量目标特征得到的标准结果，校准所述目标测头的位置之前，还包括：按照预设要求基于所述标准块确定所述目标特征；所述预设要求包括：所述目标特征能够被所述标准测头和所述目标测头同时测到
、
且所述目标特征能够用于计算所述目标测头的位置补偿值
。
[0013]本申请还提供了一种星形测针校准装置，用于校准星形测针，所述星形测针包括指向
X
轴正负方向的测头
、
指向
Y
轴正负方向的测头和指向本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种星形测针校准方法，用于校准星形测针，所述星形测针包括指向
X
轴正负方向的测头
、
指向
Y
轴正负方向的测头和指向
Z
轴负方向的测头，其特征在于，包括：利用标准球校准所述星形测针后，利用标准块校准所述星形测针中每一测头的直径；在直径校准完成后，将所述星形测针中指向
Z
轴负方向的测头确定为标准测头，将除所述标准测头以外的每一测头确定为目标测头；基于所述标准测头测量目标特征得到的标准结果，校准所述目标测头的位置，以使所述目标测头测量所述目标特征得到的结果与所述标准结果相同；所述目标特征基于所述标准块确定
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用标准块校准所述星形测针中每一测头的直径，包括：针对所述星形测针中的每一测头，控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值；计算所述目标测量值与相应标准值的测量差异，并利用当前测头的等效直径减去所述测量差异，得到当前测头的直径补偿值；所述等效直径为利用所述标准球校准所述星形测针得到；基于所述直径补偿值校准当前测头的直径
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述标准块为：立方体，所述直径校准特征为立方体的边长；所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述立方体的边长，得到所述目标测量值；或所述标准块为：设有基准孔的立方体，所述直径校准特征为基准孔的直径；所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述基准孔的直径，得到所述目标测量值；或所述标准块包括：本体以及设于所述本体上的至少两个立方体，所述本体具有斜面，所述斜面与位置相邻的两个立方体的侧面形成基准凹槽，所述直径校准特征为基准凹槽的宽度；所述控制当前测头测量所述标准块上的直径校准特征，得到目标测量值，包括：控制当前测头测量所述基准凹槽的宽度，得到所述目标测量值
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述标准测头测量目标特征得到的标准结果，校准所述目标测头的位置，包括：控制所述标准测头测量所述目标特征得到所述标准结果；控制所述目标测头测量所述目标特征得到目标结果；基于所述标准结果和所述目标结果计算位置补偿值；利用所述位置补偿值校准所述目标测头的位置
。5.
根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标特征包括：用于计算
X
轴补偿值
、Y
轴补偿值和
Z
轴补偿值的特征；所述标准结果包括：
X
轴标准值
、Y
轴标准值和
Z
轴标准值；
所述目标结果包括：
X
轴目标值
、Y
轴目标值和
Z
轴目标值；所述基于所述标准结果和所述目标结果计算位置补偿值，包括：计算
X
轴标准值与
X
轴目标值之间的
X
轴差异，并利用所述目标测头的
X
轴等效值减去所述
X
轴差异，得到
X
轴补偿值；所述
X
轴等效值为利用所述标准球校准所述星形测针得到；计算
Y
轴标准值与
Y
轴目标值之间的
Y
轴差异，并利用所述目标测头的
Y
轴等效值减去所述
Y
轴差异，得到
Y
轴补偿值；所述
Y
轴等效值为利用所述标准球校准所述星形测针得到；计算
Z
轴标准值与
Z
轴目标值之间的
Z
轴差异，并利用所述目标测头的
Z
轴等效值减去所述
Z
...

【专利技术属性】
技术研发人员：施向舟，
申请(专利权)人：富联裕展科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：