超大电流光CT温度补偿系统、方法、设备及可读介质技术方案

本申请提供了一种近超大电流光CT温度补偿系统、方法、设备及介质，系统包括光CT测量模块，所述光CT测量模块用于将电流信号转变成光信号；温度传感器模块，所述温度传感器模块用于采集所述光CT测量模块的温度数据；TEC温度补偿模块，所述TEC模块用于根据所述光CT测量模块的温度数据，对所述光CT测量模块进行温度补偿。通过光CT测量模块将电流信号转换为光信号，并结合温度传感器模块和TEC温度补偿模块，该系统能够实现对近超大电流的准确测量，并对温度变化进行补偿，提高测量的精确度和稳定性。这种系统在工业电解等领域中具有重要应用价值。价值。价值。

【技术实现步骤摘要】
超大电流光CT温度补偿系统、方法、设备及可读介质


[0001]本申请涉及电流测量
，尤其涉及一种超大电流光CT温度补偿系统、方法、设备及可读介质。

技术介绍

[0002]工业电解领域中的超大直流电流测量是至关重要的，因为它直接关系到电解槽的电流效率。然而，传统的测量装置存在一系列问题，限制了其在超大电流测量中的应用。这些问题包括测量精度低、功耗大、结构复杂、维护困难和稳定性差等。为了解决这些问题，许多发达国家正在致力于开发新的技术和装置。在这方面，光CT作为一种应用于超大电流测量的技术具有很大的潜力。它具有功耗小、结构简单和安装方便等优势，因此备受关注。然而，尽管光CT具有很多优势，温度对其测量精度的影响是一个不可忽视的问题。当高电流通过测量装置时，会产生大量热量，导致温度升高。而温度的变化会对光CT的测量精度产生影响，因此需要采取措施来补偿这种影响。
[0003]目前的技术尚未能在全温度范围内满足更高的0.1％精度要求。这意味着在极端温度条件下，光CT的测量精度可能无法满足工业电解领域的要求。因此，研究人员和工程师们需要继续努力，探索新的温度补偿方法和技术，以提高光CT测量的精确性和稳定性。

