用于材料的共享数据感生质量控制系统技术方案

一种用于开发或改进从材料生产产品的工艺的方法，包括以下步骤：通过使用数据收集计算机

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于材料的共享数据感生质量控制系统


[0001]所公开的专利技术涉及一种用于在从一个或多个材料生产产品的工艺中确保产品质量的方法和系统
。
[0002]本专利技术属于工艺自动化
、
质量控制以及供应链优化的

。

技术介绍

[0003]现代生产工艺非常复杂，其受到原材料输入
、
设备和工具
、
人际互动等许多变量的影响
。
即使是最轻微的变化也能够导致成品中的严重的质量问题，导致产品劣质甚至滞销
。
这可能会导致生产商和
/
或客户无法接受的缺陷，特别是在诸如化学或制药等受到高度监管的行业
。
现有技术中有许多已知的方式来改进生产工艺并且确保所制造的产品的质量
。
如今，这些方法大多数都是数据驱动的，其中基于从生产工艺中收集的数据来监测和控制有关参数
。
[0004]这些方法中的一个是六西格码
(Six Sigma)
方法，该方法在控制阶段主要侧重于使用统计本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.
一种在用于从材料生产产品的工艺中的确保产品质量的方法，所述方法包括以下步骤：
·
通过使用数据收集计算机
(10)
，针对生产工艺
(3)
及其有关参数
(2)
从至少两个不同的来源获取原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
；
·
使用与所述生产工艺
(3)
相关的所获取的原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
，以便通过使用工艺映射计算机
(11)
来执行工艺映射步骤；
·
通过使用数据映射计算机
(12)
执行数据映射步骤，将与所述生产工艺的其分离的参数
(2)
相关的所获取的原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
分配给其对应的工艺部分
(3)
，以创建映射的工艺描述
(5)
；
·
利用在分析计算机
(13)
上执行的特定软件来分析由此映射的工艺描述
(5)
，从而识别和验证与所生产产品的质量相关的一个或多个现有特性
(8)
；以及
·
使用已识别和验证的特性
(8)
来选择最合适
、
可用的原材料数据
(21c)
以提高所得的产品质量
。2.
根据权利要求1所述的方法，其中，为了获取针对所述生产工艺
(3)
及其有关参数
(2)
的数据
(21
，
21a
，
21b)
，从数据库
(24a
，
24b
，
25)
检索所述原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
，所述数据库
(24a
，
24b
，
25)
被连接到所述数据收集计算机
(10)
，被通过使用数据收集设备观察所述工艺而创建，和
/
或由人类用户提供，所述数据收集设备尤其是传感器
。3.
根据权利要求2所述的方法，其中，获取所述数据
(21
，
21a
，
21b)
是在使用所识别和验证的特性
(8)
之后的当前施行期间和
/
或在所述工艺的先前施行期间完成的
。4.
根据权利要求1所述的方法，其中，通过描述所述生产工艺或其先前阶段的结构来执行所述工艺映射，包括必要的组件
、
工艺顺序或工艺步骤
、
成分
、
特别是所述原材料
(21)
等
。5.
根据权利要求1所述的方法，其中，通过将所获取的原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
，例如温度
、
所述原材料的混合比
、
时间等分配给其对应的工艺组件以及工艺顺序或步骤来执行所述数据映射
。6.
根据权利要求1所述的方法，其中，分析所述映射的工艺描述
(5)
是由使用监督算法
、
或使用监督和
/
或无监督算法的所述软件执行，所述监督算法包括具有数据模型
(6
，
7)
的数据分析框架，所述数据模型
(6
，
7)
使用如多变量分析的方案，所述多变量分析如
PLS
回归
、PCA、
随机森林
、XGBoost
和人工神经网络等
。7.
根据权利要求6所述的方法，其中，使用机械模型
、
基于物理的模型
、
基于
(
偏
)
微分方程的模型和基于量子化学计算的模型来执行分析所述数据
。8.
根据权利要求6或权利要求7所述的方法，其中，所述监督算法的所述结构是用来自所述工艺和数据映射的所述工艺描述的结果来训练所述
PLS
回归
、PCA、
随机森林
、XGBoost
和人工神经网络等的结果
。9.
根据权利要求1所述的方法，其中，
通过由在所述数据收集计算机
(10)
中输入该数据
(21
，
21a
，
21b)
的用户手动地，或者由在所述数据收集计算机
(10)
或连接到所述数据收集计算机的独立计算机上执行的数据收集软件自动地检查所述至少两个不同的来源
(16
，
17)
获取所述原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
，其中，所述数据收集软件将所述原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
传输到所述数据收集计算机
(10)。10.
根据权利要求9所述的方法，其中，使用至少两个不同的生产场所
(16
，
17)
作为至少两个不同的来源
(16
，
17)。11.
根据权利要求
10
所述的方法，其中，来自至少两个所涉及的生产场所
(16、17)
的所述原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
包括特定质量参数或金属杂质和纯度水平
、
如温度
、
压力
、
流量的工艺中数据和
/
或
P&ID
图表
(4)。12.
根据权利要求1所述的方法，其中，实现用户界面，所述用户界面在应用所执行的所述特定软件之前使用在所述分析计算机
(13)
上的数据平台对所获取的原材料数据
(21
，
21a
，
21b)
进行预处理并且将所述结果写入到数据库，专用仪表板从所述数据库检索所述数据以将其提供给所述用户以用于执行原材料审核
。13.
根据权利要求
12
所述的方法，其中，所述用户界面显示不同原材料对特定质量测量的预测的贡献，以指示最相关的原材料
。14.
根据权利要求1所述的方法，其中，所述生产工艺是使用化学机械平坦化的半导体器件制造工艺
。15.
一种用于开发或改进从材料生产产品的工艺的系统
(15)
，所述系统包括：
·
数据收集计算机
(10)
，所述数据收集计算机
(10)
具有被连接的数据库
(24a
，
24b
，
25)
和
/
或至少两个生产场所
(16、17)
，所述数据收集计算机
(10)
用于从所述至少两个生产场所
(16、17)
获取针对所述生产工艺
(3)
及其有关参数
...

【专利技术属性】
技术研发人员：萨法，
申请(专利权)人：慧瞻材料美国有限责任公司，
类型：发明
国别省市：