本发明专利技术提供了一种图像测距方法、装置及服务器，涉及深度学习的技术领域，包括：利用深度图像估计单元对待处理图像进行深度处理，通过赋予待处理图像三维纵深，确定深度图像；通过消失点检测单元，基于深度图像和待测点，确定三维映射模型和待测点之间的第一坐标距离；利用对象检测单元对深度图像进行自动识别处理，确定深度图像中的一对目标参考点，以及目标参考点间的实际距离，并通过三维映射模型，确定目标参考点间的第二坐标距离；根据第一坐标距离、第二坐标距离和实际距离，确定目标距离。本发明专利技术通过单目图像透视测距模型，对待处理图像进行深度信息测算，可以显著提升模型的抗干扰能力，并提高图像测量的精确度。并提高图像测量的精确度。并提高图像测量的精确度。
【技术实现步骤摘要】
图像测距方法、装置及服务器
[0001]本专利技术涉及深度学习的
，尤其是涉及一种图像测距方法、装置及服务器。
技术介绍
[0002]图像测距技术广泛应用于建筑物高度测量、城市建筑物距离测量和路线距离测量等
目前，相关技术提出，可以通过Canny直线检测与基于Freeman8方向链码的轮廓跟踪法等测距方案，对目标物体高度进行测量，但上述方案对测量对象的几何规则性要求较高，并且模型泛化性较差，只能针对预训练过的具有强空间结构特征的简单单目式场景进行分析，对于具有多物体、干扰项多、空间关系复杂的场景测量性能较差，此外，由于现有技术模型采用单一线性工作流，导致模型架构滞重，因此，增加了模型调整的难度。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种图像测距方法、装置及服务器，通过单目图像透视测距模型，对待处理图像进行深度信息测算，可以显著提升模型的抗干扰能力，并提高图像测量的精确度。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种图像测距方法，方法应用于单目图像透视测距模型，单目图像透视测距模型包括：深度图像估计单元、消失点检测单元和对象检测单元，方法包括：获取待处理图像和待处理图像中的待测距离两端对应的一对待测点，其中，待处理图像为二维图像；利用深度图像估计单元对待处理图像进行深度处理，通过赋予待处理图像三维纵深，确定深度图像，其中，深度图像为待处理图像对应的三维图像；通过消失点检测单元，基于深度图像和待测点，确定三维映射模型和待测点之间的第一坐标距离；利用对象检测单元对深度图像进行自动识别处理，确定深度图像中的一对目标参考点，以及目标参考点间的实际距离，并通过三维映射模型，确定目标参考点间的第二坐标距离；根据第一坐标距离、第二坐标距离和实际距离，确定目标距离，其中，目标距离为待测点间的实际距离。
[0005]在一种实施方式中，利用深度图像估计单元对待处理图像进行深度处理，通过赋予待处理图像三维纵深，确定深度图像的步骤，包括：获取待处理图像对应的融合特征，其中，融合特征包括待处理图像的图像低层细节和图像高层语义，图像低层细节包括：图像轮廓、颜色、纹理和形状特征，图像高层语义包括：图像概念特征；将融合特征发送至预设全卷积网络，并利用图像低层细节和图像高层语义，针对图像的远近纵深关系进行模型训练，确定深度图像。
[0006]在一种实施方式中，获取待处理图像对应的融合特征的步骤，包括：通过预设特征提取模型对待处理图像进行特征提取处理，确定待处理图像对应的多尺度特征，其中，多尺度特征中包括：浅层特征和深层特征；对浅层特征和深层特征处理进行采样处理和连接处理，确定融合特征。
[0007]在一种实施方式中，通过消失点检测单元，基于深度图像和待测点，确定三维映射
模型和待测点之间的第一坐标距离的步骤，包括：通过消失点检测单元，对深度图像进行消失点分析处理，确定深度图像对应的消失点坐标集合，其中，消失点坐标集合中包括：深度图像中各消失点的二维坐标；根据消失点坐标集合，建立三维映射模型；通过三维映射模型，确定待测点对应的目标三维坐标，以及待测点之间的第一坐标距离。
[0008]在一种实施方式中，通过消失点检测单元，对深度图像进行消失点分析处理，确定深度图像对应的消失点坐标集合的步骤，包括：通过预设平行线检测模型，基于深度图像，确定目标平行线对集合；将目标平行线对集合中的各项一维的目标平行线，发送至预设消失点回归模型的两个全连接层中，通过全连接层回归输出消失点坐标集合。
[0009]在一种实施方式中，通过预设平行线检测模型，基于深度图像，确定目标平行线对集合的步骤，包括：通过预设边缘检测模型，对深度图像进行边缘检测，确定边缘图像；对边缘图像进行线段提取处理，并将线段长度大于预设长度阈值的线段确定为有效线段；将有效线段中，各项夹角小于预设角度阈值的线对，确定为目标平行线对集合。
[0010]在一种实施方式中，利用对象检测单元对深度图像进行自动识别处理，确定深度图像中的一对目标参考点，以及目标参考点间的实际距离的步骤，包括：利用对象检测单元捕捉深度图像中具有经验长度的目标物体，并在目标物体处设置深度图像中的目标参考点；将目标物体发送至预设数据库中，确定目标物体对应的尺寸信息，并根据尺寸信息，确定目标参考点间的实际距离。
