本发明专利技术公开了一种陶瓷表面缺陷检测装置，涉及陶瓷检测技术领域，该检测装置包括基板、检测台和检测组件，所述基板上设置有下转动机构和支架体，所述检测台包括置物盘和吸盘件，所述置物盘设在下转动机构上且吸盘件转动设在置物盘中心处，吸盘件下端延伸至下转动机构内；所述检测组件包括导引架和检测部件，所述导引架与动力组件相连且导引架上设置有导杆件，检测部件设在导杆件端部，检测部件通过滚动接触的方式与待检测陶瓷外壁接触，导杆件设有顶压板且顶压板与导引架之间通过抵触弹簧相连。本发明专利技术结构简单，检测精确且待检测陶瓷能够根据检测部件移动位置自动旋转，从而连续性检测待检测陶瓷的整个外表面，检测效率较高。高。高。
【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷表面缺陷检测装置
[0001]本专利技术涉及陶瓷检测
，具体是一种陶瓷表面缺陷检测装置。
技术介绍
[0002]目前，陶瓷在我国的应用范围以及领域越发广泛，出现在各种生活用品以及工艺品中，陶瓷本身的形状也拥有着很高的可塑性。陶瓷在生产过程中需要进行质量检测，其中陶瓷表面是否存在缺陷是检测其质量的一个指标。
[0003]陶瓷大多是旋转体结构，针对陶瓷表面检测的方式主要还是采用面阵相机拍摄的方式形成检测图像或者手工检测配合肉眼观察；由于陶瓷处于旋转状态且陶瓷表面曲线不规律，从而面阵相机与陶瓷表面各个检测区域的距离不一样，从而导致形成的检测图像出现偏差；如果采用手工检测配合肉眼观察，效率较低。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种陶瓷表面缺陷检测装置，以解决
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种陶瓷表面缺陷检测装置，包括基板、检测台和检测组件，所述基板上设置有下转动机构和支架体，所述检测台包括置物盘和吸盘件，所述置物盘设在下转动机构上且吸盘件转动设在置物盘中心处，吸盘件用于承托并固定待检测陶瓷的底部，吸盘件下端延伸至下转动机构内；检测组件滑动设在支架体上且支架体上设置有驱使检测组件纵向往复移动的动力组件，所述检测组件包括导引架和检测部件，所述导引架与动力组件相连且导引架上设置有一端向待检测陶瓷延伸的导杆件，检测部件设在导杆件指向待检测陶瓷的端部，检测部件通过滚动接触的方式与待检测陶瓷外壁接触，导杆件在导引架上水平滑动且导杆件远离待检测陶瓷的端部设有顶压板，顶压板与导引架之间通过抵触弹簧相连，所述检测部件移动至待检测陶瓷的底部时，导引架下端部能够与下转动机构相连，向下移动的导引架能够通过下转动机构驱使吸盘件旋转一定角度。
[0006]在上述技术方案的基础上，本专利技术还提供以下可选技术方案：在一种可选方案中：所述动力组件包括动力丝杆件、伺服电机和螺旋块，动力丝杆件两端转动设在支架体上，伺服电机设在支架体顶部且伺服电机输出端与动力丝杆件端部相连，螺旋块滑动设在支架体上且动力丝杆件螺旋贯穿螺旋块；导引架通过连接支臂与螺旋块固定连接。
[0007]在一种可选方案中：所述检测部件包括抵触辊、检测摄像头和检测架，所述检测架与导杆件的端部转动连接；抵触辊为两个且对称设在检测架的两端部，所述检测摄像头设在检测架中部。
[0008]在一种可选方案中：所述置物盘的边侧部设置有避让缺口，所述避让缺口朝向置物盘中心的端部延伸至待检测陶瓷的底部；避让缺口的宽度大于检测部件的宽度。
[0009]在一种可选方案中：所述置物盘边缘部设置有侧板且侧板上设置有多个周向分布的侧压件，所述侧压件包括夹固压杆和夹固弹簧，夹固压杆一端与置物盘内壁铰接且夹固压杆中部通过夹固弹簧与置物盘内壁相连，夹固压杆另一端设置有夹固滚轮。
[0010]在一种可选方案中：所述下转动机构包括外箱体、转轴件和活动侧板，所述外箱体固定在基板上，转轴件顶端部与吸盘件下端面中心固定连接，转轴件下端部延伸至外箱体内部且转轴件下端设置有上转动盘，上转动盘外边缘周向设置有多个齿体部，外箱体内壁上设置有导向滑槽，活动侧板滑动设在导向滑槽上且活动侧板相对上转动盘的端面上设置有多个凹槽，每个凹槽上均设置有一端与凹槽端壁相连的第一楔块部；活动侧板的一端设置有斜板件且斜板件侧部与外箱体内壁通过第一复位弹簧相连接，所述导引架下端部设置有与斜板件相对应的下压辊；第一楔块部与齿体部上均具有斜面和直面，在活动侧板朝向导向滑槽移动时，第一楔块部与齿体部直面接触；在活动侧板远离导向滑槽时，第一楔块部与齿体部斜面接触。
[0011]在一种可选方案中：所述下转动机构还包括固定柱和下限制盘，所述固定柱固定在外箱体底壁上且固定柱与转轴件轴线重合，下限制盘和上转动盘相对且两者相对面上均设置有一圈第二楔块部；第二楔块部上具有直面和斜面，下限制盘与外箱体底壁之间通过第二复位弹簧相连接；当上转动盘在活动侧板的作用下转动时，上转动盘上的第二楔块部与下限制盘上的第二楔块部处于斜面接触状态，转动的下限制盘能够推动下限制盘向下移动并压缩第二复位弹簧；当活动侧板回移时，在第二复位弹簧的回弹力作用下，下限制盘上移，并且上转动盘上的第二楔块部与下限制盘上的第二楔块部处于直面接触状态。
