检测装置制造方法及图纸

在检测装置(20)中，驱动电路(74)将在多个检测期间的每一个中不同的频率的驱动信号(第2驱动信号TX2)供给至第1传感器电极(24)。检测电路(76)基于在多个检测期间的每一个中从被配置于第1传感器电极(24)的周边的第2传感器电极(26)接收到的检测信号(第2检测信号RX2)，检测物体的接近。检测物体的接近。检测物体的接近。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检测装置


[0001]本公开涉及具有接近检测功能的检测装置。

技术介绍

[0002]已知具备用于检测检测对象的触摸和接近的接近传感器以及显示面板的显示装置(例如参照专利文献1)。在该显示装置中，在显示面板的显示区域配置有触摸检测用的电极，在显示区域的外侧配置有接近检测用的电极。在进行接近检测的情况下，向触摸检测用的电极输入信号，基于从接近检测用的电极输出的信号来判定有无检测对象的接近。
[0003][在先技术文献][0004][专利文献][0005]专利文献1：日本特开2019
‑
101532号公报

技术实现思路

[0006][专利技术要解决的课题][0007]在接近检测技术中寻求进一步的改善。
[0008][用于解决技术课题的技术方案][0009]为了解决上述课题，本公开的一个方案的检测装置包括：驱动电路，其将在多个检测期间的每一个中不同的频率的驱动信号供给至第1传感器电极；以及检测电路，其基于在多个检测期间的每一个中从被配置于第1传感器电极的周边的第2传感器电极接收到的检测信号，检测物体的接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检测装置，其特征在于，包括：驱动电路，其将在多个检测期间的每一个中不同的频率的驱动信号供给至第1传感器电极，以及检测电路，其基于在所述多个检测期间的每一个中从被配置于所述第1传感器电极的周边的第2传感器电极接收到的检测信号，检测物体的接近。2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，在所述多个检测期间分别供给的所述驱动信号的频率彼此与自然数倍不同。3.如权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述检测电路基于从所述第2传感器电极接收到的检测信号，在所述多个检测期间的每一个中临时判定有无物体的接近，在所述多个检测期间中的规定数量以上的检测期间临时判定为存在物体的接近的情况下，正式判定为存在物体的接近。4.如权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述检测电路基于从所述第2传感器电极接收到的检测信号，在所述多个检测期间的每一个中临时判定有无物体的接近；在所述检测电路中，在所述多个检测期间中的规定的第1数量以上且小于规...

【专利技术属性】
技术研发人员：森冈裕介，加藤祐司，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：