数据的校验处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种数据的校验处理方法及装置，该方法包括：获取需要进行校验的数据；根据生成多项式获得第一多项式矩阵Ｆ；根据Ｆｉ＝Ｆｉ获得第二生成多项式矩阵Ｆｉ，其中，ｉ是数据的位数；由第二生成多项式矩阵Ｆｉ、初始ＣＲＣ寄存器值Ｘ（０）和数据生成数据的ＣＲＣ校验码；以及将数据和ＣＲＣ校验码发送给接收方，以便接收方对数据进行校验。通过本发明专利技术，解决了现有技术中需校验的数据位数不是２的ｎ次幂而产生的寄存器负担增加的问题，进而达到了减少寄存器负担的效果。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种数据的校验处理方法，其特征在于，包括：获取需要进行校验的数据；根据生成多项式获得第一多项式矩阵Ｆ；根据Ｆ↓［ｉ］＝Ｆ↑［ｉ］获得第二生成多项式矩阵Ｆ↓［ｉ］，其中，ｉ是所述数据的位数；由所述第二生成多项式矩阵Ｆ↓［ｉ］、初始循环冗余校验ＣＲＣ寄存器值Ｘ（０）和所述数据生成所述数据的ＣＲＣ校验码；以及将所述数据和所述ＣＲＣ校验码发送给接收方，用于所述接收方对所述数据进行校验。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卢鹏，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]