一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，通过本发明专利技术的技术方案，能够根据测试图片列表自动选取芯片需要调整的参数并调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。进而达到优化显示效果的目的。进而达到优化显示效果的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及计算机
，尤其涉及一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]由于LED显示屏灯板的结构、出厂批次不同。一般在控制系统通过智能设置点屏后，都需要调节芯片(例如：列驱动芯片和行驱动芯片)相关的参数来优化显示效果。
[0003]现有技术中，用户只能通过研读集成芯片手册相关的功能来调节芯片相关参数，进而达到优化显示效果的目的。
[0004]现有方案的缺点在于：
[0005]1.集成芯片手册提供的参数较多，并且命名专业，用户学习成本较高；
[0006]2.LED显示屏出现的一些异常情况，一般用户难以和芯片参数进行关联，因此，调节芯片相关参数后，依旧会出现显示异常的情况，无法达到优化显示效果的目的。

技术实现思路

[0007]本专利技术实施例提供一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质，解决了用户在难以将芯片参数与显示屏显示效果进行关联的情况下，无法通过调节芯片参数优化显示效果的问题，能够根据测试图片的异常类型和待调整芯片的型号自动匹配出芯片需要调整的参数，自动调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。
[0008]根据本专利技术的一方面，提供了一种芯片参数调整方法，包括：
[0009]按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；
[0010]当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。
[0011]根据本专利技术的另一方面，提供了一种芯片参数调整装置，该芯片参数调整装置包括：
[0012]执行模块，用于按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种
测试图片；
[0013]参数确定模块，用于当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。
[0014]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0015]至少一个处理器；以及
[0016]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0017]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的芯片参数调整方法。
[0018]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的芯片参数调整方法。
[0019]本专利技术实施例通过按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，解决了用户在难以将芯片参数与显示屏显示效果进行关联的情况下，无法通过调节芯片参数优化显示效果的问题，能够根据测试图片的异常类型和待调整芯片的型号自动匹配出需要调整的参数，自动调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。
[0020]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]图1是本专利技术实施例中的一种芯片参数调整方法的流程图；
[0023]图2是本专利技术实施例中的异常图片示意图；
[0024]图3是本专利技术实施例中的上鬼影调节控件示意图；
[0025]图4是本专利技术实施例中的下鬼影调节控件示意图；
[0026]图5是本专利技术实施例中的第一行偏暗补偿控件示意图；
[0027]图6是本专利技术实施例中的跳灰调节控件示意图；
[0028]图7是本专利技术实施例中的低灰偏色调节控件示意图；
[0029]图8是本专利技术实施例中的耦合调节控件示意图；
[0030]图9是本专利技术实施例中的一种芯片参数调整系统的结构示意图；
[0031]图10是本专利技术实施例中的另一种芯片参数调整方法的流程图；
[0032]图11是本专利技术实施例中的一种芯片参数调整装置的结构示意图；
[0033]图12是本专利技术实施例中的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0034]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0035]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0036]可以理解的是，在使用本公开各实施例公开的技术方案之前，均应当依据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片参数调整方法，其特征在于，包括：按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，包括：在将上一个测试图片调整为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作；或者；在根据上一个测试图片和上一个测试图片对应的目标图片确定上一个测试图片为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作之前，还包括：获取异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片；根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数之前，还包括：若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则获取所述测试图片的目标图片参数，其中，所述目标图片参数包括：网格线类型、线宽、间距以及灰度值中的至少一种；基于所述目标图片参数对所述测试图片进行更新。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的目标图片参数，包括：若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的图片类型；根据所述测试图片的图片类型确定所述测试图片对应的目标图片参数。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴新洲，杨昭，
申请(专利权)人：卡莱特云科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：