用于校准和控制显示装置的方法和系统制造方法及图纸

技术编号:39328294 阅读:10 留言:0更新日期:2023-11-12 16:05
提供了一种用于控制显示装置的显示面板上的图像的显示的方法,所述方法包括:确定针对所述显示面板的命令亮度等级;基于所述显示面板的每个像素针对多个亮度等级中的每个亮度等级的像素输出和像素值之间的关系以及所述亮度等级,生成索引查找表(LUT)和mura LUT,所述关系是在校准阶段期间确定的并且存储在所述显示装置的存储器中;基于所述索引LUT确定所述显示面板的每个像素的索引值;基于所述mura LUT和所述索引值确定每个像素的经校正的像素值;以及将所述经校正的像素值发送到所述显示装置内的所述像素。述显示装置内的所述像素。述显示装置内的所述像素。

【技术实现步骤摘要】
用于校准和控制显示装置的方法和系统


[0001]本文公开的主题的实施方案涉及发射型数字显示屏领域。

技术介绍

[0002]多年来,数字计算机监视器的质量不断提高,并在基础技术方面发生了广泛的变化。阴极射线管(CRT)监视器已被诸如液晶显示器(LCD)和发光二极管(LED)等日益先进的平板显示技术迅速取代。目前的技术进步已使得有机LED(OLED)显示器越来越突出,特别是在诸如移动电话等便携式装置领域。
[0003]所有类型的现代数字显示器通过像素网格合成图像;每个像素包含三个子像素:红色、绿色和蓝色(RGB)。通过改变每个子像素中光的相对强度,可以得到各种各样的颜色和亮度值。在一些显示技术中,每个子像素的亮度是通过改变有源部件两端的电压来控制的。在诸如LED和OLED等其他显示技术中,亮度是通过改变流经有源部件的电流来控制的。

