一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法、介质及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法、介质及系统，采用多级回路测试装置连接换流阀内的多级晶闸管中的单极晶闸管并输出测试信号；单极晶闸管连接的控制板响应测试信号，向连接的信号模拟装置回复回报信号；信号模拟装置根据回报信号产生光通信的测试信号或测试编码；信号模拟装置调整测试信号或测试编码的脉冲宽度和发送频率并发送给单极晶闸管连接的控制板，直到接收到控制板回复的光单脉冲回报脉冲和触发回报脉冲；信号模拟装置记录信号模拟装置发送的脉冲宽度、发送脉冲时测试电压的角度、测试电压；记录预定测试时间的回报脉冲的个数；将记录的内容与数据库对比，确定单极晶闸管的技术路线并进行闭环回路测试。本发明专利技术兼容性好。本发明专利技术兼容性好。本发明专利技术兼容性好。

【技术实现步骤摘要】
一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法、介质及系统


[0001]本专利技术涉及换流阀测试
，尤其涉及一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法、介质及系统。

技术介绍

[0002]在换流阀的测试中，由于现场的测试，需要相同的厂家配套的VTE系统，即单极晶闸管回路闭环测试系统，参与一同测试，当一个换流站，具有两种厂家的换流阀，则需要更换适配的，以实现针对不同的技术路线的厂家的晶闸管进行闭环回路测试，存在兼容性差的问题。
[0003]此外，目前的技术都在单极晶闸管的检测，存在检测效率低下。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术在于提供一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法和系统，以解决上述兼容性差，以及检测效率低下的问题。
[0005]为解决上述问题，本专利技术提供一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法，包括：
[0006]采用多级回路测试装置连接换流阀内的多级晶闸管中的一个单极晶闸管，并输出低压电测试信号；
[0007]所述单极晶闸管连接的控制板，响应所述测试信号，向连接的信号模拟装置，回复光取能回报信号；
[0008]所述信号模拟装置根据所述回报信号脉冲宽度、脉冲数量、施加测试电压时接收到回报脉冲时的电压角度，产生一组光通信的测试信号或测试编码；
[0009]所述信号模拟装置不断调整产生的测试信号或测试编码的脉冲宽度和发送频率，并发送给待测的所述单极晶闸管连接的控制板，直到接收到所述控制板回复的光单脉冲回报脉冲和触发回报脉冲；
[0010]所述信号模拟装置，记录当前所述信号模拟装置发送的脉冲宽度、发送脉冲时测试电压的角度、测试电压；在停止施加低压电测试信号后，记录预定测试时间的回报脉冲的个数；
[0011]将所述记录的内容，与预先存储的数据库对比，确定所述单极晶闸管的技术路线，并进行闭环回路测试。
[0012]进一步，所述进行闭环回路测试中，还包括以下定位过程：
[0013]所述多级回路测试装置向所述换流阀内的任一个单极晶闸管施加低压电测试信号；
[0014]所述单极晶闸管回路的控制板，在所述单极晶闸管两端施加电压后获取到能量，并通过回报光纤向连接的阀基电子设备发送取能回报编码；
[0015]当所述阀基电子设备收到所述取能回报编码后，且在该取能信号周期内检测到连接的信号模拟装置发送的触发信号，对二者进行对比，通过所述回报编码确认所述单极晶
闸管的位置；
[0016]在匹配成功确定位置后，所述阀基电子设备通过光纤向对应的晶闸管级回路的控制板发送触发编码；
[0017]所述控制板执行响应的触发操作。
[0018]进一步，所述触发编码包括：晶闸管所在模块信息和晶闸管位置信息。
[0019]进一步，所述触发编码包括：两个间隔第一预设时间的触发级选择编码和两个间隔第二预设时间的预设脉宽的单脉冲，且后一所述触发级选择编码和相邻的前一所述单脉冲间隔第三预设时间。
[0020]进一步，所述阀基电子设备通过光纤向对应的晶闸管级回路的控制板发送触发编码的步骤之前，所述方法还包括：
[0021]信号模拟装置监测低压电测试信号的过零点，在监测到低压电测试信号的第预设数量个正过零点之后第四预设时间，信号模拟装置的根据接收到的所测试的单级晶闸管的位置产生触发编码，该触发编码可通过换流阀备用光纤发送到阀基电子设备。
[0022]本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令；所述计算机程序指令被处理器执行时实现如前述的换流阀多级晶闸管的闭环测试方法。
[0023]本专利技术实施例还提供一种换流阀多级晶闸管的闭环测试系统，包括：如前所述的计算机可读存储介质。