技术实现思路

[0004]本申请的一个目的是提供一种超大电流光CT温度补偿系统、方法、设备及可读介质，至少用以使得该系统可以克服温度对超大电流光CT测量精度的影响，从而满足更高精度的要求。
[0005]为实现上述目的，本申请的一些实施例提供了一种超大电流光CT温度补偿系统，所述系统包括光CT测量模块，所述光CT测量模块用于将电流信号转变成光信号；温度传感器模块，所述温度传感器模块用于采集所述光CT测量模块的温度数据；TEC温度补偿模块，所述TEC模块用于根据所述光CT测量模块的温度数据，对所述光CT测量模块进行温度补偿。
[0006]进一步地，所述光CT测量模块包括：传感光纤、超大电流母排、1/4波片和反射镜。
[0007]进一步地，所述传感光纤围绕所述超大电流母排布置，所述传感光纤经过所述1/4波片和所述反射镜。
[0008]进一步地，所述温度传感模块包括多个温度传感器，将所述多个温度传感器设置在围绕所述超大电流母排的传感光纤上，用于采样所述传感光纤不同位置的温度数据。
[0009]进一步地，所述对所述光CT测量模块进行温度补偿包括：对所述光CT测量模块的温度数据进行求和平均，得到有效温度数据；将所述有效温度数据输入温度补偿算法，得到温度补偿数据；所述TEC温度补偿模块根据温度补偿数据，对所述光CT测量模块进行温度补偿。
[0010]进一步地，所述TEC温度补偿模块包括：TEC控制板，所述TEC控制板用于根据所述光CT测量模块的温度数据，对TEC恒温单元进行控制；TEC恒温单元，所述TEC恒温单元用于
吸热或排热，维持所述光CT测量模块的温度。
[0011]进一步地，所述系统还包括：将所述1/4波片和所述反射镜封装在密闭腔中；所述密闭腔包括导热支柱、反射镜放置铜管和1/4波片放置槽；所述导热支柱用于传导和分散热量，保持所述光CT测量模块的热量分布均匀；所述反射镜放置铜管用于放置所述反射镜；所述1/4波片放置槽用于放置所述1/4波片；通过所述TEC恒温单元对所述密闭腔进行恒温控制。
[0012]本申请的一些实施例还提供了一种超大电流光CT温度补偿方法，所述方法包括：获取所述所述光CT测量模块的温度数据，对所述温度数据进行求和平均，得到有效温度数据；根据所述有效温度数据，得到温度补偿数据；根据所述温度补偿数据，控制所述TEC温度补偿模块对所述光CT测量模块进行温度补偿。
[0013]本申请的一些实施例还提供了一种超大电流光CT温度补偿设备，所述设备包括：一个或多个处理器；以及存储有计算机程序指令的存储器，所述计算机程序指令在被执行时使所述处理器执行如上所述的方法。
[0014]本申请的一些实施例还提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令可被处理器执行以实现所述的近超大电流光CT温度补偿方法。
[0015]相较于现有技术，本申请实施例提供的方案中，一种超大电流光CT温度补偿系统，该系统包括光CT测量模块，用于将电流信号转换为光信号，该模块通过光学传感技术实现电流的测量，具有功耗小、结构简单和安装方便等优势；温度传感器模块，用于采集光CT测量模块的温度数据，该模块包括多个温度传感器，分布在不同位置，以获取光CT测量模块的温度信息；TEC温度补偿模块，根据光CT测量模块的温度数据，对其进行温度补偿，该模块采用热电致冷(TEC)技术，包括TEC控制板、TEC恒温单元和导热支柱等组件。TEC恒温单元可以控制光CT测量模块的温度，以补偿温度引起的测量误差。通过本系统，可以实现对超大电流的精确测量，并在测量过程中对温度变化进行补偿。温度传感器模块采集的数据被用于计算温度补偿值，然后通过TEC温度补偿模块对光CT测量模块进行温度调节，以提高测量的精度和稳定性。这种超大电流光CT温度补偿系统的引入，可以有效克服温度对测量精度的影响，提高测量的准确性和可靠性。同时，由于光CT技术本身具有功耗小、结构简单和安装方便等特点，使得该系统在工业电解领域具有广阔的应用前景。
附图说明
[0016]图1为本申请实施例提供的一种超大电流光CT温度补偿系统的结构示意图；
[0017]图2为本申请实施例提供的又一种超大电流光CT温度补偿系统的结构示意图；
[0018]图3为本申请实施例提供的又一种超大电流光CT温度补偿方法的流程示意图；
[0019]图4本申请实施例提供的一种超大电流光CT温度补偿设备的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]本申请旨在提高工业电解领域中超大直流电流测量的精度。目前存在多种测量槽电流的装置，但它们存在一些问题，如测量精度低、功耗大、结构复杂维护困难和稳定性差等。许多发达国家正致力于解决这些问题。光CT是一种应用于超大电流测量的技术，具有功耗小、结构简洁和安装方便等优点。然而，温度对测量精度的影响是一个不可忽视的问题。现有技术在全温度范围内仅能满足0.5％的精度指标。本申请的目标是提高光CT在超大电流测量中的精度，使其能够满足全温度范
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45℃～70℃下0.1％的精度指标。通过解决温度对测量精度的影响，本专利技术将使得超大电流测量更加准确和可靠。
[0022]本申请实施例提供了一种超大电流光CT温度补偿系统，所述系统包括：光CT测量模块，所述光CT测量模块用于将电流信号转变成光信号；温度传感器模块，所述温度传感器模块用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超大电流光CT温度补偿系统，其特征在于，所述系统包括：光CT测量模块，所述光CT测量模块用于将电流信号转变成光信号；温度传感器模块，所述温度传感器模块用于采集所述光CT测量模块的温度数据；TEC温度补偿模块，所述TEC模块用于根据所述光CT测量模块的温度数据，对所述光CT测量模块进行温度补偿。2.根据权利要求1所述光CT温度补偿系统，其特征在于，所述光CT测量模块包括：传感光纤、超大电流母排、1/4波片和反射镜。3.根据权利要求2所述光CT温度补偿系统，其特征在于，所述传感光纤围绕所述超大电流母排布置，所述传感光纤经过所述1/4波片和所述反射镜。4.根据权利要求2所述光CT温度补偿系统，其特征在于，所述温度传感模块包括多个温度传感器，将所述多个温度传感器设置在围绕所述超大电流母排的传感光纤上，用于采样所述传感光纤不同位置的温度数据。5.根据权利要求1所述光CT温度补偿系统，其特征在于，所述对所述光CT测量模块进行温度补偿包括：对所述光CT测量模块的温度数据进行求和平均，得到有效温度数据；将所述有效温度数据输入温度补偿算法，得到温度补偿数据；所述TEC温度补偿模块根据温度补偿数据，对所述光CT测量模块进行温度补偿。6.根据权利要求1所述光CT温度补偿系统，其特征在于，所述TEC温度补偿模块包括：TEC控制板，所述TEC控制板用于根据所述光...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐叶，沈静，郭明亮，顾恩捷，江唯思，刘炳欣，
申请(专利权)人：上海润京能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：