熔接装置以及纤芯位置确定方法制造方法及图纸

一个实施方式的熔接装置

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】熔接装置以及纤芯位置确定方法


[0001]本公开涉及熔接装置以及纤芯位置确定方法
。
[0002]本申请主张基于
2021
年3月
31
日的日本申请第
2021
－
061019
号的优先权，并援引记载于所述日本申请的全部记载内容
。

技术介绍

[0003]在专利文献1中记载了在熔接装置中确定光纤的种类的方法
。
熔接装置具备：一对放电电极，使一对光纤相互熔接；拍摄元件，对一对光纤进行拍摄；以及图像处理部，进行由拍摄元件拍摄到的一对光纤的图像处理
。
拍摄元件获取通过放电而被加热的状态的光纤的图像和未被加热的状态的光纤的图像
。
在图像处理部中，对被加热的状态的光纤的图像和未被加热的状态的光纤的图像进行图像处理，由此确定光纤的种类
。
[0004]在专利文献2中记载了在对光波导进行耦合的方法中确定光纤的纤芯的偏心率
。
在该方法中，通过对光波导进行加热，纤芯被激发而从纤芯放出可见光
。
根据所放出的可见光的强度分布来确定纤芯的位置
。
之后，通过照明部对光波导进行照射，测定照射到光波导的光的强度分布，由此确定包层的位置
。
根据确定出的纤芯的位置和包层的位置来确定光纤中的纤芯的偏心率
。
[0005]在专利文献3中记载了通过放电来对一对光纤进行加热的熔接装置
。
在熔接装置中，获取从通过放电而被加热的光纤的纤芯和包层产生的热发光的图像
。
纤芯的掺杂剂的浓度比包层的掺杂剂的浓度高
。
由此，获取到的热发光的亮度波形在纤芯的部分形成峰
。
该峰与光纤的
MFD(Mode Field Diameter
：模场直径
)
具有高的相关
。
在该熔接装置中，使用上述的亮度波形的峰与
MFD
具有高的相关，根据该亮度波形来求出光纤的
MFD。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：美国专利申请公开
2003/0164939
号说明书
[0009]专利文献2：日本特表
2008
－
519970
号公报
[0010]专利文献3：美国专利申请公开
2006/0051043
号说明书

