阻抗匹配电路制造技术

本实用新型专利技术实施例提供一种阻抗匹配电路。所述阻抗匹配电路包含经配置以产生参考电压的参考电压产生器。码产生器经配置以通过比较所述参考电压与相关联于第一节点的第一电压来产生第一校准码，且通过比较所述参考电压与相关联于第二节点的第二电压来产生第二校准码。第一电阻单元经配置以响应于所述第一校准码而将所述第一电压供应到所述第一节点以将其电阻校准为等于参考电阻。第二电阻单元经配置以响应于所述第二校准码而将所述第二电压供应到所述第二节点以借此将其电阻校准到所述参考电阻。述参考电阻。述参考电阻。

【技术实现步骤摘要】
阻抗匹配电路


[0001]本技术实施例涉及阻抗匹配电路和方法。

技术介绍

[0002]由集成电路芯片体现的各种半导体装置(例如中央处理单元(CPU)、存储器及门阵列)已被组合在例如个人计算机、服务器及工作站的电产品中。在大多数情况中，半导体装置具有用于通过输入衬垫从外部接收信号的接收电路及用于通过输出衬垫将内部信号提供到外部的输出电路。
[0003]输入/输出衬垫连接到传输路径。当阻抗不同时，电信号被反射回。阻抗失配是由制造工艺、供应电压及操作温度(PVT)的变化引起。阻抗失配使得难以高速传输数据，信号因阻抗失配而失真。