技术实现思路

[0004]本文公开的实施方案用于计算对显示面板的像素值和亮度等级的校正,以帮助减少由发射型显示器中的非线性行为引起的颜色伪影。
[0005]应理解,提供上面的简要描述是为了以简化的形式介绍将在具体实施方式中进一步描述的概念选择。这并不意味着识别要求保护的主题的关键或必要特征,所述要求保护的主题的范围由随附于具体实施方式的权利要求书唯一地限定。此外,要求保护的主题不限于解决上述或本公开的任何部分中提到的任何缺点的实现方式。
附图说明
[0006]图1示出了计算装置、面板和校准装置的图。
[0007]图2示出了OLED装置的示例性控制电路的图。
[0008]图3示出了PWM曲线的两个曲线图。
[0009]图4示出了具有OLED面板的两个响应的曲线图。
[0010]图5示出了根据实施方案的校准OLED面板的方法。
[0011]图6示出了在计算装置中实现校准期间生成的OLED校正的方法。
[0012]图7示出了可用于校正OLED响应的LUT的图。
[0013]图8示出了两种不同校准技术在不同像素值下的颜色差异的第一曲线图。
[0014]图9示出了两种不同校准技术在不同像素值下的颜色差异的第二曲线图。
具体实施方式
[0015]发射型显示技术的小型化已经比诸如液晶显示(LCD)技术等更传统的透射型显示技术越来越普遍。特定来说,发光二极管(LED)和有机LED(OLED)技术正在诸如电视和移动电话等各种装置中稳步取代LCD技术。
[0016]OLED显示器因其高亮度和几乎无限的对比度(例如,显示器可产生的最亮白色的发光与显示器可产生的最暗黑色的发光之间的比率)而持续受到欢迎。OLED显示器通过作为允许完全关闭各个像素的发射型显示器而获得性能提升。另一方面,LCD显示器是透射型显示器,其中液晶用于阻挡背光的透射,这在实践中可能导致不完美的黑色着色和低对比度(例如,因为与大多数发射型显示器的最暗的可能黑色相比,最暗的可能黑色仍然相对明亮)。LCD与OLED之间的另一个关键差异是LCD使用电压来设置光输出(例如发光),而OLED使用电流来设置光输出。使用电流使显示器对制造过程中的变化更加敏感。通过不同显示器中灰色的变化,甚至同一显示器内的不同像素中灰色的变化,可以明显观察到制造过程中影响电流穿过显示元件的变化。当对于发送到显示控制器的相同控制信号,在同一显示器内可见亮度和灰色发生改变时,这种差异被称为“mura”。mura是一个日语单词,意思是不均匀或缺乏一致性。
[0017]发射型彩色显示器是通过使用诸如二极管等装置形成的,其中流经二极管的电子从较高能态转变到较低能态。能量的改变释放出光子。这最常见的示例是LED。当电子穿过带隙(即高能态和低能态之间的能隙)时,其释放出光子,该光子的频率与带隙电压有关。OLED的行为方式类似(在方式更复杂的情形下)。仅当LED两端的电压高于阈值时,电流才流动,且装置才会发射光。一旦达到阈值,电流就开始流动,并且光输出与电流大致成比例。然而,光输出不会随OLED两端的电压发生线性变化,因为穿过OLED的电流与OLED两端的电压之间存在非线性关系。因此,可以通过直接控制穿过OLED的电流来控制OLED控制电路以改变亮度输出。
[0018]穿过OLED的电流可以经由显示驱动器集成电路(DDIC)进行控制,该DDIC通过编程流经每个OLED的电流来直接驱动OLED中的每个OLED。通常,所有OLED都可以在短时间帧(例如,小于1/60秒)内编程。电流,以及因此光输出,经由发送到OLED显示器的DDIC的两个参数进行控制:单个像素输出和整体显示输出。单个像素利用与像素值(PV)相关的电流进行编程。整体显示亮度由输入到DDIC中的亮度等级(BL)指定。输入到DDIC中的BL调整可以由DDIC通过改变像素值与流经DDIC的电流之间的关系和/或通过使用脉冲宽度调制(PWM)波形同时打开或关闭面板中的所有像素来表示。在一些示例中,BL与PWM波形的占空比(例如PWM输出期望电流量的每周期时间量)有关。理想情况下,BL的改变应该均匀地增加或减少面板上所有像素的可见亮度,从而保留不同PV之间的亮度比率。例如,无论显示器的整体亮度等级如何,PV=16和PV=128的输出之间的比率理想情况下应保持不变。然而,如下所述,mura和色偏是OLED显示器的常见问题,尤其是当在整体亮度等级较低的情况下操作时。mura和色偏是由多种不理想的操作条件引起的。
[0019]为了通过OLED(或几乎任何其他)显示技术形成彩色图像,面板内的每个像素可以分为三个子像素:红色、绿色和蓝色(统称为“RGB”)。通过改变这些子像素中的每个子像素的相对强度,每个像素可以复制各种颜色的外观。OLED显示器中非理想行为的另一个源是红色、绿色和蓝色子像素之间的不均匀电流响应;相对于同一电流,不同颜色的子像素可能具有不同的行为。
[0020]因此,根据本文公开的实施方案,mura和/或色偏可以通过对输入到DDIC中的PV应用校正来解决,使得在DDIC对每个像素进行编程后,可以在面板中观察到均匀的亮度和不太严重的色偏。如下文所进一步详细描述,可生成多个查找表(LUT)以对PV应用校正,这也
取决于BL。
[0021]计算装置可用的一组LUT也可能因面板而异。因此,公开了一种用于校准mura和/或色偏校正的查找表的方法,其中LUT校准是通过对从面板发射的可见亮度执行多次测量来执行的。
[0022]图1示出了对应于计算装置102与面板120之间的接口的示例性图100,该面板可以是本文所述的实施方案中的OLED显示器。
[0023]计算装置102可以包括几乎任何数字计算技术,包括但不限于便携式计算机、移动电话、彩色电视机等。计算装置102包括存储器104和一个或多个处理器106。存储器104可以包括易失性存储器(例如随机存取存储器(RAM))和/或非易失性存储器(例如硬盘驱动器(HDD))。处理器106可以包括一个或多个中央处理单元(CPU),其能够被配置为执行存本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于控制显示装置的显示面板上的图像的显示的方法,所述方法包括:确定针对所述显示面板的命令亮度等级;基于所述显示面板的每个像素针对多个亮度等级中的每个亮度等级的像素输出和像素值之间的关系以及所述亮度等级,生成索引查找表(LUT)和mura LUT,所述关系是在校准阶段期间确定的并且存储在所述显示装置的存储器中;基于所述索引LUT确定所述显示面板的每个像素的索引值;基于所述显示面板的每个像素的对应索引值、所述像素的像素值以及所述mura LUT确定所述像素的mura值,其中所述像素的所述像素值是基于所述图像而确定的;以及将每个像素的经校正的像素值发送到所述显示面板。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述经校正的像素值是所述mura LUT的输出值,或者,所述经校正的像素值包括由所述mura LUT的输出值校正的像素值。3.根据权利要求1所述的方法,其中基于所述索引LUT确定所述显示面板的每个像素的索引值包括将所述图像的每个空间位置输入到所述索引LUT中,并且其中所述索引LUT被配置为输出针对每个空间位置的对应索引值。4.根据权利要求3所述的方法,所述方法还包括:对于不直接对应于所述索引LUT的相应空间位置的每个像素,对来自所述索引LUT的两个或更多个索引值执行插值。5.根据权利要求1所述的方法,其中基于所述显示面板的每个像素的对应索引值、所述像素的像素值以及所述mura LUT确定所述像素的mura值包括:作为输入将每个像素的所述对应索引值和每个像素的所述像素值输入到所述mura LUT中,并且其中所述mura LUT被配置为输出针对每个索引值和像素值的对应mura值。6.根据权利要求1所述的方法,其中所述关系是在所述校准阶段期间通过以下方式确定的:命令所述显示面板在一个或多个亮度值中的每个亮度值下在多个不同的像素值下进行操作,并且其中所述关...

【专利技术属性】
技术研发人员:衣文文施海燕N
申请(专利权)人:逐点半导体上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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