一种便于更换测试件的芯片测试分析仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种便于更换测试件的芯片测试分析仪，包括芯片测试分析仪主体，所述芯片测试分析仪主体的一侧设有操控组件，所述芯片测试分析仪主体的另一侧设有密封门，所述芯片测试分析仪主体的正面设有长形开口，所述长形开口上设有与其转动连接的中空长条；有益效果为：第一电机带动中空长条转动，使得芯片转动到分析仪的内部进行测试，合格时，芯片放置槽摆动到收集箱的上方一侧，配合转动组件可以将合格的芯片自动输送到下方的收集箱内，不合格时，芯片放置槽摆动到收集箱的上方另一侧，配合转动组件可以将合格的芯片自动输送到下方的收集箱内，从而具有良好的自动上下料的功能，不需要测试员频繁的走动取放

【技术实现步骤摘要】
一种便于更换测试件的芯片测试分析仪


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体来说，涉及一种便于更换测试件的芯片测试分析仪
。

技术介绍

[0002]为了提高安放
、
固定
、
密封
、
保护芯片和增强电热性能的作用，需要对芯片采用封装处理
。
在芯片封装后，常常会采用芯片测试分析仪
(X
‑
Ray
检测仪
)
对封装后的芯片进行测试，
X
‑
Ray
检测在不破坏芯片情况下，利用
X
射线穿透能力检测芯片的封装情况，如气泡
、
邦定线异常，晶粒尺寸，支架方向等
。
[0003]目前芯片测试分析仪在测试芯片封装步骤如下：打开防护门，将芯片放置在仪器的内部，关闭防护门，启动仪器，测试员坐在座椅上观察电脑显示屏上的拍摄图片，并分析是否合格，然后从座椅起来打开防护门取出芯片放置在对应的收集盒上，整个步骤较为繁琐，测试员需要频繁的走动取放，增大了测试员的工作负担
。
[0004]针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案
。