技术实现思路

[0011]本公开的熔接装置是通过放电来将一对光纤之间相互熔接的熔接装置
。
熔接装置具备：放电电极，产生放电；显微镜，获取来自受到放电而被加热的光纤的亮度信息；分布信息获取部，获取表示光纤的径向上的位置与亮度信息的关系的分布信息；以及纤芯位置确定部，根据分布信息来确定光纤的纤芯的位置
。
显微镜隔开时间差地多次获取亮度信息
。
分布信息获取部根据多个亮度信息的每一个来获取分布信息
。
纤芯位置确定部以多个分布信息中的基于先获取到的亮度信息的分布信息的权重大于等于基于后获取到的亮度信息的分布信息的权重的方式进行加权，来确定光纤的纤芯的位置
。
[0012]本公开的纤芯位置确定方法是在通过放电来将一对光纤之间相互熔接时确定一
对光纤各自的纤芯的位置的纤芯位置确定方法
。
纤芯位置确定方法具备以下过程：产生放电；获取来自受到放电而被加热的光纤的亮度信息；获取表示光纤的径向上的位置与亮度信息的关系的分布信息；以及根据分布信息来确定光纤的纤芯的位置
。
在获取亮度信息的过程中，隔开时间差地多次获取亮度信息
。
在获取分布信息的过程中，根据多个亮度信息的每一个来获取分布信息
。
在确定纤芯的位置的过程中，以多个分布信息中的基于先获取到的亮度信息的分布信息的权重大于等于基于后获取到的亮度信息的分布信息的权重的方式进行加权，来确定光纤的纤芯的位置
。
附图说明
[0013]图1是用于对一个实施方式的熔接装置的概要进行说明的图
。
[0014]图2是表示用于对图1的熔接装置中的光纤进行观察的光学系统的图
。
[0015]图3是示意性地表示图2的光学系统的光源和显微镜与光纤的位置关系的图
。
[0016]图4是表示根据亮度图像而得到的光纤的径向上的位置与亮度的关系的亮度波形
。
[0017]图5是示意性地表示与向光纤的放电
、
光纤的观察以及分布信息的获取相关的构成的图
。
[0018]图6是示意性地表示光纤的径向上的位置与由发光产生的光纤的亮度图像的亮度的关系
(
分布信息
)
的图表
。
[0019]图7是表示一个实施方式的纤芯位置确定方法的过程的例子的流程图
。
具体实施方式
[0020]再者，在熔接装置中，在显微镜的分辨率不足的情况下，有时无法根据光纤的图像准确地确定纤芯的位置
。
在该情况下，在根据光纤的图像获取到亮度波形时，在该亮度波形中无法适当地得到峰的位置
。
其结果是，有时无法准确地确定光纤的纤芯的位置
。
因此，要求更高精度地确定光纤的纤芯的位置
。
[0021]本公开的目的在于提供能高精度地确定光纤的纤芯的位置的熔接装置以及纤芯位置确定方法
。
[0022][
本公开的实施方式的说明
][0023]首先，列举本公开的实施方式来进行说明
。
一个实施方式的熔接装置是通过放电来将一对光纤之间相互熔接的熔接装置
。
熔接装置具备：放电电极，产生放电；显微镜，获取从受到放电而被加热的光纤产生的亮度信息；分布信息获取部，获取表示光纤的径向上的位置与亮度信息的关系的分布信息；以及纤芯位置确定部，根据分布信息来确定光纤的纤芯的位置
。
显微镜隔开时间差地多次获取亮度信息
。
分布信息获取部根据多个亮度信息的每一个来获取分布信息
。
纤芯位置确定部以多个分布信息中的基于先获取到的亮度信息的分布信息的权重大于等于基于后获取到的亮度信息的分布信息的权重的方式进行加权，来确定光纤的纤芯的位置
。
在此，显微镜具备观察用透镜组和拍摄元件
。
[0024]一个实施方式的纤芯位置确定方法是在通过放电来将一对光纤之间相互熔接时确定一对光纤各自的纤芯的位置的纤芯位置确定方法
。
纤芯位置确定方法具备以下过程：产生放电；获取从受到放电而被加热的光纤产生的光的亮度信息；获取表示光纤的径向上
的位置与亮度信息的关系的分布信息；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种熔接装置，通过放电来将一对光纤之间相互熔接，所述熔接装置具备：放电电极，产生放电；显微镜，获取来自受到所述放电而被加热的光纤的亮度信息；分布信息获取部，获取表示所述光纤的径向上的位置与所述亮度信息的关系的分布信息；以及纤芯位置确定部，根据所述分布信息来确定所述光纤的纤芯的位置，所述显微镜隔开时间差地多次获取所述亮度信息，所述分布信息获取部根据多个所述亮度信息的每一个来获取所述分布信息，所述纤芯位置确定部以多个所述分布信息中的基于先获取到的所述亮度信息的分布信息的权重大于等于基于后获取到的所述亮度信息的分布信息的权重的方式进行加权，来确定所述光纤的纤芯的位置
。2.
根据权利要求1所述的熔接装置，其中，所述纤芯位置确定部以多个所述分布信息中的基于先获取到的所述亮度信息的分布信息的权重比基于后获取到的所述亮度信息的分布信息的权重大的方式进行加权
。3.
根据权利要求1或2所述的熔接装置，其中，所述显微镜隔开时间差地
n
次获取所述亮度信息，其中，
n
为3以上的自然数，所述分布信息获取部根据
n
个所述亮度信息的每一个来获取所述分布信息，所述纤芯位置确定部以基于在第

【专利技术属性】
技术研发人员：诹访贵洋，秋山弘树，大木一芳，
申请(专利权)人：住友电工光学前沿株式会社，
类型：发明
国别省市：