【技术实现步骤摘要】
一种基于电子限度样的显示屏亮点检测方法及系统
[0001]本专利技术涉及显示屏
,具体涉及一种基于电子限度样的显示屏亮点检测方法及系统。
技术介绍
[0002]显示屏行业中,有一项亮点卡控,即在生产制造的显示屏中有时候会有一个小小的亮点缺陷,行业内一般是和客户一起确认具体亮点,然后签下某个亮点样品作为限度样。在以后的生产制造过程中的样品如果出现的亮点比限度样的大的情况就会被判定NG品,比限度样小的样品判定为OK品。以上,亮点限度样是从实际亮点产品中挑选出来的,不仅挑选限度样的流程繁琐,而且不同项目不同时间段挑选出来的限度样的亮点大小亮暗也不一定相同,而且限度样的亮度也可能在放置几个月后出现变化。
技术实现思路
[0003]本专利技术提出一种基于电子限度样的显示屏亮点检测方法及系统,旨在部分解决现有技术存在的问题。
[0004]具体的,本专利技术提出以下技术方案:
[0005]第一方面,提出一种基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,包括:
[0006]显示模块写出一个全黑画面,然后在 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,包括:显示模块写出一个全黑画面,然后在所述全黑画面中,打开至少四个像素点,所述四个像素点分别是第一像素点、第二像素点、第三像素点及第四像素点;所述第一像素点为白像素点,呈现白色;所述第二像素点为红像素点,呈现红色;所述第三像素点为蓝像素点,呈现蓝色;所述第四像素点为绿像素点,呈现绿色;以上为所述显示屏亮点检测的电子限度样,其中,所述四个像素点作为标准点,模拟缺陷显示屏的亮点,用作判定标准;点亮待测显示屏,所述待测显示屏亮点与所述标准点进行对比,若所述待测显示屏的亮点比所述标准点大或亮,判定为不合格品,所述显示屏弹窗显示“NG”;点亮待测显示屏,所述待测显示屏亮点与所述标准点进行对比,若所述待测显示屏的亮点比所述标准点小或暗,判定为合格品,所述显示屏弹窗显示“OK”;其中,所述标准点的大小值、亮暗值能够通过调节像素点的灰阶来进行调整。2.根据权利要求1所述的基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,所述至少四个像素点位于所述全黑画面的四个边角。3.根据权利要求2所述的基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,所述第一像素点与所述第二像素点,所述第三像素点与所述第四像素点分别在所述全黑画面的对角线位置上。4.根据权利要求3所述的基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,所述四个像素点呈四个方形点。5.根据权利要求1所述的基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,所述待测显示屏亮点与所述标准点进行对比,当判定为不合格品时,在所述待测显示屏上弹窗显示该显示屏的缺陷信息,所述缺陷信息包括亮点的亮度值以及亮点的大小值信息。6.根据权利要求5所述的基于电子限度样的显示屏亮点检测方法,其特征在于,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨磊,魏玲枫,樊劼,
申请(专利权)人:信利光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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