[0012]在一种可选方案中：所述支架体顶部还设置有与检测台相对应的下压件，所述下压件包括下压支架、下压气缸、压板和滚珠件，所述下压气缸设在支架体上且下压支架设在下压气缸的伸缩端上，压板设在下压支架远离下压气缸的端部，滚珠件设在压板与检测台相对的端面上，滚珠件在压板上能够自由转动。
[0013]在一种可选方案中：所述下压支架侧部还设置有延伸至检测组件上侧的外延杆，外延杆和下转动机构内部设置有限位器，支架体侧部设置有分别与动力组件及限位器电连接的控制面板。
[0014]相较于现有技术，本专利技术的有益效果如下：1、本专利技术中检测部件在上下移动时始终与待检测陶瓷外表面滚动接触并检测待检测陶瓷表面缺陷，检测部件能够沿着待检测陶瓷表面移动，从而使得对每个检测区域的画面清晰度相同。
[0015]2、本专利技术中检测部件沿着待检测陶瓷高度方向移动并进行检测，检测部件每走完一个检测行程，能够驱使待检测陶瓷自动转动一定角度，从而检测部件对待检测陶瓷另一区域进行检测，从而陶瓷表面可连续性进行缺陷检测，极大提高检测效率。
[0016]3、本专利技术结构简单，检测精确且待检测陶瓷能够根据检测部件移动位置自动旋转，从而连续性检测待检测陶瓷的整个外表面，检测效率较高。
附图说明
[0017]图1为本专利技术的一个实施例中的该检测装置整体结构示意图。
[0018]图2为本专利技术的一个实施例中的检测组件结构示意图。
[0019]图3为本专利技术的一个实施例中的检测台结构示意图。
[0020]图4为本专利技术的一个实施例中的下转动机构结构示意图。
[0021]附图标记注释：基板100、支架体110、待检测陶瓷200、检测台300、置物盘310、吸盘件320、夹固压杆330、夹固弹簧340、夹固滚轮350、避让缺口360、下转动机构400、外箱体410、转轴件420、固定柱430、第二复位弹簧431、上转动盘440、齿体部441、下限制盘450、第二楔块部451、活动侧板460、凹槽470、第一楔块部471、导向滑槽480、斜板件490、第一复位弹簧491、检测组件500、导引架510、检测部件520、抵触辊521、检测摄像头522、检测架523、导杆件530、顶压板540、抵触弹簧550、下压辊560、连接支臂570、动力丝杆件600、伺服电机610、螺旋块620、下压件700、下压支架710、下压气缸720、压板730、滚珠件740、外延杆750、限位器760、控制面板800。
具体实施方式
[0022]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明；在附图或说明中，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种陶瓷表面缺陷检测装置，包括基板、检测台和检测组件，所述基板上设置有下转动机构和支架体，其特征在于，所述检测台包括置物盘和吸盘件，所述置物盘设在下转动机构上且吸盘件转动设在置物盘中心处；吸盘件用于承托并固定待检测陶瓷的底部，吸盘件下端延伸至下转动机构内；检测组件滑动设在支架体上且支架体上设置有驱使检测组件纵向往复移动的动力组件；所述检测组件包括导引架和检测部件，所述导引架与动力组件相连且导引架上设置有一端向待检测陶瓷延伸的导杆件；检测部件设在导杆件指向待检测陶瓷的端部，检测部件通过滚动接触的方式与待检测陶瓷外壁接触；导杆件在导引架上水平滑动且导杆件远离待检测陶瓷的端部设有顶压板，顶压板与导引架之间通过抵触弹簧相连；所述检测部件移动至待检测陶瓷的底部时，导引架下端部能够与下转动机构相连，向下移动的导引架能够通过下转动机构驱使吸盘件旋转；所述检测部件包括抵触辊、检测摄像头和检测架，所述检测架与导杆件的端部转动连接；抵触辊为两个且对称设在检测架的两端部，所述检测摄像头设在检测架中部。2.根据权利要求1所述的陶瓷表面缺陷检测装置，其特征在于，所述动力组件包括动力丝杆件、伺服电机和螺旋块；动力丝杆件两端转动设在支架体上，伺服电机设在支架体顶部且伺服电机输出端与动力丝杆件端部相连；螺旋块滑动设在支架体上且动力丝杆件螺旋贯穿螺旋块；导引架通过连接支臂与螺旋块固定连接。3.根据权利要求1所述的陶瓷表面缺陷检测装置，其特征在于，所述置物盘的边侧部设置有避让缺口，所述避让缺口朝向置物盘中心的端部延伸至待检测陶瓷的底部；避让缺口的宽度大于检测部件的宽度。4.根据权利要求3所述的陶瓷表面缺陷检测装置，其特征在于，所述置物盘边缘部设置有侧板且侧板上设置有多个周向分布的侧压件；所述侧压件包括夹固压杆和夹固弹簧，夹固压杆一端与置物盘内壁铰接且夹固压杆中部通过夹固弹簧与置物盘内壁相连，夹固压杆另一端设置有夹固滚轮。5.根据权利要求1所述的陶瓷表面缺陷检测装置，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘利平，尹静涛，
申请(专利权)人：上海电子信息职业技术学院，
类型：发明
国别省市：
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