[0024]本专利技术实施例，可适应不同厂家的换流阀，兼容性好，提高测试效率，可准确定位晶闸管，以便在故障时及时维修对应的晶闸管。
附图说明
[0025]图1为本专利技术实施例一的换流阀多级晶闸管的闭环测试方法的流程图；
[0026]图2为本专利技术实施例一的换流阀多级晶闸管的闭环测试方法的原理框图；
[0027]图3为本专利技术实施例二的换流阀多级晶闸管的闭环测试方法的流程图；
[0028]图4为本专利技术实施例二的换流阀多级晶闸管的闭环测试方法的原理框图；
[0029]图5为本专利技术实施例二的触发编码的示意图。
具体实施方式
[0030]为清楚说明本专利技术中的方案，下面给出优选的实施例并结合附图详细说明。
[0031]实施例一
[0032]本专利技术实施例一公开一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法。该方法用于不同厂家不同技术路线换流阀的测试。技术路线指的是换流阀的相关参数等等，厂家不同，技术路线不同。如图1和2所示，该方法包括如下的步骤：
[0033]步骤S101：采用多级回路测试装置连接换流阀内的多级晶闸管中的一个单极晶闸管，并输出低压电测试信号。
[0034]步骤S102：单极晶闸管连接的控制板，响应测试信号，向连接的信号模拟装置，回复光取能回报信号。
[0035]步骤S103：信号模拟装置根据回报信号脉冲宽度、脉冲数量、施加测试电压时接收
到回报脉冲时的电压角度，产生一组光通信的测试信号或测试编码。
[0036]步骤S104：信号模拟装置不断调整产生的测试信号或测试编码的脉冲宽度和发送频率，并发送给待测的单极晶闸管连接的控制板，直到接收到控制板回复的光单脉冲回报脉冲和触发回报脉冲。
[0037]步骤S105：信号模拟装置，记录当前信号模拟装置发送的脉冲宽度、发送脉冲时测试电压的角度、测试电压；在停止施加低压电测试信号后，记录预定测试时间的回报脉冲的个数。
[0038]预定测试时间可根据经验设置。例如，预定测试时间为30s。
[0039]步骤S106：将记录的内容，与预先存储的数据库对比，确定单极晶闸管的技术路线，并进行闭环回路测试。
[0040]记录的内容提取出能够得到单脉冲回报脉冲，触发回报脉冲的不同电压值以及脉冲宽度等信息等，若与数据库中的技术路线匹配，则确定匹配的技术路线为单极晶闸管的技术路线。该对比的结果也可存储在信号模拟装置的存储器内。这些信息进行整理排版后写进数据库，可完成数据更新。
[0041]通过实施例一的方法，可在测试过程中，匹配单极晶闸管的技术路线，以便根据不同技术路线进行相应的闭环回路测试，具有兼容性，无需根据不同厂家的单级晶闸管的更换适配的测试系统，提高了测试效率。
[0042]实施例二
[0043]本专利技术实施例二公开一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法。该方法针对的是进行闭环回路测试中的定位过程。如图3和4所示，该定位过程包括如下的步骤：
[0044]步骤S201：多级回路测试装置向换流阀内的任一个单极晶闸管施加低压电测试信号。
[0045]步骤S202：单极晶闸管回路的控制板，在单极晶闸管两端施加电压后获取到能量，并通过回本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种换流阀多级晶闸管的闭环测试方法，其特征在于，包括：采用多级回路测试装置连接换流阀内的多级晶闸管中的一个单极晶闸管，并输出低压电测试信号；所述单极晶闸管连接的控制板，响应所述测试信号，向连接的信号模拟装置，回复光取能回报信号；所述信号模拟装置根据所述回报信号脉冲宽度、脉冲数量、施加测试电压时接收到回报脉冲时的电压角度，产生一组光通信的测试信号或测试编码；所述信号模拟装置不断调整产生的测试信号或测试编码的脉冲宽度和发送频率，并发送给待测的所述单极晶闸管连接的控制板，直到接收到所述控制板回复的光单脉冲回报脉冲和触发回报脉冲；所述信号模拟装置，记录当前所述信号模拟装置发送的脉冲宽度、发送脉冲时测试电压的角度、测试电压；在停止施加低压电测试信号后，记录预定测试时间的回报脉冲的个数；将所述记录的内容，与预先存储的数据库对比，确定所述单极晶闸管的技术路线，并进行闭环回路测试。2.根据权利要求1所述的闭环测试方法，其特征在于，所述进行闭环回路测试中，还包括以下定位过程：所述多级回路测试装置向所述换流阀内的任一个单极晶闸管施加低压电测试信号；所述单极晶闸管回路的控制板，在所述单极晶闸管两端施加电压后获取到能量，并通过回报光纤向连接的阀基电子设备发送取能回报编码；当所述阀基电子设备收到所述取能回报编码后，且在该取能信号周期内检测到连接的信号模拟装置发送的触...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹洪森，孙璐，赵欣洋，陈瑞，刘博，韦鹏，王旭强，刘志远，黎炜，相中华，刘岩亮，马文长，车靖阳，杨子腾，任佳丽，吴保义，
申请(专利权)人：国网宁夏电力有限公司超高压公司中电普瑞电力工程有限公司，
类型：发明
国别省市：