技术实现思路

[0004]根据本技术的实施例，一种阻抗匹配电路包括：参考电压产生器，其经配置以产生参考电压；码产生器，其经配置以通过比较所述参考电压与相关联于第一节点的第一电压来产生第一校准码，且通过比较所述参考电压与相关联于第二节点的第二电压来产生第二校准码；第一电阻单元，其经配置以响应于所述第一校准码而将所述第一电压提供到所述第一节点以将其电阻校准为大体上等于参考电阻；及第二电阻单元，其经配置以响应于所述第二校准码而将所述第二电压提供到所述第二节点以将其电阻校准为所述参考电阻。
[0005]根据本技术的实施例，一种阻抗匹配电路包括：外部电阻器，其连接在第一节点与接地之间；第一电阻单元，其连接到所述第一节点；第二电阻单元，其连接在第二节点与所述接地之间；参考电压产生器，其经配置以产生参考电压；码产生器，其经配置以通过比较所述参考电压与相关联于所述第一节点的第一电压来产生第一校准码，且通过比较所述参考电压与相关联于所述第二节点的第二电压来产生第二校准码，其中：响应于所述第一校准码，所述第一电阻单元经配置以将其电阻校准为大体上等于参考电阻；且响应于所述第二校准码，所述第二电阻单元经配置以将其电阻校准为大体上等于所述参考电阻。
[0006]根据本技术的实施例，一种用于校准装置的阻抗的方法包括：产生参考电压；基于比较所述参考电压与相关联于第一节点的第一电压来产生第一校准码；基于所述第一校准码将第一电阻单元的电阻值校准为大体上等于参考电阻，其中所述第一电阻单元连接到所述第一节点；基于比较所述参考电压与相关联于第二节点的第二电压来产生第二校准码；及基于所述第二校准码将第二电阻单元的电阻值校准为大体上等于所述参考电阻，其中所述第二电阻单元连接到所述第二节点。
附图说明
[0007]当结合附图阅读时从下列具体实施方式更好理解本公开的方面。应注意，根据行
业中的标准实践，各种构件未按比例绘制。事实上，为清晰论述，各种构件的尺寸可任意增大或减小。
[0008]图1是展示根据一些实施例的阻抗匹配电路的框图。
[0009]图2是展示根据一些实施例的工艺、电压及温度(PVT)校准电路的框图。
[0010]图3A是说明根据一些实施例的用于第一后驱动器校准的比较器的输出电压的图表。
[0011]图3B是说明根据一些实施例的用于第二后驱动器校准的比较器的输出电压的图表。
[0012]图4A说明根据一些实施例的用于第一后驱动器校准的等效电路图。
[0013]图4B说明根据一些实施例的用于第二后驱动器校准的等效电路图。
[0014]图5是说明根据一些实施例的校准电压的图表。
[0015]图6是说明根据一些实施例的阻抗匹配方法的流程图。
具体实施方式
[0016]以下公开提供用于实施所提供主题的不同构件的许多不同实施例或实例。在下文描述组件及布置的特定实例以简化本公开。当然，这些仅为实例且不希望为限制性。例如，在以下描述中，第一构件形成在第二构件上方或上可包含其中第一构件及第二构件形成直接接触的实施例，且还可包含其中可在第一构件与第二构件之间形成额外构件以使得第一构件及第二构件可不直接接触的实施例。另外，本公开可在各种实例中重复参考数字及/或字母。此重复是出于简单及清晰的目的且本身并不指示所论述的各种实施例及/或配置之间的关系。
[0017]此外，为便于描述，例如“在
……
下方”、“在
……
下”、“下”、“在
……
上方”、“上”及类似物的空间相对术语在本文中可用来描述如图中说明的一个元件或构件与另一(些)元件或构件的关系。空间相对术语希望涵盖除图中描绘的定向之外的使用或操作中的装置的不同定向。设备可以其它方式定向(旋转90度或以其它定向)，且可同样相应地解释本文中使用的空间相对描述符。
[0018]为了减小环境变化的影响，描述一种阻抗匹配电路。所公开的阻抗匹配电路可嵌入半导体装置中，例如，存储器装置或处理装置。通过嵌入阻抗匹配电路，半导体装置的输入/输出接口的性能将独立于工艺、电压及温度(PVT)变化。在实例中，所公开的阻抗匹配电路仅使用一个比较器，此导致降低的功率消耗及增加的精确性。
[0019]图1是展示根据一些实施例的阻抗匹配电路100的框图。如图1中展示，阻抗匹配电路100包含PVT校准电路102。PVT校准电路102包含复制后驱动器104(也称为复制电阻单元)、衬垫106(也称为第一节点)、比较器108及计数器110。阻抗匹配电路100进一步包含外部电阻器112(也称为参考电阻器)及后驱动器114(也称为电阻单元)。
[0020]复制后驱动器104连接到衬垫106。外部电阻器112的第一端子连接到衬垫106，且外部电阻器112的第二端子连接到接地。比较器108的第一输入端子连接到衬垫106，且比较器108的第二输入端子连接到提供参考电压的参考电压节点。比较器108的输出端子连接到计数器110。从电压VDDQ提供用于后驱动器114的功率。通过供应电压VDD及电压VDDQ提供用于复制后驱动器104的功率。在实例中，供应电压约等于150mV，且电压VDDQ约等于300mV。然
而，其它电压是可行的。另外，参考电压约等于电压VDDQ的一半(即，150mV)。此外，在实例中，外部电阻器112的电阻值是50欧姆。然而，其它电阻值是可行的。
[0021]针对PVT校准，比较器108将比较在第一输入端子处接收的衬垫电压(也称为第一电压)与在第二输入端子处接收的参考电压，且基于比较在输出端子上提供输出信号。比较器的输出信号包含UP/DOWN信号。计数器110从比较器108的输出端子接收UP/DOWN信号且产生二进制码，也称为PUCODE<0:N>(例如，PUCODE<0>、PUCODE<0>、
…
、PUCODE<n>)。将PUCODE<0:N>(也称为校准码)提供到复制后驱动器104及后驱动器114两者。使用PUCODE<0:N>来校准复制后驱动器104的电阻值以匹配外部电阻器112的电阻值。例如，使用PUCODE<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗匹配电路，其特征在于其包括：参考电压产生器，其经配置以产生参考电压；码产生器，其经配置以通过比较所述参考电压与相关联于第一节点的第一电压来产生第一校准码，且通过比较所述参考电压与相关联于第二节点的第二电压来产生第二校准码；第一电阻单元，其经配置以响应于所述第一校准码而将所述第一电压提供到所述第一节点以将其电阻校准为等于参考电阻；及第二电阻单元，其经配置以响应于所述第二校准码而将所述第二电压提供到所述第二节点以将其电阻校准为所述参考电阻。2.根据权利要求1所述的阻抗匹配电路，其特征在于所述码产生器包括第一多路复用器及比较器，其中所述第一多路复用器选择所述第一电压及所述第二电压中的一者，且将所述选定电压提供到所述比较器的第一输入端子。3.根据权利要求2所述的阻抗匹配电路，其特征在于所述第一多路复用器经配置以选择所述第一电压以校准所述第一电阻单元，且其中所述比较器经配置以比较所述第一电压与在所述比较器的第二输入端子处接收的所述参考电压。4.根据权利要求2所述的阻抗匹配电路，其特征在于所述第一多路复用器经配置以选择所述第二电压以校准所述第二电阻单元，且其中所述比较器经配置以比较所述第二电压与在所述比较器的第二输入端子处接收的所述参考电压。5.根据权利要求4所述的阻抗匹配电路，其特征在于所述码产生器进一步包括第二多路复用器及反相器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：温清华，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：新型
国别省市：