通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路技术

本发明专利技术公开一种通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路。其中，该通讯故障检测方法包括：在确定发生通讯故障后，检测通讯光耦的原边电压和副边电压；根据通讯光耦的原边电压和副边电压确定发生通讯故障的原因。通过本发明专利技术，能够避免使用电流检测装置，只需在采样点设置电压检测装置，由于电压检测装置不设置在通讯回路中，因此即便电压检测装置出现故障，也不会影响通讯电路的正常运行，提高了通讯电路的稳定性。定性。定性。

【技术实现步骤摘要】
通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路


[0001]本专利技术涉及通讯
，具体而言，涉及一种通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路。

技术介绍

[0002]通讯电路是维持通讯系统中不同设备之间通讯的重要电路，以通讯光耦通讯为例，一旦用于实现通讯的通讯光耦出现故障，将会严重影响通讯质量甚至导致不能通讯，如果通讯电路出现通讯故障时不能及时查出故障缘由并进行处理，将会导致通讯质量长时间受到影响或中断，影响整个通讯系统的运行。而快速修复通讯故障的前提是快速识别故障原因，并有针对性的进行解决，现有技术中有通过检测通讯光耦的环路电流识别故障原因的方案，但是这种方案中，电流检测装置需要串联接入通讯电路中，不便于使用，并且，一旦电流检测装置出现断路等故障，整个通讯电路也将无法使用，大大降低了通讯电路的稳定性。
[0003]针对现有技术中通过电流法识别故障原因的方案受到电路结构限制，稳定性较差的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例中提供一种通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路，以解决现有技术中通过电流法识别故障原因的方案受到电路结构限制，稳定性较差的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种通讯故障检测方法、消除方法及通讯电路，其中，该通讯故障检测方法包括：
[0006]在确定发生通讯故障后，检测通讯光耦的原边电压和副边电压；
[0007]根据所述原边电压和所述副边电压确定发生通讯故障的原因。
[0008]进一步地，根据所述原边电压和所述副边电压确定发生通讯故障的原因，包括：
[0009]判断预设时长内，原边电压是否始终小于第一参考电压；
[0010]如果是，则确定通讯故障的原因为与通讯光耦连接的上游通讯设备未发送信号；
[0011]如果否，则继续根据所述副边电压确定发生通讯故障的原因。
[0012]进一步地，继续根据所述副边电压确定发生通讯故障的原因，包括：
[0013]判断所述副边电压是否大于第二参考电压；
[0014]如果是，则确定发生通讯故障的原因为通讯光耦处于过饱和导通状态；
[0015]如果否，则确定发生通讯故障的原因为通讯光耦处于不饱和导通状态。
[0016]本专利技术还提供一种通讯故障消除方法，应用于上述故障检测方法之后，该方法包括：
[0017]根据发生通讯故障的原因确定通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系；
[0018]根据所述通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系调节所述通讯光耦的原边电阻和/或副边电阻。
[0019]进一步地，根据发生通讯故障的原因确定通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系，包括：
[0020]如果发生通讯故障的原因为通讯光耦处于过饱和导通状态，则确定副边电流与原边电流的比值小于预设阈值；其中，所述预设阈值小于所述通讯光耦的电流传输比；
[0021]如果发生通讯故障的原因为通讯光耦处于不饱和导通状态，则确定副边电流与原边电流的比值大于所述电流传输比。
[0022]进一步地，根据所述通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系调节所述通讯光耦的原边电阻和/或副边电阻，包括：
[0023]如果副边电流与原边电流的比值小于预设阈值，则控制所述原边电阻增大，和/或控制所述副边电阻减小；
[0024]如果副边电流与原边电流的比值大于所述电流传输比，则控制所述原边电阻减小，和/或控制所述副边电阻增大。
[0025]本专利技术还提供一种通讯电路，该通讯电路包括：
[0026]第一检测器，用于检测通讯光耦的原边电压；
[0027]第二检测器，用于检测所述通讯光耦的副边电压；
[0028]故障识别模块，与所述第一检测器和所述第二检测器电性连接，用于根据所述原边电压和所述副边电压确定发生通讯故障的原因。