技术实现思路

[0005]针对相关技术中的问题，本技术提出一种便于更换测试件的芯片测试分析仪，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题
。
[0006]为此，本技术采用的具体技术方案如下：
[0007]一种便于更换测试件的芯片测试分析仪，包括芯片测试分析仪主体，所述芯片测试分析仪主体的一侧设有操控组件，所述芯片测试分析仪主体的另一侧设有密封门，所述芯片测试分析仪主体的正面设有长形开口，所述长形开口上设有与其转动连接的中空长条，所述中空长条的前后两端均设有与其转动连接的活动长条，所述中空长条的内部安装有转动组件，所述中空长条的顶端设有安装在所述芯片测试分析仪主体内部的第一电机，所述活动长条的顶面设有芯片放置槽，所述活动长条的顶面镶嵌有接近开关，所述芯片测试分析仪主体的正面设有收集箱，所述收集箱的顶端安装有上料组件
。
[0008]优选的，所述转动组件包括两个定位组件以及一个推动组件，所述定位组件包括第一锥齿轮，所述第一锥齿轮的侧端设有与其啮合连接的第二锥齿轮，所述第二锥齿轮的侧端设有与所述中空长条内壁转动连接的第一齿轮，所述第一齿轮的底端设有与所述中空长条下方内壁滑动连接的第一齿条，所述第一齿条与所述中空长条的内壁连接有弹簧
。
[0009]优选的，所述推动组件包括安装在所述中空长条下方内壁上的第二电机，所述第二电机的一端设有第二齿轮，所述第二齿轮的底端设有与所述中空长条下方内壁滑动连接的第二齿条
。
[0010]优选的，所述第一锥齿轮与活动长条焊接连接，所述第一锥齿轮与所述中空长条转动连接
。
[0011]优选的，所述上料组件包括焊接在所述收集箱上方的上料长轨，所述上料长轨的
顶面设有连接长板，所述连接长板的顶面设有贯穿至其下方的微型电动推杆，所述微型电动推杆的底端设有缓冲压片
。
[0012]优选的，所述芯片放置槽与所述上料长轨的内部均为倾斜结构，所述芯片放置槽与所述上料长轨的内部均安装有若干个运输辊
。
[0013]优选的，所述收集箱的内部设有两个隔板，所述收集箱为弧形结构
。
[0014]本技术的有益效果为：在使用时，测试员可以提起将多个芯片放置在内部倾斜的上料长轨，由于上料长轨内部为倾斜结构，且设置了多个减小摩擦阻力的运输辊，因此上料长轨上的芯片可以自动滑动到对应的芯片放置槽内，第一电机带动中空长条转动，使得芯片转动到分析仪的内部进行测试，合格时，芯片放置槽摆动到收集箱的上方一侧，配合转动组件可以将合格的芯片自动输送到下方的收集箱内，不合格时，芯片放置槽摆动到收集箱的上方另一侧，配合转动组件可以将合格的芯片自动输送到下方的收集箱内，从而具有良好的自动上下料的功能，不需要测试员频繁的走动取放，工作负担大大降低
。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0016]图1是根据本技术实施例的一种便于更换测试件的芯片测试分析仪的结构示意图；
[0017]图2是根据本技术实施例的一种便于更换测试件的芯片测试分析仪图1中
A
的放大图；
[0018]图3是根据本技术实施例的一种便于更换测试件的芯片测试分析仪中活动长条与中空长条之间的连接俯视图剖视图；
[0019]图4是根据本技术实施例的一种便于更换测试件的芯片测试分析仪中活动长条与中空长条之间的连接俯视图
。
[0020]图中：
[0021]1、
芯片测试分析仪主体；
2、
操控组件；
3、
长形开口；
4、
中空长条；
5、
活动长条；
6、
第一电机；
7、
芯片放置槽；
8、
收集箱；
9、
第一锥齿轮；
10、
第二锥齿轮；
11、
第一齿轮；
12、
第一齿条；
14、
弹簧；
15、
第二电机；
16、
第二齿轮；
17、
第二齿条；
18、
上料长轨；
19、
连接长板；
20、
微型电动推杆；
21、
接近开关；
22、
运输辊；
23、
隔板
。
具体实施方式
[0022]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图，这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件
。
[0023]根据本技术的实施例，提供了一种便于更换测试件的芯片测试分析仪
。
[0024]实施例一；
[0025]如图1‑4所示，根据本技术实施例的便于更换测试件的芯片测试分析仪，包括芯片测试分析仪主体1，芯片测试分析仪主体1的一侧设有操控组件2，芯片测试分析仪主体1的另一侧设有密封门，便于芯片测试分析仪主体1内部的维修或者检测其他大型的物品，芯片测试分析仪主体1的正面设有长形开口3，长形开口3上设有与其转动连接的中空长条4，中空长条4的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种便于更换测试件的芯片测试分析仪，其特征在于，包括芯片测试分析仪主体
(1)
，所述芯片测试分析仪主体
(1)
的一侧设有操控组件
(2)
，所述芯片测试分析仪主体
(1)
的另一侧设有密封门，所述芯片测试分析仪主体
(1)
的正面设有长形开口
(3)
，所述长形开口
(3)
上设有与其转动连接的中空长条
(4)
，所述中空长条
(4)
的前后两端均设有与其转动连接的活动长条
(5)
，所述中空长条
(4)
的内部安装有转动组件，所述中空长条
(4)
的顶端设有安装在所述芯片测试分析仪主体
(1)
内部的第一电机
(6)
，所述活动长条
(5)
的顶面设有芯片放置槽
(7)
，所述活动长条
(5)
的顶面镶嵌有接近开关
(21)
，所述芯片测试分析仪主体
(1)
的正面设有收集箱
(8)
，所述收集箱
(8)
的顶端安装有上料组件
。2.
根据权利要求1所述的一种便于更换测试件的芯片测试分析仪，其特征在于，所述转动组件包括两个定位组件以及一个推动组件，所述定位组件包括第一锥齿轮
(9)
，所述第一锥齿轮
(9)
的侧端设有与其啮合连接的第二锥齿轮
(10)
，所述第二锥齿轮
(10)
的侧端设有与所述中空长条
(4)
内壁转动连接的第一齿轮
(11)
，所述第一齿轮
(11)
的底端设有与所述中空长条
(4)
下方内壁滑动连接的第一齿条
(12)
，所述第一齿条
(12)
与所述中空长条...

【专利技术属性】
技术研发人员：何奕，熊田，江世斌，
申请(专利权)人：成都超约科技有限公司，
类型：新型
国别省市：