本实用新型专利技术涉及一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，所属低压电器工装技术领域，包括塑壳断路器，所述的塑壳断路器下端设有下绝缘导向板，所述的下绝缘导向板上设有与塑壳断路器相活动式触接的下触头组件。所述的下触头组件包括下触头，所述的下触头下部设有与下触头相贯穿式套接的铜柱，所述的铜柱后端设有与铜柱呈一体化的银片。具有结构紧凑、运行稳定性好和效率高的特点。解决了影响到塑壳断路器各相脱扣动作时间导致断路器延时校验带来较大误差的问题。带来较大误差的问题。带来较大误差的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构
[0001]本技术涉及低压电器工装
，具体涉及一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构。
技术介绍
[0002]塑壳断路器出厂前需模拟实际使用时在过流条件下自动跳闸情况，即瞬、延时校验，由于大电流塑壳断路器延时动作时间较长，一般多工位同时进行校验，即产品边安装边校验。
[0003]塑壳断路器各相下触头因加工和装配存在偏差，很难做到各触头面平行。各相下触头不能与对应断路器相触头接触良好，各相下触头存在发热明显不一致现场，尤其是大电流校验时更加明显，而这会影响到塑壳断路器各相脱扣的动作时间，给断路器延时校验带来较大误差。
技术实现思路
[0004]本技术主要解决现有技术中存在的不足，提供了一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其具有结构紧凑、运行稳定性好和效率高的特点。解决了影响到塑壳断路器各相脱扣动作时间导致断路器延时校验带来较大误差的问题。
[0005]本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
[0006]一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，包括塑壳断路器，所述的塑壳断路器下端设有下绝缘导向板，所述的下绝缘导向板上设有与塑壳断路器相活动式触接的下触头组件。所述的下触头组件包括下触头，所述的下触头下部设有与下触头相贯穿式套接的铜柱，所述的铜柱后端设有与铜柱呈一体化的银片。
[0007]作为优选，所述的下触头上端设有与下触头相螺纹式套接固定的螺钉，所述的螺钉与铜柱前端设有软连接带，所述的软连接带两端分别与螺钉、铜柱相限位套接固定。
[0008]作为优选，所述的软连接带下部两端设有与铜柱相螺纹式套接的螺母。螺母采用纯铜材料。
[0009]作为优选，所述的螺母与下触头间设有与铜柱相套接的平垫圈，所述的平垫圈与下触头间设有与下触头相插嵌式套接固定的压缩弹簧。
[0010]作为优选，所述的铜柱后部与下触头间设有与铜柱相套接的球面垫圈。
[0011]作为优选，所述的球面垫圈与下触头间设有与铜柱相套接的碗形垫圈。
[0012]作为优选，所述的塑壳断路器上端设有上绝缘导向板，所述的上绝缘导向板上设有与塑壳断路器相活动式触接的上触头。
[0013]本技术能够达到如下效果：
[0014]本技术提供了一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，与现有技术相比较，具有结构紧凑、运行稳定性好和效率高的特点。解决了影响到塑壳断路器各相脱扣动作时间导致断路器延时校验带来较大误差的问题。
附图说明
[0015]图1是本技术的结构示意图。
[0016]图2是本技术中的下触头组件的结构剖视图。
[0017]图中：上绝缘导向板1，上触头2，塑壳断路器3，下绝缘导向板4，下触头组件5，下触头6，螺钉7，软连接带8，螺母9，铜柱10，平垫圈11，压缩弹簧12，碗形垫圈13，球面垫圈14，银片15。
具体实施方式
[0018]下面通过实施例，并结合附图，对本技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0019]实施例：如图1和图2所示，一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，包括塑壳断路器3，塑壳断路器3上端设有上绝缘导向板1，上绝缘导向板1上设有与塑壳断路器3相活动式触接的上触头2。塑壳断路器3下端设有下绝缘导向板4，下绝缘导向板4上设有与塑壳断路器3相活动式触接的下触头组件5。下触头组件5包括下触头6，下触头6下部设有与下触头6相贯穿式套接的铜柱10，铜柱10后端设有与铜柱10呈一体化的银片15。铜柱10后部与下触头6间设有与铜柱10相套接的球面垫圈14，球面垫圈14与下触头6间设有与铜柱10相套接的碗形垫圈13。下触头6上端设有与下触头6相螺纹式套接固定的螺钉7，螺钉7与铜柱10前端设有软连接带8，软连接带8两端分别与螺钉7、铜柱10相限位套接固定。软连接带8下部两端设有与铜柱10相螺纹式套接的螺母9。螺母9与下触头6间设有与铜柱10相套接的平垫圈11，平垫圈11与下触头6间设有与下触头6相插嵌式套接固定的压缩弹簧12。
[0020]银片15和铜柱10焊接组合，套上球面垫圈14、碗形垫圈14，并穿过下触头6，再将压缩弹簧12、平垫圈11套入铜柱10，并拧入螺母9调节压缩弹簧12的轴向压缩量，调定后，再在铜柱10上套入软连接带8，并以螺母9紧固，软连接带8的另一端通过螺钉7紧固在下触头6上。工作时，各相下触头6沿下绝缘导向板4压紧在对应的塑壳断路器3的下面触头上，通过球面垫圈14、碗形垫圈13适应性转动，使银片15与塑壳断路器3各下触头接触良好，从而使各相下触头6发热基本相同。
[0021]综上所述，该大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，具有结构紧凑、运行稳定性好和效率高的特点。解决了影响到塑壳断路器各相脱扣动作时间导致断路器延时校验带来较大误差的问题。
[0022]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范实施例的细节，而且在不背离技术的基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0023]总之，以上所述仅为本技术的具体实施例，但本技术的结构特征并不局限于此，任何本领域的技术人员在本技术的领域内，所作的变化或修饰皆涵盖在本技术的专利范围之中。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：包括塑壳断路器（3），所述的塑壳断路器（3）下端设有下绝缘导向板（4），所述的下绝缘导向板（4）上设有与塑壳断路器（3）相活动式触接的下触头组件（5）；所述的下触头组件（5）包括下触头（6），所述的下触头（6）下部设有与下触头（6）相贯穿式套接的铜柱（10），所述的铜柱（10）后端设有与铜柱（10）呈一体化的银片（15）。2.根据权利要求1所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的下触头（6）上端设有与下触头（6）相螺纹式套接固定的螺钉（7），所述的螺钉（7）与铜柱（10）前端设有软连接带（8），所述的软连接带（8）两端分别与螺钉（7）、铜柱（10）相限位套接固定。3.根据权利要求2所述的一种大电流塑壳断路器延时校验台触头结构，其特征在于：所述的软连接带（8）下部两端设有与铜柱（10）相螺纹式套接...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈佳成，袁迪飞，王夫观，孙钢洪，
申请(专利权)人：杭州之江开关股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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