[0029]进一步地，所述第一检测器为第一比较器，其同相输入端输入第一参考电压，其反相输入端连接所述通讯光耦的原边的输出端，其输出端连接所述故障识别模块；
[0030]所述第二检测器为第二比较器，其同相输入端输入第二参考电压，其反相输入端连接所述通讯光耦的副边的输入端，其输出端连接所述故障识别模块。
[0031]进一步地，所述通讯电路还包括：
[0032]第一可调电阻，设置在通讯光耦的原边；
[0033]第二可调电阻，设置在所述通讯光耦的副边；
[0034]电阻调节模块，与所述第一可调电阻和所述第二可调电阻电性连接，用于根据发生通讯故障的原因调节所述第一可调电阻和所述第二可调电阻的阻值大小，以消除故障。
[0035]本专利技术还提供一种通讯系统，至少包括两个通讯设备，所述通讯系统中还包括上述通讯电路。
[0036]本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述通讯故障检测方法。
[0037]本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述通讯故障消除方法。
[0038]应用本专利技术的技术方案，在确定发生通讯故障后，检测通讯光耦的原边电压和副边电压；根据通讯光耦的原边电压和副边电压确定发生通讯故障的原因，能够避免使用电流检测装置，只需在采样点设置电压检测装置，由于电压检测装置不设置在通讯回路中，因此即便电压检测装置出现故障，也不会影响通讯电路的正常运行，提高了通讯电路的稳定性，同时，由于电流检测装置一般采用电流传感器或者点电流检测芯片，成本较高，电压检测装置可以采用比较器等简单元件，能够有效节约成本。
附图说明
[0039]图1为根据本专利技术实施例的通讯故障检测方法的流程图；
[0040]图2为根据本专利技术另一实施例的通讯故障检测方法的流程图；
[0041]图3为根据本专利技术实施例的通讯电路的结构框图；
[0042]图4为根据本专利技术另一实施例的通讯电路的结构图；
[0043]图5为根据本专利技术实施例的主控芯片与通讯电路中的比较器的电源的连接关系示意图；
[0044]图6为根据本专利技术实施例的通讯故障消除方法的流程图；
[0045]图7为根据本专利技术另一实施例的通讯故障消除方法的流程图；
[0046]图8为根据本专利技术另一实施例的通讯电路的结构框图。
具体实施方式
[0047]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通讯故障检测方法，其特征在于，所述方法包括：在确定发生通讯故障后，检测通讯光耦的原边电压和副边电压；根据所述原边电压和所述副边电压确定发生通讯故障的原因。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述原边电压和所述副边电压确定发生通讯故障的原因，包括：判断预设时长内，所述原边电压是否始终小于第一参考电压；如果是，则确定通讯故障的原因为与通讯光耦连接的上游通讯设备未发送信号；如果否，则继续根据所述副边电压确定发生通讯故障的原因。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，继续根据所述副边电压确定发生通讯故障的原因，包括：判断所述副边电压是否大于第二参考电压；如果是，则确定发生通讯故障的原因为通讯光耦处于过饱和导通状态；如果否，则确定发生通讯故障的原因为通讯光耦处于不饱和导通状态。4.一种通讯故障消除方法，应用于权利要求1至3中任一项所述的故障检测方法之后，其特征在于，所述方法包括：根据发生通讯故障的原因确定通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系；根据所述通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系调节所述通讯光耦的原边电阻和/或副边电阻。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据发生通讯故障的原因确定通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系，包括：如果发生通讯故障的原因为通讯光耦处于过饱和导通状态，则确定副边电流与原边电流的比值小于预设阈值；其中，所述预设阈值小于所述通讯光耦的电流传输比；如果发生通讯故障的原因为通讯光耦处于不饱和导通状态，则确定副边电流与原边电流的比值大于所述电流传输比。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述通讯光耦的副边电流和原边电流的比例关系调节所述通讯光耦的原边电阻和/或副边电...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晶，滕召前，唐海洋，高雅，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：