【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于增强型薄膜声学封装件(TFAP)的耐腐蚀焊盘
[0001]本公开总体上涉及集成电路
(IC)
和微机电系统
(MEMS)
封装件,并且更具体但不排他地涉及在诸如薄膜声学封装件
(TFAP)
等器件封装件中使用的耐腐蚀或耐化学焊盘
。
技术介绍
[0002]随着更小的电子器件和封装几何形状能够为小型电子器件提供更多应用,现代电子器件正变得越来越普遍
。
现代电子器件的基本组成部分中的一个是集成电路
(IC)
封装件
。IC
封装件为
IC
封装件中的电子器件
(
诸如逻辑裸片
、
半导体裸片
、
有源器件和无源器件
)
提供支持
、
保护和路由路径
。
[0003]存在用以减小或小型化传统
IC
封装件的尺寸或占地面积,同时最小化并且有助于防止腐蚀和制造过程中遇到的任何其他有害化学物质或不利氧化的有害影响的持续需求
。
由于不同的机制或工艺步骤,各种组件
(
诸如电焊盘
)
可能会腐蚀或损坏
。
这可能会对其功能
、
性能和未来可靠性产生不利影响
。
[0004]因此,存在能够克服传统方法的缺陷的装置和方法,包括本文中提供的装置和方法的需要
。
技术实现思路
[0005 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种包括声学滤波器封装件的装置,包括:基层;支撑层,被设置在所述基层上;压电结构,被设置在所述支撑层上,其中所述压电结构包括:压电层;顶部电极,在所述压电层的顶部表面上;底部电极,在所述压电层的底部表面上;接触焊盘,耦合到所述底部电极,所述接触焊盘延伸穿过所述压电层中的开口并且被耦合到所述底部电极或所述顶部电极;耐腐蚀焊盘,被设置在所述接触焊盘上;以及封盖结构,被设置在所述压电结构上
。2.
根据权利要求1所述的装置,其中所述基层还包括:衬底;以及钝化层,被设置在所述衬底上
。3.
根据权利要求2所述的装置,其中所述衬底是硅
(Si)
,并且所述钝化层是二氧化硅
(SiO2)。4.
根据权利要求1所述的装置,其中所述支撑层包括一个或多个介电层
。5.
根据权利要求4所述的装置,其中所述支撑层包括一个或多个金属层,每个金属层由所述一个或多个介电层中的至少一个介电层分开
。6.
根据权利要求5所述的装置,其中所述一个或多个金属层包括:被设置在所述基层上的
、
形成第一多个镜的第一金属层;以及形成第二多个镜的第二金属层,其中所述第二金属层与所述压电结构相邻并且在所述第一金属层上方
。7.
根据权利要求6所述的装置,其中所述一个或多个金属层各自包括被沉积在钛
(Ti)
上的钨
(W)。8.
根据权利要求1所述的装置,还包括:接触件,通过所述耐腐蚀焊盘中的开口耦合到所述接触焊盘
。9.
根据权利要求8所述的装置,其中所述接触件包括导电柱和焊帽
。10.
根据权利要求9所述的装置,其中所述导电柱是铜,并且所述焊帽是锡银
(SnAg)
焊帽
。11.
根据权利要求1所述的装置,其中所述封盖结构包括:封盖层,被沉积在所述压电结构之上,其中所述封盖层在所述顶部电极之上形成气隙
。12.
根据权利要求
11
所述的装置,其中所述封盖结构还包括:密封层,被沉积在所述封盖层之上,其中所述封盖层在所述顶部电极之上形成气隙
。13.
根据权利要求
12
所述的装置,其中所述封盖结构还包括:增强层,被沉积在密封层之上
。14.
根据权利要求
13
所述的装置,其中所述封盖层是
SiO2或氮化硅
(SiN)
,所述密封层是苯并环丁烯
(BCB)、
环氧树脂或聚酰亚胺,并且所述增强层是氮化硅
(SiN)。
15.
根据权利要求1所述的装置,其中所述压电结构还包括:第一介电层,被沉积在所述压电结构
、
所述顶部电极之上,并且至少部分地在所述接触焊盘之上;以及第二介电层,被沉积在所述第一介电层之上,并且至少部分地在所述耐腐蚀焊盘之上
。16.
根据权利要求
15
所述的装置,其中所述第一介电层和所述第二介电层都是氮化硅
(SiN)。17.
根据权利要求1所述的装置,其中所述压电层是氮化铝钪
(AlScN)。18.
根据权利要求
17
所述的装置,其中所述耐腐蚀焊盘具有延伸部分
。19.
根据权利要求1所述的装置,其中所述声学滤波器封装件还包括多个电容器
。20.
根据权利要求1所述的装置,其中所述耐腐蚀焊盘由多个层形成
。21.
根据权利要求
20
所述的装置,其中所述耐腐蚀焊盘由被沉积在晶种层上的耐腐蚀层形成
。22.
根据权利要求
21
所述的装置,其中所述耐腐蚀层是钼
(Mo)、
钨
(W)、
铬
(Cr)
和钌
(Ru)
中的至少一种,并且所述晶种层是
Ti、TiN
或
Cr。23.
根据权利要求
21
所述的装置,其中所述耐腐蚀层由多个层形成
。24.
根据权利要求
23
所述的装置,其中所述多个层包括在被沉积在钼
(Mo)
上的金
(Au)
上所沉积的钼
(Mo)。25.
根据权利要求
23
所述的装置,其中所述多个层包括被沉积在钨
(W)
上的钼
(Mo)。26.
根据权利要求1所述的装置,其中所述接触焊盘由多个层形成
。27.
根据权利要求
26
所述的装置,其中所述接触焊盘由被沉积在晶种层上的铝铜
(AlCu)
形成
。28.
根据权利要求
26
所述的装置,其中所述接触焊盘是铝
(Al)、
铜
(Cu)、Al(Si、Pd、Sc)
或其合金中的至少一种
。29.
根据权利要求1所述的装置,其中所述装置选自由以下组成的组:音乐播放器
、
视频播放器
、
娱乐单元
、
导航设备
、
通信设备
、
移动设备
、
移动电话
、
智能电话
、
个人数字助理
、
固定位置终端
、
平板电脑
、
计算机
、
可穿戴设备
、
膝上型计算机
、
服务器
、
基站和机动交通工具中的设备
。30.
一种用于制造包括声学滤波器封装件的装置的方法,包括:形成基层;形成支撑层,所述支撑层被设置在所述基层上;形成压电结构,所述压电结构被设置在所述支撑层上,其中所述压电结构包括:形成压电层;在所述压电层的顶部表面上形成顶部...
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