【技术实现步骤摘要】
不良K值电芯的筛选方法和装置
[0001]本申请涉及电池
，尤其涉及一种不良
K
值电芯的筛选方法
、
装置
。
技术介绍
[0002]K
值指的是单位时间内的电池的电压降，通常单位用
mV/d
或
mV/h
表示，是用来衡量电芯自放电率的一种指标
。
电芯出售前需要进行不良
K
值电芯的筛选，不良
K
值电芯通常为自放电严重，电芯内部存在严重漏电流的电芯
。
而现有技术对不良
K
值电芯的筛选的方法是对电芯满充后进行首次开路电压测试，获得第一开路电压
OCV1
；静止预设时间
t(
例如，3天
)
后再次进行开路电压测试，获得第二开路电压
OCV2。
进而通过第一开路电压
OCV1
与第二开路电压
OCV2
的差值除以相应的静止时间
t
得到电芯的
K
值
。
如
K
值落入异常
K
值范围，则为不良
K
值电芯
。
但该方法需要较长的预设静止时间，导致对不良
K
值电芯的筛选效率较低
。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本申请提供一种不良
K
值电芯的筛选方法
、
装置，...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种不良
K
值电芯的筛选方法，所述方法包括：获得待筛选电芯的低频阻抗相位角，所述低频阻抗相位角的频率为
0.01hz
至
10hz
；根据不良
K
值与低频阻抗相位角范围的对应关系，确定所述待筛选电芯的低频阻抗相位角是否处于所述不良
K
值对应的低频阻抗相位角范围内；若所述待筛选电芯的低频阻抗相位角处于所述不良
K
值对应的低频阻抗相位角范围内，则所述待筛选电芯为不良
K
值电芯
。2.
根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据不良
K
值与低频阻抗相位角范围的对应关系，确定所述待筛选电芯的低频阻抗相位角是否处于所述不良
K
值对应的低频阻抗相位角范围内的步骤，之前还包括：测量多个样品电芯的
K
值；获得所述多个样品电芯的低频阻抗相位角；建立所述多个样品电芯中具有不良
K
值的样品电芯的不良
K
值与低频阻抗相位角范围的对应关系
。3.
根据权利要求2所述的方法，其中，所述低频阻抗相位角的测量包括：对所述样品电芯施加交流电压，并对反馈的交流电流信号进行信号处理，获得所述样品电芯的低频阻抗相位角
。4.
根据权利要求3所述的方法，其中，所述方法满足如下条件中的至少一者：
(1)
所述交流电压为
1mv
至
30mv
交流电压；
(2)
所述交流电流信号的采集时间为
1s
至
50s
；
(3)
所述信号处理的方法为傅里叶转换
。5.
根据权利要求2所述的方法，其中，所述不良
K
值为大于或等于
0.05mv/h。6.
根据权利要求2所述的方法，其中，所述建立所述多个样品电芯中具有不良
K
值的样品电芯的不良
K
值与低频阻抗相位角范围的对应关系的步骤，包括：建立具有一级不良
...
【专利技术属性】
技术研发人员：吉登粤，孟晋磊，苏宇，戴璐，
申请(专利权)人：宁德新能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。