[0011]第二方面，本专利技术实施例还提供一种图像测距装置，装置应用于单目图像透视测距模型，单目图像透视测距模型包括：深度图像估计单元、消失点检测单元和对象检测单元，装置包括：图像获取模块，获取待处理图像和待处理图像中的待测距离两端对应的一对待测点，其中，待处理图像为二维图像；深度分析模块，利用深度图像估计单元对待处理图像进行深度处理，通过赋予待处理图像三维纵深，确定深度图像，其中，深度图像为待处理图像对应的三维图像；消失点检测模块，通过消失点检测单元，基于深度图像和待测点，确定三维映射模型和待测点之间的第一坐标距离；对象检测模块，利用对象检测单元对深度图像进行自动识别处理，确定深度图像中的一对目标参考点，以及目标参考点间的实际距离，并通过三维映射模型，确定目标参考点间的第二坐标距离；图像测距模块，根据第一坐标距离、第二坐标距离和实际距离，确定目标距离，其中，目标距离为待测点间的实际距离。
[0012]第三方面，本专利技术实施例还提供一种服务器，包括处理器和存储器，存储器存储有能够被处理器执行的计算机可执行指令，处理器执行计算机可执行指令以实现第一方面提供的任一项的方法。
[0013]第四方面，本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令在被处理器调用和执行时，计算机可执行指令促使处理器实现第一方面提供的任一项的方法。
[0014]本专利技术实施例带来了以下有益效果：
[0015]本专利技术实施例提供的一种图像测距方法、装置及服务器，该方法在获取待处理图像和待处理图像中的待测距离两端对应的一对待测点后，利用深度图像估计单元对待处理图像进行深度处理，通过赋予待处理图像三维纵深，确定深度图像，并通过消失点检测单元，基于深度图像和待测点，确定三维映射模型和待测点之间的第一坐标距离；利用对象检测单元对深度图像进行自动识别处理，确定深度图像中的一对目标参考点，以及目标参考
点间的实际距离，并通过三维映射模型，确定目标参考点间的第二坐标距离，并根据第一坐标距离、第二坐标距离和实际距离，确定目标距离，本专利技术实施例通过单目图像透视测距模型，对待处理图像进行深度信息测算，可以显著提升模型的抗干扰能力，并提高图像测量的精确度。
[0016]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0017]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0018]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像测距方法，其特征在于，所述方法应用于单目图像透视测距模型，所述单目图像透视测距模型包括：深度图像估计单元、消失点检测单元和对象检测单元，所述方法包括：获取待处理图像和所述待处理图像中的待测距离两端对应的一对待测点，其中，所述待处理图像为二维图像；利用深度图像估计单元对所述待处理图像进行深度处理，通过赋予所述待处理图像三维纵深，确定深度图像，其中，所述深度图像为所述待处理图像对应的三维图像；通过消失点检测单元，基于所述深度图像和所述待测点，确定三维映射模型和所述待测点之间的第一坐标距离；利用对象检测单元对所述深度图像进行自动识别处理，确定所述深度图像中的一对目标参考点，以及所述目标参考点间的实际距离，并通过所述三维映射模型，确定所述目标参考点间的第二坐标距离；根据所述第一坐标距离、所述第二坐标距离和所述实际距离，确定目标距离，其中，所述目标距离为所述待测点间的实际距离。2.根据权利要求1所述的图像测距方法，其特征在于，所述利用深度图像估计单元对所述待处理图像进行深度处理，通过赋予所述待处理图像三维纵深，确定深度图像的步骤，包括：获取所述待处理图像对应的融合特征，其中，所述融合特征包括所述待处理图像的图像低层细节和图像高层语义，所述图像低层细节包括：图像轮廓、颜色、纹理和形状特征，所述图像高层语义包括：图像概念特征；将所述融合特征发送至预设全卷积网络，并利用所述图像低层细节和所述图像高层语义，针对图像的远近纵深关系进行模型训练，确定所述深度图像。3.根据权利要求2所述的图像测距方法，其特征在于，所述获取所述待处理图像对应的融合特征的步骤，包括：通过预设特征提取模型对所述待处理图像进行特征提取处理，确定所述待处理图像对应的多尺度特征，其中，所述多尺度特征中包括：浅层特征和深层特征；对所述浅层特征和所述深层特征处理进行采样处理和连接处理，确定融合特征。4.根据权利要求1所述的图像测距方法，其特征在于，所述通过消失点检测单元，基于所述深度图像和所述待测点，确定三维映射模型和所述待测点之间的第一坐标距离的步骤，包括：通过消失点检测单元，对所述深度图像进行消失点分析处理，确定所述深度图像对应的消失点坐标集合，其中，所述消失点坐标集合中包括：所述深度图像中各消失点的二维坐标；根据所述消失点坐标集合，建立三维映射模型；通过所述三维映射模型，确定所述待测点对应的目标三维坐标，以及所述待测点之间的第一坐标距离。5.根据权利要求4所述的图像测距方法，其特征在于，所述通过消失点检测单元，对所述深度图像进行消失点分析处理，确定所述深度图像对应的消失点坐标集合的步骤，包括：通过预设平行线检...
【专利技术属性】
技术研发人员：程子桐，
申请(专利权)人：程子桐，
类型：发明
国别省市：
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